去除衬底残留物的原位背面等离子体处理

    公开(公告)号:CN117981042A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202280064268.4

    申请日:2022-09-15

    IPC分类号: H01J37/32 H01L21/687

    摘要: 一种处理衬底的方法,将该衬底装载至穿过基座的多个升降销上,该基座配置在处理室中。将该多个升降销降低以将该衬底搁置在该基座上。供应沉积气体混合物以将膜沉积在该衬底上。停止该沉积气体混合物的该供应。使用该多个升降销将该衬底升高至该处理室中的该基座之上。供应蚀刻气体混合物。在该衬底与该基座的该表面之间激励该处理室中的等离子体以去除残留膜。

    衬底处理系统的ESC的底涂层覆盖和电阻控制

    公开(公告)号:CN118660987A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202280090426.3

    申请日:2022-12-13

    摘要: 一种静电卡盘(ESC)底涂系统包含存储器和控制器。该存储器储存底涂应用。该控制器被配置成执行该底涂应用以进行:确定底涂参数;执行完整清洁工艺以移除在衬底处理系统的处理室中的底涂沉积物;以及基于该底涂参数,执行一或多个沉积工艺,以在该ESC上沉积一或多个底涂层,以提供具有总厚度介于7‑15μm之间的整体底涂层,在该ESC上的衬底进行后续沉积工艺期间,该一或多个底涂层提供对该ESC的保护。

    利用晶片弯曲的薄膜生长调节
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118613897A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202380019023.4

    申请日:2023-01-30

    摘要: 本文描述了一种使用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)处理以调节晶片上的薄膜生长的处理室和方法。在第一沉积阶段期间,在处理室中的基座上所设置的晶片上沉积膜的第一部分。在第二沉积阶段期间,在该晶片上沉积该膜的第二部分。该晶片在该第一和/或该第二沉积阶段之前从该基座解除夹持,且在该第一和/或该第二沉积阶段期间保持解除夹持。该晶片在该解除夹持的沉积阶段期间具有非零晶片弯曲,以在晶片上提供该膜的径向不均匀厚度轮廓。

    用于薄膜沉积的等离子体增强晶片浸泡

    公开(公告)号:CN113196449A

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN201980083457.4

    申请日:2019-10-02

    摘要: 公开了设备与方法,其用于将衬底提供到处理室中的衬底支撑件上;在所述处理室中产生惰性等离子体;以及维持所述惰性等离子体,以在从提供所述衬底到所述衬底支撑件上小于30秒内将所述衬底加热到稳定状态温度,其中所述稳定状态温度适于进行等离子体增强化学气相沉积(PECVD)。一种设备可包含:处理室;处理站,该处理站包括衬底支撑件;处理气体单元,该处理气体单元被设置成使惰性气体流动到由该衬底支撑件所支撑的衬底上;等离子体源,该等离子体源被设置成在该处理站中产生惰性等离子体;以及控制器,该控制器包括被设置成执行以下操作的指令:使该惰性气体流动到该衬底上;在第一处理站中产生该惰性等离子体;以及维持该惰性等离子体以由此加热该衬底。