公开(公告)号：US07890827B2

公开(公告)日：2011-02-15

申请号：US12818941

申请日：2010-06-18

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

摘要翻译： 本公开描述了用于压缩集成电路中的测试结果的压实机的实施例以及用于使用和设计这些实施例的方法。 所公开的压实机可以例如用作任何基于扫描的设计的一部分。 此外，任何公开的压实机可以在诸如电子设计自动化（“EDA”）软件工具的计算机执行的应用中被设计，模拟和/或验证。 还描述了在公开的压实机实施例中用于诊断故障的方法的实施例。

公开(公告)号：US07743302B2

公开(公告)日：2010-06-22

申请号：US12012039

申请日：2008-01-30

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

摘要翻译： 本公开描述了用于压缩集成电路中的测试结果的压实机的实施例以及用于使用和设计这些实施例的方法。 所公开的压实机可以例如用作任何基于扫描的设计的一部分。 此外，任何公开的压实机可以在诸如电子设计自动化（“EDA”）软件工具的计算机执行的应用中被设计，模拟和/或验证。 还描述了在公开的压实机实施例中用于诊断故障的方法的实施例。

公开(公告)号：US20080133987A1

公开(公告)日：2008-06-05

申请号：US12012039

申请日：2008-01-30

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G11C29/40

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

公开(公告)号：US20060041813A1

公开(公告)日：2006-02-23

申请号：US11213327

申请日：2005-08-25

申请人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

发明人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F11/00

CPC分类号： G01R31/318547 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： Methods, apparatus, and systems for diagnosing failing scan cells from compressed test responses are disclosed herein. For example, in one nonlimiting exemplary embodiment, one or more signatures are received that indicate the presence of one or more errors in one or more corresponding compressed test responses. Scan cells in the circuit-under-test that caused the errors are identified by analyzing the signatures. In this exemplary embodiment, the analysis includes selecting a scan cell candidate that potentially caused an error in a compressed test response based at least partially on a weight value associated with the scan cell candidate, the weight value being indicative of the likelihood that the scan cell candidate caused the error. Tangible computer-readable media comprising computer-executable instructions for causing a computer to perform any of the disclosed methods are also provided. Tangible computer-readable media comprising lists of failing scan cells identified by any of the disclosed methods are also provided.

摘要翻译： 本文公开了用于诊断来自压缩测试响应的故障扫描单元的方法，装置和系统。 例如，在一个非限制性示例性实施例中，接收指示在一个或多个对应的压缩测试响应中存在一个或多个错误的一个或多个签名。 通过分析签名来识别导致错误的电路不足测试中的扫描单元。 在该示例性实施例中，分析包括选择至少部分地基于与扫描小区候选者相关联的权重值来潜在地引起压缩测试响应中的错误的扫描小区候选，该权重值表示扫描单元 候选人造成错误。 还提供了包括用于使计算机执行任何所公开的方法的计算机可执行指令的有形计算机可读介质。 还提供了包括由任何所公开的方法识别的故障扫描单元的列表的有形计算机可读介质。

公开(公告)号：US20090254786A1

公开(公告)日：2009-10-08

申请号：US12265693

申请日：2008-11-05

申请人： Wu-Tung Cheng ,  Grzegorz Mrugalski

发明人： Wu-Tung Cheng ,  Grzegorz Mrugalski

IPC分类号： G01R31/3177 ,  G06F11/25

CPC分类号： G01R31/31813 ,  G01R31/318371 ,  G01R31/318547

摘要： X-masking registers are added in front of a compactor in test data compression environment to remove unknown values. The X-masking registers block out some chains due to unknown values and select other chains to feed the compactor. This X-masking capability is used to select one scan cell to observe at a time after a failure is observed at the compactor output.

摘要翻译： 在测试数据压缩环境中，将X-masking寄存器添加到压实器的前面，以去除未知值。 X屏蔽寄存器由于未知值而阻塞一些链，并选择其他链来馈送压实机。 该X掩蔽功能用于选择一个扫描单元，以便在压实机输出上观察到故障后一次观察。

公开(公告)号：US08086923B2

公开(公告)日：2011-12-27

申请号：US12265693

申请日：2008-11-05

申请人： Wu-Tung Cheng ,  Grzegorz Mrugalski

发明人： Wu-Tung Cheng ,  Grzegorz Mrugalski

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31813 ,  G01R31/318371 ,  G01R31/318547

摘要： X-masking registers are added in front of a compactor in test data compression environment to remove unknown values. The X-masking registers block out some chains due to unknown values and select other chains to feed the compactor. This X-masking capability is used to select one scan cell to observe at a time after a failure is observed at the compactor output.

摘要翻译： 在测试数据压缩环境中，将X-masking寄存器添加到压实器的前面，以去除未知值。 X屏蔽寄存器由于未知值而阻塞一些链，并选择其他链来馈送压实机。 该X掩蔽功能用于选择一个扫描单元，以便在压实机输出上观察到故障后一次观察。