具有延伸的静电卡盘电极的高温基座

    公开(公告)号:CN116325073A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202180067137.7

    申请日:2021-09-28

    IPC分类号: H01J37/32

    摘要: 一种被配置成支撑具有直径D的衬底的衬底支撑件包含:第一内部电极和第二内部电极,其各自都是D形,限定了小于D的第一外径,且被配置成连接至静电卡盘电压,以将所述衬底夹持至所述衬底支撑件上。外部电极包含围绕所述第一内部电极和所述第二内部电极的环形外部,以及通过所述第一内部电极和所述第二内部电极之间以连接至所述环形外部的内径的相对侧的中心部。所述环形外部的所述内径大于所述直径D,使得所述环形外部的所述内径以及所述中心部和所述环形外部两者之间的交叉点位于所述衬底的所述直径D的径向外侧。

    衬底处理系统的ESC的底涂层覆盖和电阻控制

    公开(公告)号:CN118660987A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202280090426.3

    申请日:2022-12-13

    摘要: 一种静电卡盘(ESC)底涂系统包含存储器和控制器。该存储器储存底涂应用。该控制器被配置成执行该底涂应用以进行:确定底涂参数;执行完整清洁工艺以移除在衬底处理系统的处理室中的底涂沉积物;以及基于该底涂参数,执行一或多个沉积工艺,以在该ESC上沉积一或多个底涂层,以提供具有总厚度介于7‑15μm之间的整体底涂层,在该ESC上的衬底进行后续沉积工艺期间,该一或多个底涂层提供对该ESC的保护。

    制造室中异常等离子体事件的检测和定位

    公开(公告)号:CN114729835A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202080080541.3

    申请日:2020-11-18

    IPC分类号: G01J1/42

    摘要: 公开了一种用于确定在多站集成电路制造室的处理站处或附近发生的异常等离子体事件的发生的装置。在特定实施方案中,响应于异常等离子体事件而产生的光发射可以由多个光电传感器中的至少一个光电传感器检测。处理器可以与多个光传感器协作以确定异常等离子体事件已经发生在多站集成电路制造室的特定处理站处或附近。