本发明公开了一种用于可编程逻辑中可变位宽存储器的自动测试电路，包括地址数据产生器、位宽选择器和可变位宽比较器；地址数据产生器用于自动产生15位顺序可自动翻转地址信号和数据、写使能信号，并传输给位宽选择器；位宽选择器接收到来自地址数据产生器的信号后，根据位宽选择情况对接收到的信号进行转换，并将转换后的信号传输至每一个待测存储器；可变位宽比较器用于接收来自待测存储器的输出数据信号，根据选择的位宽对信号进行转换，并将转换后的信号进行比较，得到测试结果后输出结果。本发明能够使用较少的电路结构，实现对可编程逻辑内嵌存储器的自动全遍历测试，并可根据存储器宽度选择适合的位宽进行测试，具备较高的测试效率和灵活性。