发明公开
- 专利标题: 微影术系统及其使用方法
- 专利标题(英): Mask Cleaning
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申请号: CN201510860745.X申请日: 2015-11-30
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公开(公告)号: CN106483772A公开(公告)日: 2017-03-08
- 发明人: 张书豪 , 陈家桢 , 陈政宏 , 高国璋 , 简铭进 , 简上傑 , 严涛南 , 黄建元
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 徐金国
- 优先权: 14/840,581 2015.08.31 US
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20
摘要:
一种微影术系统及其使用方法,微影术系统包括一负载锁定腔室,此负载锁定腔室包括配置用以接收遮罩的开口;曝光模块,其配置用以经由使用遮罩,使半导体晶圆曝露于光源;及清洗模块,其嵌入在此微影术工具内,此清洗模块配置用以自遮罩清洗碳粒子。本发明内容可提供一种用于高级微影术技术中,保持遮罩干净且无缺陷的方法。此方法所形成的干净无缺陷遮罩,可提升微影术工艺的良率与精准度。
公开/授权文献
- CN106483772B 微影术系统及其使用方法 公开/授权日:2018-07-17
IPC分类: