公开(公告)号：US08176400B2

公开(公告)日：2012-05-08

申请号：US12556180

申请日：2009-09-09

申请人： Weijun Tan ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song ,  Richard Rauschmayer

发明人： Weijun Tan ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song ,  Richard Rauschmayer

IPC分类号： H03M13/00

CPC分类号： H04L1/0057 ,  H04L1/0045

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for flaw scan in a data processing system. As one example, a data processing system is disclosed that includes a data detector circuit, a bit sign inverting circuit, and an LDPC decoder circuit. The data detector circuit receives a verification data set that is an invalid LDPC codeword, and applies a data detection algorithm to the verification data set to yield a detected output. The bit sign inverting circuit modifies the sign of one or more elements of a first derivative of the detected output to yield a second derivative of the detected output. The second derivative of the detected output is an expected valid LDPC codeword. The LDPC decoder circuit applies a decoding algorithm to the second derivative of the detected output to yield a decoded output.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供了在数据处理系统中的缺陷扫描的系统和方法。 作为一个示例，公开了包括数据检测器电路，位符号反相电路和LDPC解码器电路的数据处理系统。 数据检测器电路接收作为无效LDPC码字的验证数据集，并将数据检测算法应用于验证数据集以产生检测到的输出。 位符号反相电路修改检测输出的一阶导数的一个或多个元素的符号，以产生检测到的输出的二阶导数。 所检测的输出的二阶导数是期望的有效LDPC码字。 LDPC解码器电路将解码算法应用于检测输出的二阶导数，以产生解码输出。

公开(公告)号：US07990642B2

公开(公告)日：2011-08-02

申请号：US12425757

申请日：2009-04-17

申请人： Yuan Xing Lee ,  George Mathew ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song ,  Weijun Tan ,  Hao Zhong

发明人： Yuan Xing Lee ,  George Mathew ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song ,  Weijun Tan ,  Hao Zhong

IPC分类号： G11B27/36

CPC分类号： G11B20/182 ,  G11B2220/2516

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for validating elements of storage devices. A an example, various embodiments of the present invention provide semiconductor devices that include a write path circuit, a read path circuit and a validation circuit. The write path circuit is operable to receive a data input and to convert the data input into write data suitable for storage to a storage medium. The read path circuit is operable to receive read data and to convert the read data into a data output. The validation circuit is operable to: receive the write data, augment the write data with a first noise sequence to yield a first augmented data series; and augment a derivative of the first augmented data series with a second noise sequence to yield the read data.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供用于验证存储设备的元件的系统和方法。 作为示例，本发明的各种实施例提供包括写入路径电路，读取路径电路和验证电路的半导体器件。 写入路径电路可操作用于接收数据输入并将数据输入转换成适合于存储的写数据到存储介质。 读路径电路可操作以接收读数据并将读数据转换为数据输出。 验证电路可操作以：接收写入数据，用第一噪声序列增加写入数据以产生第一增强数据序列; 并且用第二噪声序列来增加第一增强数据序列的导数以产生读取的数据。

公开(公告)号：US20100226033A1

公开(公告)日：2010-09-09

申请号：US12399713

申请日：2009-03-06

申请人： Weijun Tan ,  Hongwei Song ,  Shaohua Yang

发明人： Weijun Tan ,  Hongwei Song ,  Shaohua Yang

IPC分类号： G11B5/09

CPC分类号： G11B5/09 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10046 ,  G11B20/10055 ,  H03M13/3905

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for detecting storage medium defects. As one example, a media defect detection system is disclosed that includes a data detector circuit that applies a detection algorithm to the data input and provides a hard output and a soft output. A first circuit combines a first derivative of the hard output with a derivative of the data input to yield a first combined signal. A second circuit combines a second derivative of the hard output with a derivative of the first combined signal to yield a second combined signal. A third circuit combines a derivative of the soft output with the second combined signal and a threshold value to yield a defect signal.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供了用于检测存储介质缺陷的系统和方法。 作为一个示例，公开了一种媒体缺陷检测系统，其包括将检测算法应用于数据输入并提供硬输出和软输出的数据检测器电路。 第一电路将硬输出的一阶导数与数据输入的导数组合以产生第一组合信号。 第二电路将硬输出的二阶导数与第一组合信号的导数组合以产生第二组合信号。 第三电路将软输出的导数与第二组合信号和阈值组合以产生缺陷信号。

