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    CONTENT BASED YIELD PREDICTION OF VLSI DESIGNS
    1.
    发明申请
    CONTENT BASED YIELD PREDICTION OF VLSI DESIGNS 失效
    基于内容的VLSI设计预测

    公开(公告)号：US20080195989A1

    公开(公告)日：2008-08-14

    申请号：US12101599

    申请日：2008-04-11

    申请人： Robert J. Allen ,  Daria R. Dooling ,  Jason D. Hibbeler ,  Daniel N. Maynard ,  Sarah C. Prue ,  Ralph J. Williams

    发明人： Robert J. Allen ,  Daria R. Dooling ,  Jason D. Hibbeler ,  Daniel N. Maynard ,  Sarah C. Prue ,  Ralph J. Williams

    IPC分类号： G06F9/45

    CPC分类号： G06F17/5045

    摘要： An integrated circuit and program product for predicting yield of a VLSI design. An integrated circuit is provided including a system for identifying and grouping sub-circuits contained within an integrated circuit design by circuit type; a critical area calculation system for determining critical area values for different regions, wherein each different region is associated with a circuit type; a tallying system for calculating a plurality of tallies of critical area values based on circuit type; and a plurality of modeling subsystems for separately modeling each of the plurality of tallies based on circuit type.

    摘要翻译： 一种用于预测VLSI设计产量的集成电路和程序产品。 提供一种集成电路，包括用于通过电路类型识别和分组集成电路设计中包含的子电路的系统; 用于确定不同区域的临界面积值的关键区域计算系统，其中每个不同区域与电路类型相关联; 用于基于电路类型计算多个临界面积值的计数系统; 以及多个建模子系统，用于基于电路类型对所述多个提议中的每一个进行单独建模。

    Content based yield prediction of VLSI designs
    2.
    发明授权
    Content based yield prediction of VLSI designs 有权
    基于内容的VLSI设计的产量预测

    公开(公告)号：US07389480B2

    公开(公告)日：2008-06-17

    申请号：US10908342

    申请日：2005-05-09

    申请人： Robert J. Allen ,  Daria R. Dooling ,  Jason D. Hibbeler ,  Daniel N. Maynard ,  Sarah C. Prue ,  Ralph J. Williams

    发明人： Robert J. Allen ,  Daria R. Dooling ,  Jason D. Hibbeler ,  Daniel N. Maynard ,  Sarah C. Prue ,  Ralph J. Williams

    IPC分类号： G06F17/50

    CPC分类号： G06F17/5045

    摘要： A system, method and program product for predicting yield of a VLSI design. A method is provided including the steps of: identifying and grouping sub-circuits contained within an integrated circuit design by type; calculating critical area values for regions within the integrated circuit design; and applying different yield models to critical area values based on the types of the regions used to calculate the critical area values, wherein each yield model is dependent on a type.

    摘要翻译： 一种用于预测VLSI设计产量的系统，方法和程序产品。 提供了一种方法，包括以下步骤：通过类型识别和分组集成电路设计中包含的子电路; 计算集成电路设计中区域的关键面积值; 以及基于用于计算临界面积值的区域的类型将不同的屈服模型应用于临界区域值，其中每个产量模型依赖于类型。

    Content based yield prediction of VLSI designs
    3.
    发明授权
    Content based yield prediction of VLSI designs 失效
    基于内容的VLSI设计的产量预测

    公开(公告)号：US07661081B2

    公开(公告)日：2010-02-09

    申请号：US12101599

    申请日：2008-04-11

    申请人： Robert J. Allen ,  Daria R. Dooling ,  Jason D. Hibbeler ,  Daniel N. Maynard ,  Sarah C. Prue ,  Ralph J. Williams

    发明人： Robert J. Allen ,  Daria R. Dooling ,  Jason D. Hibbeler ,  Daniel N. Maynard ,  Sarah C. Prue ,  Ralph J. Williams

    IPC分类号： G06F17/50

    CPC分类号： G06F17/5045

    摘要： An integrated circuit system and program product for predicting yield of a VLSI design. An integrated circuit system is provided including a system for identifying and grouping sub-circuits contained within an integrated circuit design by circuit type; a critical area calculation system for determining critical area values for different regions, wherein each different region is associated with a circuit type; a tallying system for calculating a plurality of tallies of critical area values based on circuit type; and a plurality of modeling subsystems for separately modeling each of the plurality of tallies based on circuit type.

    摘要翻译： 一种用于预测VLSI设计产量的集成电路系统和程序产品。 提供一种集成电路系统，包括用于通过电路类型识别和集成集成电路设计中所包含的子电路的系统; 用于确定不同区域的临界面积值的关键区域计算系统，其中每个不同区域与电路类型相关联; 用于基于电路类型计算多个临界面积值的计数系统; 以及多个建模子系统，用于基于电路类型对所述多个提议中的每一个进行单独建模。