Abstract:
L'invention concerne un procédé de caractérisation non destructif et sans contact d'une structure multicouche (1) à géométrie sensiblement sphérique comprenant au moins deux couches (2, 3, 4, 5, 6), séparées par des interfaces, le procédé comprenant les étapes suivantes : - à l'aide d'un laser (11), chauffer localement en régime thermoélastique la structure (1) de telle sorte que la structure (1) est mise en vibration de manière non destructive; - mesurer les fréquences de résonance (F exp) des modes de vibration de la structure (1); - déduire des fréquences de résonance (F exp ) de la structure (1) au moins une caractéristique relative à l'intégrité, ou à la géométrie ou au comportement mécanique de la structure (1).
Abstract:
Le procédé vise à caractériser un élément (21) comprenant une pluralité de couches superposées séparées les unes des autres par des interfaces. Il comprend au moins les étapes suivantes; éclairer l'élément (21) avec un rayonnement (15) émis par une source (13); recueillir sur un détecteur (17) un rayonnement (23) transmis à travers l'élément (21), ce rayonnement transmis formant sur le détecteur (17) une image expérimentale de l'élément (21), le détecteur (17) étant placé à une distance telle de l'élément (21) que des franges d'interférences apparaissent sur l'image expérimentale aux interfaces entre les couches; déterminer une valeur approchée d'au moins une caractéristique physique d'au moins une couche donnée par calcul à partir de l'image expérimentale, l'étape de détermination étant assurée en minimisant l'écart entre l'image expérimentale et une image simulée d'au moins une partie de l'image expérimentale de l'élément (21).
Abstract:
The aim of the method is to characterize an element (21) comprising a plurality of superposed layers separated from one another by interfaces. It comprises at least the following steps: The element (21) is illuminated with radiation (15) emitted by a source (13); radiation (23) transmitted through the element (21) is collected on a detector (17), this transmitted radiation forming an experimental image of the element (21) on the detector (17), the detector (17) being placed at such a distance from the element (21) that interference fringes appear on the experimental image at the interfaces between the layers; and an approximate value of at least one physical characteristic of at least one given layer is determined by calculation from the experimental image, the determination step being implemented by minimizing the difference between the experimental image and a simulated image of at least part of the experimental image of the element (21).