公开(公告)号：CN108398631A

公开(公告)日：2018-08-14

申请号：CN201810240769.9

申请日：2018-03-22

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) ,  北京东方计量测试研究所

发明人： 何胜宗 ,  王有亮 ,  梁晓思 ,  陈选龙 ,  季启政 ,  高志良 ,  杨铭

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。

公开(公告)号：CN109948276B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN201910243451.0

申请日：2019-03-28

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 王弘剑 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G06F30/27 ,  G06N20/00

摘要： 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。

公开(公告)号：CN110297207A

公开(公告)日：2019-10-01

申请号：CN201910612533.8

申请日：2019-07-08

申请人： 国网上海市电力公司 ,  中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 朱彬若 ,  王弘剑 ,  张垠 ,  陈金涛 ,  王新刚 ,  江剑峰 ,  朱铮 ,  顾臻 ,  赵舫 ,  朱文君 ,  魏晓川 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G01R35/04

摘要： 本发明提供了一种智能电表的故障诊断方法、系统及电子装置，其中，该方法包括：获取智能电表的测试数据；对测试数据进行预处理，得到测试数据的预处理结果；对预处理结果进行联机分析处理，得到测试数据对应的联机分析处理结果；将联机分析处理结果输入至预先完成训练的故障诊断模型中，输出智能电表的故障诊断结果；故障诊断模型通过机器学习模型训练得到。该方法通过机器学习算法实现电表故障案例数据的综合分析，形成完整性和鲁棒性高的相关识别模型，提升了智能电表故障诊断中的准确率。

公开(公告)号：CN109948276A

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201910243451.0

申请日：2019-03-28

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 王弘剑 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06N20/00

摘要： 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。

公开(公告)号：CN111858705A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010608581.2

申请日：2020-06-29

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 王弘剑 ,  彭泽亚 ,  刘丽媛 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G06F16/2458 ,  G06K9/62 ,  G06F17/18

摘要： 本发明公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。

公开(公告)号：CN108398631B

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201810240769.9

申请日：2018-03-22

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) ,  北京东方计量测试研究所

发明人： 何胜宗 ,  王有亮 ,  梁晓思 ,  陈选龙 ,  季启政 ,  高志良 ,  杨铭

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。