一种抗辐照FPGA内嵌PCIExpress IP核的测试电路和方法

    公开(公告)号:CN116450425A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202211485634.1

    申请日:2022-11-24

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 本发明提供了一种抗辐照FPGA内嵌PCIExpress IP核的测试电路和方法,电路包括:测试用输入端口TDI,连接至N个被测PCIExpress IP核的测试用输入端口TI;测试用输出管脚TDO,连接至其中一个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO;所有的被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO都连接至对比模块;对比模块,当N为1时,设定Result信号恒为1;当N大于1时,按位对比N个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO,如果N个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO存在不同,输出Result信号为0,否则,输出Result信号为1;测试机台ATE,往测试用输入管脚TDI中分两次先后输入不同的测试向量进行测试,如果两次测试中,N个测试用输出管脚TDO输出的数据符合预期,且对比模块输出Result信号为1,则认为测试通过。

    一种二阶Booth编码Wallace树乘法器电路的测试方法

    公开(公告)号:CN111025133A

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201911019101.2

    申请日:2019-10-24

    IPC分类号: G01R31/317 G01R31/3181

    摘要: 本发明涉及一种二阶Booth编码Wallace树乘法器电路的测试方法:S1、获取乘法器结构;S2、生成用于测试部分积产生电路的测试向量集合;S3、生成用于部分积压缩电路的测试向量集合:遍历部分积压缩电路中所有的压缩器单元的所有输入,得到部分积阵列输出的集合;根据乘法器拓扑结构,将部分积阵列输出的集合中的每个部分积阵列输出转换成乘法器的原始输入,从而得到用于测试部分积压缩电路的测试向量集合;S4、对比用于部分积产生电路和部分积压缩电路的测试向量,去除重复的测试向量,得到最终的测试向量集输入到乘法器中进行测试验证;S5、采用伪随机码测试方法,对最终求和电路部分的测试。本发明采用较少的测试向量,实现较高的测试覆盖率。

    一种用于抗单粒子翻转存储器的可选位宽纠检错电路

    公开(公告)号:CN110931074A

    公开(公告)日:2020-03-27

    申请号:CN201911167032.X

    申请日:2019-11-25

    IPC分类号: G11C29/42 G06F11/10

    摘要: 一种用于抗单粒子翻转存储器的可选位宽纠检错电路,包括纠检错编码模块和纠检错解码模块;纠检错编码模块能够对11~64位宽的输入数据进行校验码编码操作,生成用于对数据进行纠检错的8位校验码,和输入数据一起输出给纠检错解码模块;纠检错解码模块对数据信号进行解码校验,当数据信号中存在一位错误时输出一位错误提示以及错误位置,并对错误进行纠正,当数据信号中存在两位错误时输出两位错误提示。本发明能够使用较少电路面积,在不占用过多的数据位宽前提下实现对11~64位数据的校验和纠检错,配合耐多位单粒子翻转的存储器结构实现对存储器抗单粒子翻转指标的提升,并可根据用户需求选择启用纠错和检错功能或只启用其中之一,实现更好的灵活性。

    一种自适应电平转换电路
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108712166A

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:CN201810161906.X

    申请日:2018-02-27

    IPC分类号: H03K19/0185 H03K19/0175

    摘要: 一种自适应电平转换电路,当高电压电源输出电压不低于设定阈值时,仅开启宽范围电平转换单元,当高电压电源输出电压低于设定阈值时,再开启加速电平转换单元,宽范围电平转换单元和加速电平转换单元分别控制输出驱动单元输出与输入数据A的逻辑对应的逻辑电压。通过使用宽范围电平转换单元与加速电平转换单元的结合来满足多种电源电压对电平转换电路的需求,通过使用电源电压比较器可以动态控制加速电平转换单元,来实现不同电源电压下自适应的电平转换能力。本发明与传统电平转换电路相比,能够提供更大的电源电压转换范围,同时在不同的电源电压环境下能够提供更高的转换速度。