Invention Grant
- Patent Title: 一种双轴精密离心机相位同步测量系统及测量方法
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Application No.: CN202110957556.XApplication Date: 2021-08-17
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Publication No.: CN113702705BPublication Date: 2024-04-09
- Inventor: 陈文颖 , 刘师辉 , 魏子棱 , 舒杨 , 成永博 , 白俊林 , 吕磊 , 尹鹏 , 付兴
- Applicant: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Applicant Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Assignee: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Current Assignee: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Current Assignee Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Agency: 成都时誉知识产权代理事务所
- Agent 沈成金
- Main IPC: G01R25/08
- IPC: G01R25/08 ; G01C25/00 ; G01B11/26

Abstract:
本发明公开了一种双轴精密离心机相位同步测量系统及测量方法,涉及双轴精密离心机技术领域,实时控制系统包括FPGA芯片、高频脉冲信号采集卡、高频脉冲信号发送卡,高频脉冲信号采集卡以及高频脉冲信号发送卡分别与FPGA芯片连接,工控机通过以太网与高频脉冲信号采集卡连接;工控机还与主轴伺服驱动器连接;高频脉冲信号发送卡与从轴伺服驱动器连接,主轴增量式圆光栅以及从轴增量式圆光栅分别与高频脉冲信号采集卡连接,从轴电机以及从轴绝对式圆光栅分别与从轴伺服驱动器连接;主轴电机以及主轴绝对式圆光栅分别与主轴伺服驱动器连接。
Public/Granted literature
- CN113702705A 一种双轴精密离心机相位同步测量系统及测量方法 Public/Granted day:2021-11-26
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