公开(公告)号：US09431133B2

公开(公告)日：2016-08-30

申请号：US13908470

申请日：2013-06-03

申请人： Matthew Gadlage ,  Adam Duncan

发明人： Matthew Gadlage ,  Adam Duncan

IPC分类号： G01R31/26 ,  G11C29/56 ,  G01R31/319 ,  G11C11/412 ,  G11C29/50

CPC分类号： G01R31/303 ,  G01R31/302 ,  G01R31/31725 ,  G01R31/31907 ,  G06F13/36 ,  G06F13/4068 ,  G06F13/4282 ,  G11C11/4125 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5002

摘要： A highly flexible, compact, lightweight, and portable testing system for use with radiation testing activities. The testing system is coupled to a device under test (DUT), which can be positioned in such a way that the top of the die package is exposed to the direct ion beam during radiation testing. A variety of sensors, onboard memory systems, programmable interfaces, onboard control systems, data output devices, and different types of interfaces are also provided which provide an ability to perform testing procedures while having a maximum ability to orient the DUT and perform a wide variety of testing currently unavailable.

摘要翻译： 高度灵活，紧凑，重量轻且便于携带的测试系统，用于辐射测试活动。 测试系统耦合到被测设备（DUT），其可以以这样的方式定位，使得在辐射测试期间，芯片封装的顶部暴露于直接离子束。 还提供了各种传感器，板载存储器系统，可编程接口，车载控制系统，数据输出设备和不同类型的接口，其提供执行测试程序的能力，同时具有定向DUT并且执行多种多样的最大能力 的测试目前无法使用。

公开(公告)号：US20140330533A1

公开(公告)日：2014-11-06

申请号：US13908470

申请日：2013-06-03

申请人： Matthew Gadlage ,  Adam Duncan

发明人： Matthew Gadlage ,  Adam Duncan

IPC分类号： G01R31/317

CPC分类号： G01R31/303 ,  G01R31/302 ,  G01R31/31725 ,  G01R31/31907 ,  G06F13/36 ,  G06F13/4068 ,  G06F13/4282 ,  G11C11/4125 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5002

摘要： A highly flexible, compact, lightweight, and portable testing system for use with radiation testing activities. The testing system is coupled to a device under test (DUT), which can be positioned in such a way that the top of the die package is exposed to the direct ion beam during radiation testing. A variety of sensors, onboard memory systems, programmable interfaces, onboard control systems, data output devices, and different types of interfaces are also provided which provide an ability to perform testing procedures while having a maximum ability to orient the DUT and perform a wide variety of testing currently unavailable.

摘要翻译： 高度灵活，紧凑，重量轻且便于携带的测试系统，用于辐射测试活动。 测试系统耦合到被测设备（DUT），其可以以这样的方式定位，使得在辐射测试期间，芯片封装的顶部暴露于直接离子束。 还提供了各种传感器，板载存储器系统，可编程接口，车载控制系统，数据输出设备和不同类型的接口，其提供执行测试程序的能力，同时具有定向DUT并且执行多种多样的最大能力 的测试目前无法使用。