公开(公告)号：US20140129890A1

公开(公告)日：2014-05-08

申请号：US13672218

申请日：2012-11-08

Applicant: LSI CORPORATION

Inventor： Jefferson E. Singleton ,  Shaohua Yang ,  Bruce A. Wilson ,  Keenan T. O'Brien

IPC: G06F11/263

CPC classification number: H03M13/6356 ,  H03M13/11 ,  H03M13/35 ,  H03M13/63 ,  H03M13/6343

Abstract: A method for producing a LDPC encoded test pattern for media in a LDPC based drive system includes adding error detection code data to a predominantly zero bit test pattern and adding additional zero bits to produce a test pattern of a desirable length. The test pattern may then be scrambled to produce a desirable flaw detection test pattern. The flaw detection test pattern may then be encoding with an LDPC code, or other error correction code with minimal disturbance to the run length constraints of the data pattern, and written to a storage medium.

Abstract translation: 一种用于在基于LDPC的驱动系统中产生用于媒体的LDPC编码测试模式的方法，包括将误差检测码数据添加到主要为零比特的测试模式，并且添加额外的零比特以产生期望长度的测试模式。 然后可以对测试图案进行加扰以产生所需的探伤测试图案。 然后，探伤测试模式可以用LDPC码或其他纠错码进行编码，对数据模式的游程长度限制具有最小干扰，并写入存储介质。

公开(公告)号：US09246519B2

公开(公告)日：2016-01-26

申请号：US13672218

申请日：2012-11-08

Applicant: LSI Corporation

Inventor： Jefferson E. Singleton ,  Shaohua Yang ,  Bruce A. Wilson ,  Keenan T. O'Brien

IPC: G06F11/263 ,  H03M13/00 ,  H03M13/11 ,  H03M13/35

CPC classification number: H03M13/6356 ,  H03M13/11 ,  H03M13/35 ,  H03M13/63 ,  H03M13/6343

Abstract: A method for producing a LDPC encoded test pattern for media in a LDPC based drive system includes adding error detection code data to a predominantly zero bit test pattern and adding additional zero bits to produce a test pattern of a desirable length. The test pattern may then be scrambled to produce a desirable flaw detection test pattern. The flaw detection test pattern may then be encoding with an LDPC code, or other error correction code with minimal disturbance to the run length constraints of the data pattern, and written to a storage medium.

Abstract translation: 一种用于在基于LDPC的驱动系统中产生用于媒体的LDPC编码测试模式的方法，包括将误差检测码数据添加到主要为零比特的测试模式，并且添加额外的零比特以产生期望长度的测试模式。 然后可以对测试图案进行加扰以产生所需的探伤测试图案。 然后，探伤测试模式可以用LDPC码或其他纠错码进行编码，对数据模式的游程长度限制具有最小干扰，并写入存储介质。