车辆检查系统
    72.
    发明申请
    车辆检查系统 审中-公开

    公开(公告)号:WO2018184556A1

    公开(公告)日:2018-10-11

    申请号:PCT/CN2018/081849

    申请日:2018-04-04

    CPC classification number: B65G25/08 B65G2201/0294 G01D11/00

    Abstract: 一种车辆检查系统,包括扫描装置(10)和穿过扫描装置(10)的扫描区域的车辆传送装置(20),车辆传送装置(20)用于驱动被检查车辆(90)通过扫描区域,包括沿被检查车辆(90)的移动方向位于扫描区域的上游的初始驱动段(21)和设置于初始驱动段(21)下游的自行段(22),初始驱动段(21)用于驱动被检查车辆(90)向扫描装置移动(10)并使被检查车辆(90)在终止驱动时具有初始速度,自行段(22)用于使终止驱动后的被检查车辆(90)在自行段(22)上自行移动以使被检查车辆(90)完全通过扫描区域。车辆检查系统结构简单,成本降低。

    辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器

    公开(公告)号:WO2018103414A1

    公开(公告)日:2018-06-14

    申请号:PCT/CN2017/103011

    申请日:2017-09-22

    Abstract: 一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器(103,303,505),涉及辐射探测技术领域。其中,一种辐射探测装置包括:射线探测器(101);与射线探测器(101)相连接的高速ADC(102,302,403,500);和与高速ADC(102,302,403,500)连接的数据处理器(103,303,505);其中,射线探测器(101)把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号;高速ADC(102,302,403,500)通过电信号波形采样获取波形数据;数据处理器(103,303,505)根据波形数据确定单光子信号个数,进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。该装置能够利用探测器(101)的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数,进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像,从而提高被测物体的辐射探测成像质量,提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。

    中子产生设备,中子成像设备以及成像方法

    公开(公告)号:WO2018054289A1

    公开(公告)日:2018-03-29

    申请号:PCT/CN2017/102290

    申请日:2017-09-19

    CPC classification number: H05H3/06 G01T3/00 H05G1/52

    Abstract: 一种中子产生设备,中子成像设备和成像方法。中子产生设备包括:高能电子直线加速器(110),中子转换靶(130),过滤器(140),和中子准直器(150)。中子成像设备包括:中子产生设备,产生连续能谱中子束;中子探测器(170),接收穿透被检查物体的中子束,得到电信号;数据采集电路(180),与中子探测器(170)耦接,将电信号转换为数字信号;数据处理设备(190),与数据采集电路(180)耦接,基于数字信号得到被检查物体在不同能谱中子下的图像。还公开了相应的成像方法。能够产生连续能谱的中子束,使得可以利用飞行时间法得到被检查物体在不同能量中子下的图像,提高了检测的灵敏度。

    海关在途监管系统和方法
    76.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2016011947A1

    公开(公告)日:2016-01-28

    申请号:PCT/CN2015/084796

    申请日:2015-07-22

    CPC classification number: G06Q10/0831 G06Q10/08 G06Q10/083 G06Q10/0833

    Abstract: 本公开提供了一种海关在途监管系统和方法。该系统包括:口岸通关子系统,在口岸处采集和处理监管对象的信息;风险管理子系统,根据监管对象的风险级别,确定针对所述监管对象的在途监管方式;在途监管装置,按照在途监管方式,在运输途中监管所述监管对象;以及中心监管子系统,与口岸通关子系统、风险管理子系统和在途监管装置进行信息交互,并发送用于控制口岸通关子系统、风险管理子系统和在途监管装置的指令。本公开的系统和方法引入了起始和目的口岸信息比对、风险管理机制,提高了监管针对性、监管效率和力度。

    辐射探测器
    77.
    发明申请
    辐射探测器 审中-公开

    公开(公告)号:WO2014117574A1

    公开(公告)日:2014-08-07

    申请号:PCT/CN2013/087694

    申请日:2013-11-22

    CPC classification number: H01L31/115 G01T1/241

    Abstract: 提供一种辐射探测器(100),该辐射探测器(100)包括:用于感测辐射的半导体晶体(101),半导体晶体(101)包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;位于顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的至少一个表面上的阳极电极(103);以及位于顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的其余表面中的至少一个表面上的阴极电极(102),其中,阳极电极(103)为条带形状,阴极电极(102)为平面形状,并且阴极电极(102)与阳极电极(103)平行地延伸大致等于阳极电极(103)的长度尺寸。该电极结构可以提高辐射探测器的能量分辨率和探测效率。

Patent Agency Ranking