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31.发明授权Two frequency system for measuring a property of a dielectric material having a single amplifying and detecting circuit for both frequencies 失效用于测量具有用于两个频率的单个放大和检测电路的介电材料的性质的两频系统
公开(公告)号：US3327207A
公开(公告)日：1967-06-20
申请号：US26890963
申请日：1963-03-29
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： ALAN NORWICH
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/223
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32.发明授权Two-frequency dielectric measuring system including a variable gain circuit for modifying the amplitude of at least one of two detection signals 失效双频电介质测量系统包括用于修改两个检测信号中的至少一个的振幅的可变增益电路
公开(公告)号：US3323047A
公开(公告)日：1967-05-30
申请号：US31744563
申请日：1963-10-21
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： MARTIN ROBERT W , ALAN NORWICH
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/223
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公开(公告)号：US3291987A
公开(公告)日：1966-12-13
申请号：US27115363
申请日：1963-04-08
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： CHOPE HENRY R
IPC: G01S11/12
CPC classification number: G01S11/125
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34.发明授权Frequency selective amplifier with a resonant type network in a feedback loop 失效频率选择放大器在反馈回路中具有谐振型网络
公开(公告)号：US3278854A
公开(公告)日：1966-10-11
申请号：US30077263
申请日：1963-08-08
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： KO-HSIN LIU
IPC: H03F3/189
CPC classification number: H03F3/189
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35.发明授权Radiation gauging system with compensation for high background radiation intensities 失效具有高背景辐射强度补偿的辐射测量系统
公开(公告)号：US3255346A
公开(公告)日：1966-06-07
申请号：US14859461
申请日：1961-10-30
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： BRUNTON DONALD C , MCMULLEN JAMES M
IPC: G01F23/288 , G01T1/185
CPC classification number: G01T1/185 , G01F23/288
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Patent Agency Ranking36.发明授权System for measuring a property of a dielectric material by applying signals at two different frequencies to a capacitance probe through tuned input circuits 失效用于通过调谐输入电路将两个不同频率的信号施加到电容探头来测量电介质材料性质的系统
公开(公告)号：US3234460A
公开(公告)日：1966-02-08
申请号：US5723460
申请日：1960-09-20
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： BAIRD CLYDE W
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/223 , G01B7/087
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公开(公告)号：US3214845A
公开(公告)日：1965-11-02
申请号：US11234761
申请日：1961-05-24
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HUFFMAN NEIL A
IPC: F26B25/22
CPC classification number: F26B25/22 , Y10S162/06 , Y10S162/11
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38.发明授权Measuring system for determining the mass of a dielectric material utilizing a capacitive probe at two frequencies 失效用于使用两个频率的电容探针确定电介质材料的质量的测量系统
公开(公告)号：US3155900A
公开(公告)日：1964-11-03
申请号：US4197560
申请日：1960-07-11
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HANKEN ALBERT F G
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/223
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公开(公告)号：US3130733A
公开(公告)日：1964-04-28
申请号：US3449460
申请日：1960-06-07
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： MARTIN CARLOS C
IPC: A24C5/34
CPC classification number: A24C5/3412 , Y10S131/906
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40.发明授权
公开(公告)号：US3128786A
公开(公告)日：1964-04-14
申请号：US85585659
申请日：1959-11-27
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： BADGETT CHARLES O
CPC classification number: G05D7/0676 , E03F5/14 , G01N23/12 , G05D7/0664 , Y10T137/7736 , Y10T137/7761 , Y10T137/8158 , Y10T137/85986 , Y10T137/86405
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