发明公开
- 专利标题: 一种高可靠低成本的低压大电流器件单粒子测试系统
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申请号: CN202211706610.4申请日: 2022-12-29
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公开(公告)号: CN116148565A公开(公告)日: 2023-05-23
- 发明人: 陈雷 , 刘银萍 , 孙华波 , 张帆 , 杨泽宇 , 杨铭谦 , 刘映光 , 黄辉银 , 吴沛辰 , 周润辉
- 申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 张丽筠
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R31/28
摘要:
本发明提供了一种高可靠低成本的低压大电流器件单粒子测试系统,采用定时刷新机制搭建可靠单粒子测试系统,且无需外加程控电源等供电设备,实现低压大电流复杂器件的电压和电流实时监控。系统包括上位机、主控系统、待测器件电源系统、待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令,监控待测器件电源系统,完成电压和电流监测,并控制待测系统完成单粒子效应评估。待测器件电源系统,由可回读输出电压和电流的电路构成,完成待测器件的供电。主控系统监控待测器件电源系统的输出电压和电流并判定和记录单粒子翻转、单粒子锁定和单粒子功能中断等,最终完成待测低压大电流复杂器件的单粒子效应评估。