Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Abbildung einer in einem ersten Medium (3) in einer Objektebene (2) angeordneten Probe (1). Eine solche Vorrichtung umfasst ein optisches Übertragungssystem (4), welches die Probe (1) in der Objektebene (2) in ein Zwischenbild (5) in einer Zwischenbildebene (6) abbildet, wobei die Objektebene (2) und die Zwischenbildebene (6) mit einer optischen Achse des Übertragungssystems (4) einen von 90° verschiedenen Winkel einschließen und das optische Übertragungssystem (4) aus zwei Teilsystemen (4a, 4b) mit mehreren Linsen symmetrisch bezüglich einer Symmetrieebene (7) aufgebaut ist, so dass die Abbildung durch das Übertragungssystem mit einem Maßstab von 1:1 erfolgt. Die Vorrichtung umfasst außerdem ein optisches Abbildungssystem (11) mit einem Objektiv (12), dessen optische Achse senkrecht auf der Zwischenbildebene (6) steht und welches auf die Zwischenbildebene (6) fokussiert ist, so dass die Objektebene (2) unverzerrt auf einen Detektor (13) abbildbar ist. Bei einer solchen Vorrichtung sind beide Teilsysteme (4a, 4b) telezentrisch und das optische Übertragungssystem (4) bezüglich einer Pupillenebene symmetrisch aufgebaut, wobei die Objektebene (2) und die Zwischenbildebene (6) die Scheimpflugbedingung erfüllen, und wobei das Zwischenbild (5) in einem zweiten Medium (9), welches einen zum ersten Medium (3) nahezu identischen Brechungsindex aufweist, liegt. Außerdem umfasst die der Probe (1) bzw. dem Zwischenbild (5) am nächsten angeordnete Linsengruppe der Teilsysteme (4a, 4b) mindestens eine katadioptrische Baugruppe.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Lichtblattmikroskopie. Diese Anordnung umfasst eine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (5) zur Beleuchtung einer Probe (3), welche sich auf einem Probenträger in einem Medium (2) befindet, wobei der Probenträger hinsichtlich einer ebenen Bezugsfläche (4) ausgerichtet ist, über einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt, wobei die optische Achse (6) des Beleuchtungsobjektivs (5) und das Lichtblatt in einer Ebene liegen, die mit der Normalen der Bezugsfläche (4) einen von Null verschiedenen Beieuchtungswinkel (ß) einschließt, sowie eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (7) in einem Detektionsstrahlengang, dessen optische Achse (8) mit der Normalen der Bezugsfläche (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (5) einschließt. Die Anordnung umfasst außerdem ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium (2) von dem Beleuchtungsobjektiv (5) und dem Detektionsobjektiv (7) trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsfläche (4) ausgerichteten Grundfläche (9) zumindest in dem für das Beleuchtungsobjektiv (5) und das Detektionsobjektiv (7) für Beleuchtung bzw. Detektion zugänglichen Bereich mit dem Medium (2) in Kontakt steht. Schließlich umfasst die Anordnung auch ein Korrekturlinsensystem mit mindestens einer Korrekturlinse (10, 11, 12) zur Verringerung von solchen Abberationen, welche durch den schrägen Durchtritt von Beleuchtungslicht und / oder zu detektierendem Licht durch Grenzflächen des Trennschichtsystems entstehen. Bei einer solchen Anordnung ist das Korrekturlinsensystem zwischen Beleuchtungsobjektiv (5) und Trennschichtsystem und / oder zwischen Detektionsobjektiv (7) und Trennschichtsystem angeordnet.
