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    检查系统和方法
    1.
    发明申请
    检查系统和方法 审中-公开

    公开(公告)号：WO2023280216A1

    公开(公告)日：2023-01-12

    申请号：PCT/CN2022/104148

    申请日：2022-07-06

    Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

    Inventor： 张丽 ,  陈志强 ,  黄清萍 ,  丁辉 ,  周勇 ,  金鑫 ,  姚利明

    IPC: G01N23/10 ,  G01N23/04

    Abstract: 一种检查系统和方法，检测系统包括：承载装置（300）；至少一个射线源（100），每个射线源（100）包括单独壳体（110）以限定真空空间并且包括封装在壳体（110）内的多个靶点；和探测器组件（200）。至少一个射线源（100）能够围绕旋转轴线相对于承载装置（300）在多个扫描位置之间转动，并且至少一个射线源（100）和探测器组件（200）能够相对于承载装置（300）沿旋转轴线升降。检查系统构造成：当至少一个射线源（100）相对于承载装置（300）位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源（100）和探测器组件（200）相对于承载装置（300）沿旋转轴线升降并且至少一个射线源（100）发射X射线；并且当至少一个射线源（100）和探测器组件（200）相对于承载装置（300）升降预定距离后，至少一个射线源（100）围绕旋转轴线相对于承载装置（300）转动到多个扫描位置中的另一个。

    检查系统和方法
    2.
    发明申请
    检查系统和方法 审中-公开

    公开(公告)号：WO2023280210A1

    公开(公告)日：2023-01-12

    申请号：PCT/CN2022/104133

    申请日：2022-07-06

    Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

    Inventor： 陈志强 ,  张丽 ,  黄清萍 ,  周勇 ,  丁辉 ,  金鑫 ,  季超

    IPC: G01V5/00

    Abstract: 一种检查系统，包括：射线源（100），能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动，射线源（100）在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源（100）的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件（200）；输送装置（300），用于承载被检查的物体（10）。射线源（100）和探测器组件（200）能够相对于输送装置（300）沿行进方向移动，从而被检查的物体（10）能够进入检查区域。当射线源（100）位于多个扫描位置中的一个时，射线源（100）和探测器组件（200）相对于输送装置（300）沿行进方向移动并且射线源（100）发射X射线；当射线源（100）和探测器组件（200）相对于输送装置（300）沿行进方向移动预定距离后，射线源（100）围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。

    数据处理方法和数据处理装置
    3.
    发明申请
    数据处理方法和数据处理装置 审中-公开

    公开(公告)号：WO2018023960A1

    公开(公告)日：2018-02-08

    申请号：PCT/CN2017/073206

    申请日：2017-02-10

    Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

    Inventor： 张丽 ,  陈志强 ,  王森 ,  许晓飞 ,  李元景 ,  金鑫

    IPC: G01T1/36

    Abstract: 数据处理方法(300)和数据处理装置(900)。数据处理方法(300)包括：根据已知能量射线入射得到的探测器响应执行探测器响应标定以获得探测器响应模型(S301)；根据该探测器响应模型获得探测器入射能谱数据与探测器测得能谱数据之间的探测器光子计数模型(S302)；根据该探测器光子计数模型对该探测器测得能谱数据中各个能区探测器的光子计数进行反卷积处理计算以获得探测器入射能谱数据中真实的各能区的光子计数(S303)。

    CT系统及其方法
    8.
    发明申请
    CT系统及其方法 审中-公开

    公开(公告)号：WO2015096784A1

    公开(公告)日：2015-07-02

    申请号：PCT/CN2014/094994

    申请日：2014-12-25

    Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

    Inventor： 张丽 ,  陈志强 ,  黄清萍 ,  金鑫 ,  孙运达 ,  沈乐 ,  赵骥

    IPC: G01N23/04 ,  G01N23/10

    CPC classification number: G01V5/005 ,  G01N23/046 ,  G01T7/08 ,  G06T11/003 ,  G06T2207/10072 ,  G06T2211/40

    Abstract: 一种CT系统及其方法，该系统包括：传送机构；第一扫描级（A），对被检查物体进行扫描，产生第一数字信号；第二扫描级（B），沿着被检查物体的运动方向与第一扫描级（A）间隔预定距离设置；处理装置（130），基于第一数字信号重建被检查物体的第一像质的CT图像，并且对CT图像进行分析；控制装置（140），基于处理装置（130）的分析结果调节所述第二扫描级的扫描参数，使得第二扫描级输出第二数字信号，处理装置（130）至少基于第二数字信号重建被检查物体的第二像质的CT图像，其中第二像质高于第一像质。该系统充分利用了分布式光源取代传统滑环技术所带来的优势。

    成像系统中光机出束控制方法、装置、CT成像系统
    9.
    发明申请
    成像系统中光机出束控制方法、装置、CT成像系统 审中-公开

    公开(公告)号：WO2023078039A1

    公开(公告)日：2023-05-11

    申请号：PCT/CN2022/124586

    申请日：2022-10-11

    Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

    Inventor： 陈志强 ,  张丽 ,  孙运达 ,  赵振华 ,  金鑫 ,  沈乐 ,  梁午阳

    IPC: A61B6/03

    Abstract: 一种成像系统中光机出束控制方法，以及涉及成像系统中光机出束控制装置、CT成像系统、电子设备、存储介质和程序，并且其涉及安检成像技术领域。该控制方法包括接收编码器信号、光机出束信号，并对编码器信号、光机出束信号进行初始化同步（S210）；记录t m时刻编码器的编码值M，t m+1时刻编码器的编码值N，M、N、m为整数（S220）；判断编码值M和编码值N的差值满足预设值a时，确定t m时刻到t m+1时刻的时长为光机的实际出束时间间隔T，a为整数（S230）；基于成像系统的预设出束时间间隔T J和实际出束时间间隔T确定实际出束时间间隔T中的间隙时间T G（S240）；控制光机在间隙时间T G内不发射光束（S250）。该控制方法解决了带速波动导致的采样图像错乱的问题。

    行李物品智能安检系统和方法
    10.
    发明申请
    行李物品智能安检系统和方法 审中-公开

    公开(公告)号：WO2023035770A1

    公开(公告)日：2023-03-16

    申请号：PCT/CN2022/105829

    申请日：2022-07-14

    Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

    Inventor： 张丽 ,  杨洪恺 ,  邢宇翔 ,  孙运达 ,  金鑫 ,  沈乐 ,  常铭 ,  许晓飞

    IPC: G01V5/00

    Abstract: 一种双级安检系统（100），包括：一级检测设备（102），用于对传送设备（104）上的受检物品（106）进行一级检测；二级检测设备（108），用于对已经过一级检测而被确定为可疑的受检物品（106）中的一个或多个特定区域进行二级检测，其中，传送设备（104）包括缓冲传送段（1041），该缓冲传送段（1041）位于一级检测设备（102）和二级检测设备（108）之间，用于将可疑的受检物品（106）运送到二级检测设备（108）；以及控制设备（110），用于根据缓冲传送段（1041）上的可疑的受检物品（106）的运送情况来控制缓冲传送段（1041）的运行以缓冲一级检测设备（102）和二级检测设备（108）的检测速率之间的差异。还提供一种双级安检方法（600，900）。

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