公开(公告)号：WO2016068573A1

公开(公告)日：2016-05-06

申请号：PCT/KR2015/011374

申请日：2015-10-27

Applicant: (주)이노티오

Inventor： 송재훈

IPC: G01R31/3183 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3183

Abstract: 스캔 테스트 시간 최소화 방법 및 그 장치가 개시된다. 스캔 테스트 시간 최소화 장치는 복수 개의 스캔 패턴을 적어도 둘 이상의 스캔 섹션으로 분할하고, 각 스캔 섹션에 대하여, 쉬프트 주파수의 증감을 통해 스캔 체인의 출력 패턴이 예측 패턴과 상이해지는 제1 쉬프트 주파수를 파악한 후 제1 쉬프트 주파수보다 작은 제2 쉬프트 주파수를 각 스캔 섹션의 쉬프트 주파수로 결정한다. 또한 번인 테스트 시간 최소화 및 번인 테스트의 품질을 높일 수 있는 효과가 있다.

Abstract translation: 公开了一种扫描测试时间最小化方法及其装置。 扫描测试时间最小化装置将多个扫描模式分成至少两个或更多个扫描部分，并且对于每个扫描部分，识别第一移位频率，通过该移动频率，通过移位频率的增加/减少，扫描链输出模式 与预测模式不同，然后设备将比第一移位频率小的第二移位频率设置为每个扫描部分的移位频率。 此外，本发明具有最小化老化测试时间并提高老化测试的质量的效果。

公开(公告)号：WO2023022279A1

公开(公告)日：2023-02-23

申请号：PCT/KR2021/011562

申请日：2021-08-28

Applicant: (주)이노티오

Inventor： 송재훈

IPC: G01R31/3185 ,  G01R31/3183

Abstract: IC 칩 스캔 테스트를 위한 스캔 섹션의 사용 가능한 쉬프트 주파수를 찾기 위한 검색용 데이터를 생성하는 방법 및 그 장치가 개시된다. 검색용 데이터 생성 장치는 IC 칩 테스트 장치가 제어하거나 설정할 수 있는 주파수 또는 타이밍 식별자의 개수가 입력 스캔 패턴의 스캔 섹션의 개수보다 작으면, 상기 입력 스캔 패턴을 적어도 하나 이상의 스캔 섹션을 포함하는 적어도 둘 이상의 세그먼트로 구분하고, 세그먼트의 개수에 해당하는 복수의 검색용 데이터를 생성한다.

公开(公告)号：WO2016068385A1

公开(公告)日：2016-05-06

申请号：PCT/KR2014/011978

申请日：2014-12-08

Applicant: (주) 이노티오 ,  송재훈

Inventor： 송재훈

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/3183

Abstract: 스캔 테스트 시간 최소화 방법 및 그 장치가 개시된다. 스캔 테스트 시간 최소화 장치는 복수 개의 스캔 패턴을 적어도 둘 이상의 스캔 섹션으로 분할하고, 각 스캔 섹션에 대하여, 쉬프트 주파수의 증감을 통해 스캔 체인의 출력 패턴이 예측 패턴과 상이해지는 제1 쉬프트 주파수를 파악한 후 제1 쉬프트 주파수보다 작은 제2 쉬프트 주파수를 각 스캔 섹션의 쉬프트 주파수로 결정한다.

Abstract translation: 公开了一种用于最小化扫描测试时间的方法和装置。 用于最小化扫描测试时间的装置将多个扫描图案分成两个或更多个扫描部分，针对每个扫描部分获取扫描链的输出图案与预测图案不同的第一移位频率，借助于 移位频率的增加和减少，然后确定小于第一移位频率的第二移位频率作为每个扫描部分的移位频率。