公开(公告)号：US20140032969A1

公开(公告)日：2014-01-30

申请号：US13561036

申请日：2012-07-29

申请人： Shimon Landa ,  Amir Nahir

发明人： Shimon Landa ,  Amir Nahir

IPC分类号： G06F11/28

CPC分类号： G06F11/263

摘要： Method, system and product for post silicon validation using a partial reference model. The method performed by a device having registers, the method comprising: first executing, by the device when operating in trace mode, a test-case, wherein during the execution utilizing a partial reference model to determine an expected value of at least one register; second executing, by the device when operating in non-trace mode, the test-case; and in response to said second executing, checking values of registers based on, at least in part, values determined during said first execution.

摘要翻译： 使用部分参考模型进行硅后验证的方法，系统和产品。 由具有寄存器的设备执行的方法，所述方法包括：当以跟踪模式操作时由所述设备首先执行测试用例，其中在执行期间利用部分参考模型来确定至少一个寄存器的期望值; 第二次执行，由设备在非追踪模式下运行时，测试用例; 并且响应于所述第二执行，至少部分地基于在所述第一执行期间确定的值来检查寄存器的值。

公开(公告)号：US20140032966A1

公开(公告)日：2014-01-30

申请号：US13557238

申请日：2012-07-25

申请人： Manoj Dusanapudi ,  Wisam Kadry ,  Shakti Kapoor ,  Dimtry Krestyashyn ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  John Schumann ,  Gil (Eliezer) Shurek ,  Vitali Sokhin

发明人： Manoj Dusanapudi ,  Wisam Kadry ,  Shakti Kapoor ,  Dimtry Krestyashyn ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  John Schumann ,  Gil (Eliezer) Shurek ,  Vitali Sokhin

IPC分类号： G06F11/28

CPC分类号： G06F11/263

摘要： A method, apparatus and product for hardware verification using acceleration platform. The method comprising executing a first post-silicon testing program by a reference model, wherein during said executing the first post-silicon testing program one or more test-cases are generated; generating a second post-silicon testing program that is configured to execute the one or more test-cases; and executing the second post-silicon testing program on an acceleration platform.

摘要翻译： 一种使用加速平台进行硬件验证的方法，装置和产品。 所述方法包括通过参考模型执行第一后硅测试程序，其中在所述执行期间，所述第一硅后测试程序生成一个或多个测试用例; 生成被配置为执行所述一个或多个测试用例的第二后硅测试程序; 以及在加速平台上执行第二后硅测试程序。

公开(公告)号：US20130013246A1

公开(公告)日：2013-01-10

申请号：US13179526

申请日：2011-07-10

申请人： Allon Adir ,  Eyal Bin ,  Shady Copty ,  Anatoly Koyfman ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  Vitali Sokhin ,  Elena Tsanko

发明人： Allon Adir ,  Eyal Bin ,  Shady Copty ,  Anatoly Koyfman ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  Vitali Sokhin ,  Elena Tsanko

IPC分类号： H01L21/66 ,  G06F19/00

CPC分类号： G06F11/263

摘要： An apparatus and a computer-implemented method performed by a computerized device, comprising: generating a collection of test data for testing one or more domains, wherein the test data is useful for post-silicon verification of hardware devices; selecting a subset of the collection of test data in accordance with a hardware device to be tested and at least one of the domains to be tested with respect to the hardware device; and indexing the subset of the collection of test data to obtain an indexed collection.

