公开(公告)号：CN110297207A

公开(公告)日：2019-10-01

申请号：CN201910612533.8

申请日：2019-07-08

Applicant: 国网上海市电力公司 ,  中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 朱彬若 ,  王弘剑 ,  张垠 ,  陈金涛 ,  王新刚 ,  江剑峰 ,  朱铮 ,  顾臻 ,  赵舫 ,  朱文君 ,  魏晓川 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC: G01R35/04

Abstract: 本发明提供了一种智能电表的故障诊断方法、系统及电子装置，其中，该方法包括：获取智能电表的测试数据；对测试数据进行预处理，得到测试数据的预处理结果；对预处理结果进行联机分析处理，得到测试数据对应的联机分析处理结果；将联机分析处理结果输入至预先完成训练的故障诊断模型中，输出智能电表的故障诊断结果；故障诊断模型通过机器学习模型训练得到。该方法通过机器学习算法实现电表故障案例数据的综合分析，形成完整性和鲁棒性高的相关识别模型，提升了智能电表故障诊断中的准确率。

公开(公告)号：CN109948276B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN201910243451.0

申请日：2019-03-28

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王弘剑 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC: G06F30/27 ,  G06N20/00

Abstract: 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。

公开(公告)号：CN118643673A

公开(公告)日：2024-09-13

申请号：CN202411009215.X

申请日：2024-07-26

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王弘剑 ,  林琦越 ,  黄文锋 ,  徐军军 ,  蔡伟 ,  李伟 ,  石高明 ,  周鑫鑫

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 本申请涉及一种元器件失效分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取针对待分析元器件的多个失效信息和分析方式序列，将各失效信息分别进行词向量转化，得到各失效信息各自的失效词向量，针对分析方式序列中的每一分析方式，从各失效信息中，确定与分析方式匹配的目标信息，基于目标信息的失效词向量，对待分析元器件进行失效分析，确定待分析元器件对应于分析方式的失效现象，不限于只能从实际试验中得到待分析元器件的失效现象，采用上述方法，由于各失效现象中包含了各分析方式中的先后顺序，基于各分析方式各自对应的失效现象，确定待分析元器件的失效原因，提高了所得到的失效原因的准确性。

公开(公告)号：CN111858705A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010608581.2

申请日：2020-06-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王弘剑 ,  彭泽亚 ,  刘丽媛 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC: G06F16/2458 ,  G06K9/62 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。

公开(公告)号：CN114332859A

公开(公告)日：2022-04-12

申请号：CN202111677451.5

申请日：2021-12-31

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 郭小童 ,  王弘剑 ,  孙朝宁 ,  李勇 ,  肖慧 ,  刘加豪 ,  杨智帆

IPC: G06V20/69 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08 ,  G06V10/26

Abstract: 本申请涉及一种合金显微组织识别模型构建以及识别方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取不同应力和热处理状态的合金显微组织图像，通过图像分割，将获得的γ’相显微组织图像集输入至预置卷积神经网络模型进行训练，获得合金显微组织图像的卷积神经网络模型。在进行应用识别时，将获得的待测γ’相显微组织图像集输入至合金显微组织图像的卷积神经网络模型，获得待测合金显微组织图像对应的应力和热处理状态线性分类结果。采用本方法能够提高合金显微组织识别效率。

公开(公告)号：CN109948276A

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201910243451.0

申请日：2019-03-28

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王弘剑 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC: G06F17/50 ,  G06N20/00

Abstract: 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。