摘要:
Photovoltaic thin film quality control is obtained where the thin film is supported by a support and a section of the film is illuminated by a polychromatic illumination source. The source forms on the thin film a continuous illuminated line. Discrete sampled points located on the illuminated line are imaged onto a two dimensional optical switch. A concordance look-up-table between the coordinates of the above sampled points on the thin film and their coordinates on the two dimensional optical switch are generated. The spectral composition of the illumination reflected by the sampled points is determined and photovoltaic thin film parameters applicable to the quality control are derived from the spectral composition of reflected or transmitted by the photovoltaic thin film illumination.
摘要:
Apparatus and method for inspecting surface quality of a moving sheet of metal illuminates a surface of the moving sheet by the use of at least two lamps. The region which is illuminated by the lamps is inspected by a sensing device. The angle of incidence for the light beams from the lamps are from the near and far dark fields. The sensing device picks up highlighted or brightened portions of the sheet due to surface irregularities. By use of a multiplicity of lamps and a single sensing device, such as a video recorder, an inexpensive yet very sensitive system is provided for detecting irregularities in the surface of the moving sheet. The system may be observed by an operator to determine locations of irregularities and as well the system may be adapted to document locations on the moving sheet where the irregularities occur.
摘要:
The invention relates to an image capturing system (10), and to a corresponding method, for determining the position of an embossed structure (30) on a sheet element (4) moved though a viewing area (18), comprising a camera (12) adapted for capturing a line image of the surface of the sheet element (4) in the viewing area (18), and an illumination unit (14) with a plurality of light sources (20, 21,...) each adapted for illuminating the viewing area (18), the light sources (20, 21,...) being arranged at different inclinations with respect to the viewing area (18), and an image evaluation unit (16) adapted for determining an inclination-related parameter for the surface of the sheet element (4) in the viewing area (18) across the viewing area (18).
摘要:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Abbildung eines bahnförmigen Materials (5) mit einer Objektebene, in welcher das bahnförmige Material (5) führbar ist, einer Zeilenkamera (4), einem Objektiv (3), das so eingerichtet ist, dass es einen abzubildenden Streifen mit einer Länge und einer Breite, wobei die Länge größer ist als die Breite, in der Objektebene auf die Zeilenkamera (4) abbildet, und einer streifenförmigen Beleuchtungseinrichtung (1) mit einer Länge und einer Breite, wobei die Länge größer ist als die Breite, wobei die Beleuchtungseinrichtung (1) so eingerichtet ist, dass sich ihre Länge im Wesentlichen parallel zu der Länge des abzubildenden Streifens erstreckt und dass sie im Betrieb der Vorrichtung den abzubildenden Streifen in der Objektebene beleuchtet, mit einem Strahlengang zwischen der Beleuchtungseinrichtung und dem abzubildenden Streifen mit einer streifenförmige Blende (2) mit einer Länge und einer Breite, wobei die Länge größer ist als die Breite, angeordnet ist, deren Länge sich im Wesentlichen parallel zu der Länge des abzubildenden Streifens erstreckt.
摘要:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1a) zur Bestimmung einer Schichtdicke (d) an einem entlang einer Vorschubrichtung bewegten Band (8), umfassend: eine Bewegungseinheit (9) zur Bewegung des Bandes (8) entlang der Vorschubrichtung, eine Lichterzeugungseinheit (2a bis 2c) zur Erzeugung von Beleuchtungsstrahlung (3), eine der Lichterzeugungseinheit (2a bis 2c) nachgeordnete Strahlformungseinheit (4) zur Formung mindestens eines streifenförmigen Beleuchtungsstrahls (7) zur linienförmigen Beleuchtung des Bandes (8) quer zur Vorschubrichtung, eine Detektoreinheit (5) zur Detektion von an dem Band (8) reflektierter und/oder transmittierter Beleuchtungsstrahlung (R), sowie eine Auswerteeinrichtung (6) zur Bestimmung der Schichtdicke (d) anhand der detektierten Beleuchtungsstrahlung (R). Die Vorrichtung (1a) kann auch zur Bestimmung eines Verschmutzungsgrads einer durch Partikel verunreinigten Oberfläche des Bandes genutzt werden, indem an dem Band (8) gestreute Beleuchtungsstrahlung detektiert wird.
摘要:
Eine Anordnung zur Bildaufnahme eines Objektes (1), mit einer Bildaufnahmevorrichtung (2) zur Aufnahme eines Bildes von dem Objekt (1) und einer wenigstens eine Lichtquelle (3a, 3b, 3c) aufweisenden Beleuchtungsvorrichtung zur Beleuchtung des Objektes (1), ist dadurch gekennzeichnet, dass die Bildaufnahmevorrichtung (2) mehrere Kanäle zur getrennten Aufnahme unterschiedlicher Bild-Farbanteile (R, G, B) hat und mehrere Lichtquellen (3a, 3b, 3c) vorhanden sind, welche entsprechend der Bild-Farbanteile (R, G, B) jeweils farbiges Licht abgeben. Ein Verfahren zur Bildaufnahme eines Objektes (1), bei dem das Objekt (1) mittels einer Beleuchtungsvorrichtung beleuchtet wird, und von dem Objekt (1) mittels einer Bildaufnahmevorrichtung (2) ein Bild aufgenommen wird, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Objekt (1) mit Licht unterschiedlicher Spektralfarben (R, G, B) beleuchtet wird und mittels der Bildaufnahmevorrichtung (2) gleichzeitig separate den Spektralfarben entsprechende Bilder aufgenommen werden.
摘要:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion des Benetzungsgrades der Oberfläche eines in Längsrichtung (1) bewegten Bandes (5) und eine entsprechende Vorrichtung. Die Oberfläche des Bandes (5) wird durch eine ine UV-Lichtquelle (2) über die gesamte Breite des Bandes bestrahlt und das an der Oberfläche reflektierete oder emittierte Licht wird mittels zumindest einem Sensor (3) über die gesamte Breite gemessen. Das Verfahren und die Vorrichtung findet Anwendung bei der Bestimmung eines Benetzungsgrades von Stahlbändern mit Öl.