摘要翻译： 一种由计算机化设备执行的装置和计算机实现的方法，包括：生成用于测试一个或多个域的测试数据的集合，其中所述测试数据对于硬件设备的后硅验证是有用的; 根据要测试的硬件设备选择测试数据的集合的子集，以及相对于硬件设备测试的至少一个域; 并索引测试数据集合的子集以获得索引集合。

公开(公告)号：US08990622B2

公开(公告)日：2015-03-24

申请号：US13561036

申请日：2012-07-29

申请人： Shimon Landa ,  Amir Nahir

发明人： Shimon Landa ,  Amir Nahir

IPC分类号： G06F11/00

CPC分类号： G06F11/263

摘要： Method, system and product for post silicon validation using a partial reference model. The method performed by a device having registers, the method comprising: first executing, by the device when operating in trace mode, a test-case, wherein during the execution utilizing a partial reference model to determine an expected value of at least one register; second executing, by the device when operating in non-trace mode, the test-case; and in response to said second executing, checking values of registers based on, at least in part, values determined during said first execution.

摘要翻译： 使用部分参考模型进行硅后验证的方法，系统和产品。 由具有寄存器的设备执行的方法，所述方法包括：当以跟踪模式操作时由所述设备首先执行测试用例，其中在执行期间利用部分参考模型来确定至少一个寄存器的期望值; 第二次执行，由设备在非追踪模式下运行时，测试用例; 并且响应于所述第二执行，至少部分地基于在所述第一执行期间确定的值来检查寄存器的值。

公开(公告)号：US08892386B2

公开(公告)日：2014-11-18

申请号：US13179526

申请日：2011-07-10

申请人： Allon Adir ,  Eyal Bin ,  Shady Copty ,  Anatoly Koyfman ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  Vitali Sokhin ,  Elena Tsanko

发明人： Allon Adir ,  Eyal Bin ,  Shady Copty ,  Anatoly Koyfman ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  Vitali Sokhin ,  Elena Tsanko

IPC分类号： G06F19/00 ,  G06F11/263

CPC分类号： G06F11/263

摘要： An apparatus and a computer-implemented method performed by a computerized device, comprising: generating a collection of test data for testing one or more domains, wherein the test data is useful for post-silicon verification of hardware devices; selecting a subset of the collection of test data in accordance with a hardware device to be tested and at least one of the domains to be tested with respect to the hardware device; and indexing the subset of the collection of test data to obtain an indexed collection.

摘要翻译： 一种由计算机化设备执行的装置和计算机实现的方法，包括：生成用于测试一个或多个域的测试数据的集合，其中所述测试数据对于硬件设备的后硅验证是有用的; 根据要测试的硬件设备选择测试数据的集合的子集，以及相对于硬件设备测试的至少一个域; 并索引测试数据集合的子集以获得索引集合。

公开(公告)号：US08832502B2

公开(公告)日：2014-09-09

申请号：US13557238

申请日：2012-07-25

申请人： Manoj Dusanapudi ,  Wisam Kadry ,  Shakti Kapoor ,  Dimtry Krestyashyn ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  John Schumann ,  Gil Eliezer Shurek ,  Vitali Sokhin

发明人： Manoj Dusanapudi ,  Wisam Kadry ,  Shakti Kapoor ,  Dimtry Krestyashyn ,  Shimon Landa ,  Amir Nahir ,  John Schumann ,  Gil Eliezer Shurek ,  Vitali Sokhin

IPC分类号： G06F11/00

CPC分类号： G06F11/263

摘要： A method includes executing a first post-silicon testing program by a reference model. During the execution of the first post-silicon testing program, one or more test-cases are generated. The first post-silicon testing program is executed in an offline generation mode. During execution of the first post-silicon testing program each test case is generated in a different memory location. After the execution, generating a second post-silicon testing program that is configured to execute the one or more test-cases. The method further includes executing the second post-silicon testing program on an acceleration platform.

摘要翻译： 一种方法包括通过参考模型执行第一硅后测试程序。 在执行第一个硅后测试程序时，将生成一个或多个测试用例。 第一个硅后测试程序以离线生成模式执行。 在第一个硅后测试程序的执行期间，每个测试用例在不同的存储器位置生成。 在执行之后，生成被配置为执行一个或多个测试用例的第二后硅测试程序。 该方法还包括在加速平台上执行第二后硅测试程序。