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公开(公告)号：CN110297207A
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201910612533.8
申请日：2019-07-08
Applicant: 国网上海市电力公司 , 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/04
Abstract: 本发明提供了一种智能电表的故障诊断方法、系统及电子装置，其中，该方法包括：获取智能电表的测试数据；对测试数据进行预处理，得到测试数据的预处理结果；对预处理结果进行联机分析处理，得到测试数据对应的联机分析处理结果；将联机分析处理结果输入至预先完成训练的故障诊断模型中，输出智能电表的故障诊断结果；故障诊断模型通过机器学习模型训练得到。该方法通过机器学习算法实现电表故障案例数据的综合分析，形成完整性和鲁棒性高的相关识别模型，提升了智能电表故障诊断中的准确率。
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公开(公告)号：CN118133728A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311725084.0
申请日：2023-12-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/30
Abstract: 本申请涉及一种电路生成方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取用户输入的电路需求信息；根据所述电路需求信息从电路模板数据库中存储的多个电路模板中筛选得到至少一个目标电路模板，并计算各所述目标电路模板的初始参数信息；根据各所述目标电路模板的初始参数信息和电路元件参数库中存储的多个第一电路元件的标准参数值，获取各所述目标电路模板的目标参数信息；根据各所述目标电路模板和各所述目标电路模板的目标参数信息，生成多个目标电路。采用本方法能够提高电路设计效率。
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公开(公告)号：CN117268824A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311393086.4
申请日：2023-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种微通道散热器性能测试夹具与装置，夹具包括引流组件及定位组件。引流组件设有进液微通道与出液微通道，进液微通道、出液微通道分别用于与微通道散热器连通，引流组件还形成有用于与微通道散热器位置对应的观察窗口。定位组件可拆卸地设置于引流组件上，定位组件用于使得微通道散热器压紧固定于引流组件上，定位组件还用于固定芯片样品。可以采用PIV显微镜对微通道散热器进行流场可视化实验研究，具体通过观察窗口获取微通道散热器的图像信息，根据图像信息得到流速矢量图，实现流场流速分布的可视化。此外，微通道散热器流场观测结果可作为微通道散热器的结构优化依据，以提高流道温度分布均匀性和总体散热能力。
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公开(公告)号：CN114034524B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202111226491.8
申请日：2021-10-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开一种样气采样装置及气密封元器件内部气氛分析设备。样气采样装置包括上压块和下压块，上压块设有进气通道，下压块设有用于储存样气的样气腔，下压块与上压块连接，进气通道与样气腔连通，样气腔的体积大小可调；或上压块设有用于与下压块可拆卸连接的连接部，当上压块通过连接部与下压块连接时，进气通道与样气腔连通。气密封元器件内部气氛分析设备包括该样气采样装置。使用样气采样装置进行气体采样时，将下压块与上压块连接以使进气通道与样气腔连通，标准样气通过进气通道进入样气腔内部以使样气腔中储存一定体积的标准样气，气密封元器件内部气氛分析设备的取样装置伸入样气腔，即可获取一定体积的标准样气进行下一步的校准。
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公开(公告)号：CN114800107B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202210736420.0
申请日：2022-06-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种芯片去层调节装置及制样方法，其特征在于，芯片去层调节装置包括：底座；高度调节件，高度调节件与底座活动连接，高度调节件用于调整芯片样本相对于底座的高度；位置调节件，位置调节件与高度调节件连接，其中，底座具有夹持表面，夹持表面与位置调节件的一端相对，位置调节件与夹持表面之间形成夹持空间，夹持空间用于夹持芯片样品，位置调节件用于调整芯片样本在夹持表面上的夹持位置。通过调节位置调节件到底座的夹持表面的间距，实现对夹持空间大小的调节并调整芯片样本在夹持表面上的夹持位置，保证对芯片样品研磨时能同时研磨到待观察面的多层断面；通过调节高度调节件，实现对芯片样品每次研磨量的控制调节，保证研磨质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111858705A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010608581.2
申请日：2020-06-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F16/2458 , G06K9/62 , G06F17/18
Abstract: 本发明公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。
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公开(公告)号：CN110963526A
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201911256758.0
申请日：2019-12-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种钛基氧化物二维材料及其制备方法。所述制备方法包括如下步骤：(1)获取钛酸铯粉末，并与盐酸的水溶液混合，进行离子交换，收集沉淀物，清洗，干燥，得层状结构的水合钛酸；(2)将所述层状结构的水合钛酸分散于水中，加入插层剂进行剥层处理，然后离心，收集清液。该制备方法能够通过便于工业化应用的工艺方法制备得到钛基二维材料，能耗小，成本低，工艺便于控制，且制得的钛基二维材料的二维平面面积大，功能性优异。
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公开(公告)号：CN108996544A
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201810951301.0
申请日：2018-08-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: C01G23/00
Abstract: 本发明提供了一种钛酸锂材料及其制备方法与包含该钛酸锂材料的钛酸锂电池，属于锂离子电池负极材料制备技术领域，本发明所述钛酸锂材料具有空心的立方体结构，一方面，通过空心结构的构筑，能够显著提高钛酸锂材料的比表面积，缩短电子传输路径，提高钛酸锂材料的电子导电率，进而提高其电化学动力学性能；另一方面，通过立方体形貌的设计，能够提高微米级立方体形貌整体的稳定性，同时，还有助于暴露纳米级颗粒的活性晶面，从而能提高钛酸锂材料的倍率性能和电化学活性。因此，本发明所述的钛酸锂材料，与现有技术中的钛酸锂相比，比表面积更好、结构更稳定、反应活性更高。
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公开(公告)号：CN118779782A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410748014.5
申请日：2024-06-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/2433 , G06F18/214 , G06F18/213 , G06N3/0464 , G06F18/10 , G06F17/14
Abstract: 本公开提供一种时序数据故障诊断方法、装置、电子设备及存储介质，属于故障诊断技术领域，方法包括获取时序数据，根据所述时序数据的频域数据确定所述时序数据对应的近似最佳感受野；根据所述近似最佳感受野对预先构建的自适应Inception网络进行调整，得到调整后的自适应Inception网络；输入所述时序数据至所述调整后的自适应Inception网络，得到所述时序数据的特征数据以便进行预测、分类或故障诊断。本公开根据所述时序数据的频域数据确定所述时序数据对应的近似最佳感受野，无需再为了选取合适的卷积核而做大量实验，降低了时间成本。
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公开(公告)号：CN113299355B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202110494242.0
申请日：2021-05-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种高频基板的可靠性评估方法，包括以下步骤：对未经湿热老化处理的高频基板样品和经不同程度湿热老化处理的高频基板样品进行烘干处理后进行电性能参数测试、化学结构分析、热分析及显微组织分析，得到电性能参数信息、化学结构信息、热力学特性信息及显微结构信息；分析未经湿热老化处理、经不同程度湿热老化处理的高频基板样品的电性能参数、化学结构、热力学特性、显微结构的演变趋势；建立未经湿热老化处理、经不同程度湿热老化处理的高频基板样品的电性能参数、化学结构、热力学特性、显微结构之间的关联关系。本发明能够全方位表征高频基板在湿热老化过程中的退化特性及演变规律，为产品设计提供全面参考。
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