公开(公告)号：US07712008B2

公开(公告)日：2010-05-04

申请号：US11341963

申请日：2006-01-26

申请人： Hongwei Song ,  Weijun Tan

发明人： Hongwei Song ,  Weijun Tan

IPC分类号： H03M13/00

CPC分类号： H03M13/29 ,  G11B20/10296 ,  G11B20/1833 ,  G11B2020/1836 ,  H03M13/098 ,  H03M13/1515 ,  H03M13/3746 ,  H03M13/6331

摘要： Various systems and methods for error reduction in a digital information system are disclosed herein. As one example, a digital storage system is provided that includes a soft output Viterbi algorithm channel detector operable to receive an encoded data set, and to provide a hard and a soft output representing the encoded data set. The hard and the soft output from the soft output Viterbi algorithm channel detector are provided to a single parity row decoder that provides another hard output that is an error reduced representation of the encoded data set. The encoded data set is additionally provided from the buffer to another channel detector via a delay element. The hard output from the single parity row decoder and the time shifted encoded data set are provided to coincident with each other to another channel detector.

摘要翻译： 本文公开了用于数字信息系统中的差错减少的各种系统和方法。 作为一个示例，提供了数字存储系统，其包括软输出维特比算法信道检测器，其可操作以接收编码数据集，并提供表示编码数据集的硬和软输出。 来自软输出维特比算法信道检测器的硬和软输出被提供给单个奇偶校验行解码器，其提供作为编码数据集的错误减少表示的另一硬输出。 编码数据集通过延迟元件从缓冲器附加地提供给另一个通道检测器。 提供来自单个奇偶校验行解码器和时移编码数据组的硬输出以彼此重合到另一个通道检测器。

公开(公告)号：US20100091629A1

公开(公告)日：2010-04-15

申请号：US12287959

申请日：2008-10-15

申请人： Weijun Tan ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song

发明人： Weijun Tan ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song

IPC分类号： G11B27/36

CPC分类号： H03M13/1128 ,  H03M13/17

摘要： The present invention is a device for detecting short burst errors. The device includes a first signal input, wherein the first signal input is configured to receive a first signal. The device includes a second signal input, wherein the second signal input is configured to receive a second signal. The device includes a logic gate, wherein the logic gate is operable for receiving the first signal vial the first signal input, receiving the second signal via the second signal input, and generating a logic output gate signal based on the received first signal and the second signal. Furthermore, the device includes a filter, wherein the filter is configured for receiving the logic output gate signal from the logic gate and generates a filter output signal based upon the received logic output gate signal, wherein the filter output signal is operable for flagging errors.

摘要翻译： 本发明是用于检测短脉冲串错误的装置。 该设备包括第一信号输入，其中第一信号输入被配置为接收第一信号。 该设备包括第二信号输入，其中第二信号输入被配置为接收第二信号。 该装置包括逻辑门，其中逻辑门可操作用于接收第一信号输入端，第一信号输入端，经由第二信号输入端接收第二信号，并根据接收到的第一信号和第二信号产生逻辑输出门信号 信号。 此外，该器件包括滤波器，其中滤波器被配置为从逻辑门接收逻辑输出门信号，并且基于接收的逻辑输出门信号产生滤波器输出信号，其中滤波器输出信号可用于标记误差。

公开(公告)号：US20120254679A1

公开(公告)日：2012-10-04

申请号：US13495922

申请日：2012-06-13

申请人： Weijun Tan ,  Hongwei Song ,  Shaohua Yang

发明人： Weijun Tan ,  Hongwei Song ,  Shaohua Yang

IPC分类号： G11C29/08 ,  G06F11/26

CPC分类号： G11B5/09 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10046 ,  G11B20/10055 ,  H03M13/3905