Abstract:
Die Erfindung bezieht sich auf eine mikroskopische Abbildungseinrichtung mit einem Objektiv (7), das durch eine transparente Abdeckung hindurch auf einen abzubildenden Bereich einer Probe (1) gerichtet ist, insbesondere einer in einem Probenbehälter (3) befindlichen und von einem Immersionsmedium (2) umschlossenen Probe (1), wobei der Strahlengang die transparente Abdeckung, mindestens eine Wandungen des Probenbehälters (3) und das Immersionsmedium (2) durchdringt. Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine mikroskopische Abbildungseinrichtung der genannten Art so weiterzubilden, dass sowohl bei senkrechter als auch schräger Durchstrahlung einer Probenbehälterwandung oder der transparenten Abdeckung Änderungen der Dicke oder Änderungen der Brechzahl der zu durchdringenden Medien oder des Immersionsmediums (2} schon während der Probenbeobachtung ausgeglichen werden. Die Aufgabe wird dadurch gelöst, dass im Strahlengang der mikroskopischen Abbildungseinrichtung zwischen der Probe (1) und dem Objektiv (7) Mittel zur Kompensation von Abbildungsfehlern schon während der Probenbeobachtung vorgesehen sind, welche die beschriebenen Ursachen haben.
Abstract:
Eine Detektorvorrichtung (113) für ein Mikroskop umfasst ein dispersives Element (211) im Strahlengang (290) von Licht und ein Selektionselement (212). Das Selektionselement (212) trennt einen Strahlengang (291) eines spektralen Teilbereichs des Lichts von dem Strahlengang (290) des Lichts ab. Die Detektorvorrichtung (113) umfasst weiterhin eine Fokussierungsoptik (213), die eingerichtet ist, um den Strahlengang (291) des spektralen Teilbereichs des Lichts auf einen Sensor (214) zu fokussieren. Z.B. kann das Mikroskop ein Konfokalmikroskop sein.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein optisches System (7) mit einer optischen Achse (OA), mit einer Anzeigeeinheit (5) zum Anzeigen eines Bilds, mit einem Okular (6) zum Betrachten des Bilds, wobei das Okular (6) eine Linseneinheit (L1 ) aufweist. Die Anzeigeeinheit (5) ist derart ausgelegt, dass ein Randstrahllichtbündel (9) von einem Rand (8) der Anzeigeeinheit (5) ausgeht und zur Linseneinheit (L1 ) in eine Lichteinfallsrichtung (L) verläuft. Entlang der optischen Achse (OA) und in der Lichteinfallsrichtung (L) sind zunächst die Anzeigeeinheit (5) und dann die Linseneinheit (L1) an der optischen Achse (OA) angeordnet. Zwischen der Linseneinheit (L1 ) und einer Augenpupille (2) ist keine weitere optische Einheit des optischen Systems (7) angeordnet. Das Randstrahllichtbündel (9) weist einen Hauptstrahl (HS) auf. Der Hauptstrahl (HS) verläuft an der Linseneinheit (L1 ) in einer ersten Hauptstrahlhöhe (H1 ) und an der Anzeigeeinheit (5) in einer zweiten Hauptstrahlhöhe (H2). Die erste Hauptstrahlhöhe (H1 ) ist mindestens so groß wie die zweite Hauptstrahlhöhe (H2).
Abstract:
Es wird bereitgestellt ein Okularsystem zum Abbilden eines Objektes als virtuelles Bild, mit einer Relayoptik (4), die eine Linse (6) und einen Umlenkspiegel (7) aufweist, und einem drei optische Flächen (8, 9, 10) aufweisenden Prisma (5), das der Relayoptik (4) so nachgeordnet ist, daß zur Abbildung der Strahlengang vom Objekt (2) zur Relayoptik (4) und von dort über die erste optische Fläche (8) in das Prisma (5) eintritt, durch Reflexionen an der zweiten und dritten optischen Fläche (9, 10) im Prisma (5) genau zweimal gefaltet ist und über die zweite Fläche (9) aus dem Prisma (5) austritt und bis zur Austrittspupille (3) des Okularsystems (1) verläuft, wobei der Strahlengang in der Relayoptik (4) durch den Umlenkspiegel (7) genau einmal gefaltet ist und somit zweimal durch die Linse (6) geht.