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for detecting storage medium defects. As one example, a media defect detection system is disclosed that includes a data detector circuit that applies a detection algorithm to the data input and provides a hard output and a soft output. A first circuit combines a first derivative of the hard output with a derivative of the data input to yield a first combined signal. A second circuit combines a second derivative of the hard output with a derivative of the first combined signal to yield a second combined signal. A third circuit combines a derivative of the soft output with the second combined signal and a threshold value to yield a defect signal.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供了用于检测存储介质缺陷的系统和方法。 作为一个示例，公开了一种媒体缺陷检测系统，其包括将检测算法应用于数据输入并提供硬输出和软输出的数据检测器电路。 第一电路将硬输出的一阶导数与数据输入的导数组合以产生第一组合信号。 第二电路将硬输出的二阶导数与第一组合信号的导数组合以产生第二组合信号。 第三电路将软输出的导数与第二组合信号和阈值组合以产生缺陷信号。

公开(公告)号：US20110080211A1

公开(公告)日：2011-04-07

申请号：US12992948

申请日：2009-04-17

申请人： Shaohua Yang ,  Yuan Xing Lee ,  Richard Rauschmayer ,  Hongwei Song ,  Jingfeng Liu ,  Weijun Tan

发明人： Shaohua Yang ,  Yuan Xing Lee ,  Richard Rauschmayer ,  Hongwei Song ,  Jingfeng Liu ,  Weijun Tan

IPC分类号： H03K5/00

CPC分类号： G11B20/24 ,  G11B20/10037 ,  G11B20/10194 ,  G11B20/10527 ,  G11B20/1833 ,  G11B20/1879 ,  G11B2020/1062 ,  G11B2020/10685 ,  G11B2020/10694 ,  G11B2020/10759 ,  G11B2020/183 ,  G11B2020/185 ,  G11B2220/2516 ,  H03M13/1105 ,  H03M13/2948 ,  H03M13/3746 ,  H03M13/6343 ,  H04L1/005 ,  H04L1/0057

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for data processing. For example, some embodiments of the present invention provide noise reduced data processing circuits. Such circuits include a selector circuit, a sample set averaging circuit, and a data detection circuit. The selector circuit provides either a new sample set or an averaged sample set as a sample output based on a select control signal. The sample set averaging circuit receives the new sample set and provides the averaged sample set. The averaged sample set is based upon two or more instances of the new sample set. The data detection circuit receives the sample output, and performs a data detection algorithm on the sample output and provides the select control signal and a data output.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供了用于数据处理的系统和方法。 例如，本发明的一些实施例提供降噪数据处理电路。 这种电路包括选择器电路，采样组平均电路和数据检测电路。 选择器电路基于选择控制信号提供新的采样集或平均采样集作为采样输出。 样本集平均电路接收新的样本集并提供平均的样本集。 平均采样集基于新样本集的两个或多个实例。 数据检测电路接收采样输出，对采样输出执行数据检测算法，提供选择控制信号和数据输出。

公开(公告)号：US20110058631A1

公开(公告)日：2011-03-10

申请号：US12556180

申请日：2009-09-09

申请人： Weijun Tan ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song ,  Richard Rauschmayer

发明人： Weijun Tan ,  Shaohua Yang ,  Hongwei Song ,  Richard Rauschmayer

IPC分类号： H04L27/00

CPC分类号： H04L1/0057 ,  H04L1/0045

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for flaw scan in a data processing system. As one example, a data processing system is disclosed that includes a data detector circuit, a bit sign inverting circuit, and an LDPC decoder circuit. The data detector circuit receives a verification data set that is an invalid LDPC codeword, and applies a data detection algorithm to the verification data set to yield a detected output. The bit sign inverting circuit modifies the sign of one or more elements of a first derivative of the detected output to yield a second derivative of the detected output. The second derivative of the detected output is an expected valid LDPC codeword. The LDPC decoder circuit applies a decoding algorithm to the second derivative of the detected output to yield a decoded output.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供了在数据处理系统中的缺陷扫描的系统和方法。 作为一个示例，公开了包括数据检测器电路，位符号反相电路和LDPC解码器电路的数据处理系统。 数据检测器电路接收作为无效LDPC码字的验证数据集，并将数据检测算法应用于验证数据集以产生检测到的输出。 位符号反相电路修改检测输出的一阶导数的一个或多个元素的符号，以产生检测到的输出的二阶导数。 所检测的输出的二阶导数是期望的有效LDPC码字。 LDPC解码器电路将解码算法应用于检测输出的二阶导数，以产生解码输出。

公开(公告)号：US20070146917A1

公开(公告)日：2007-06-28

申请号：US11319319

申请日：2005-12-28

申请人： Hongwei Song ,  Weijun Tan

发明人： Hongwei Song ,  Weijun Tan

IPC分类号： G11B20/10

CPC分类号： G11B20/18 ,  G11B5/6076

摘要： In one embodiment, irregular electronic disturbance signals in a partial-response read channel are detected by a disturbance detector using state metrics generated by maximum-likelihood sequence detector. For example, a thermal asperity (TA) detector detects the occurrence of TAs in the read channel of perpendicularly recorded magnetic media by using the state metrics generated by a Viterbi detector. Changes in state metrics (e.g., magnitudes of the branch metrics of the trellis diagram) used by the Viterbi detector are tracked. If the magnitude of the rise of the path metric increases above a set threshold, then a TA is detected. Alternatively, or additionally, the rate of change of the magnitude of the path metrics is tracked. If the rate of change within a set time window is above a specified threshold, then a TA is detected.

摘要翻译： 在一个实施例中，部分响应读通道中的不规则电子干扰信号由使用由最大似然序列检测器产生的状态度量的扰动检测器检测。 例如，热绝缘（TA）检测器通过使用维特比检测器产生的状态度量来检测垂直记录的磁介质的读通道中的TA的出现。 跟踪由维特比检测器使用的状态度量（例如格子图的分支度量的大小）的变化。 如果路径度量的上升幅度增加到设定的阈值以上，则检测TA。 或者或另外，跟踪路径度量的幅度的变化率。 如果设定的时间窗内的变化率高于规定的阈值，则检测出TA。

公开(公告)号：US08516348B2

公开(公告)日：2013-08-20

申请号：US13495922

申请日：2012-06-13

申请人： Weijun Tan ,  Hongwei Song ,  Shaohua Yang

发明人： Weijun Tan ,  Hongwei Song ,  Shaohua Yang

IPC分类号： H03M13/00

CPC分类号： G11B5/09 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10046 ,  G11B20/10055 ,  H03M13/3905

摘要： Various embodiments of the present invention provide systems and methods for detecting storage medium defects. As one example, a media defect detection system is disclosed that includes a data detector circuit that applies a detection algorithm to the data input and provides a hard output and a soft output. A first circuit combines a first derivative of the hard output with a derivative of the data input to yield a first combined signal. A second circuit combines a second derivative of the hard output with a derivative of the first combined signal to yield a second combined signal. A third circuit combines a derivative of the soft output with the second combined signal and a threshold value to yield a defect signal.

摘要翻译： 本发明的各种实施例提供了用于检测存储介质缺陷的系统和方法。 作为一个示例，公开了一种媒体缺陷检测系统，其包括将检测算法应用于数据输入并提供硬输出和软输出的数据检测器电路。 第一电路将硬输出的一阶导数与数据输入的导数组合以产生第一组合信号。 第二电路将硬输出的二阶导数与第一组合信号的导数组合以产生第二组合信号。 第三电路将软输出的导数与第二组合信号和阈值组合以产生缺陷信号。