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公开(公告)号：CN105247376B
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201480030949.4
申请日：2014-05-30
申请人： 亚德诺半导体集团
CPC分类号： G01R17/00 , G01R1/203 , G01R15/144 , G01R15/146 , G01R17/02 , G01R19/0084 , G01R19/0092 , G01R19/16542 , G01R19/2513 , G01R27/08 , G01R27/14
摘要： 本发明涉及电气测量设备(10)。电气测量设备(10)包括测量装置(20，24)，测量装置(20，24)被构造为关于电路(12，14，16，18)布置，电路(12，14，16，18)产生电信号，测量装置(20，24)在如此布置时操作用于测量电信号。电气测量设备(10)还包括信号源(22)，信号源(22)操作用于将参考输入信号施加于测量装置(20，24)，由此来自测量装置的输出信号包括与电信号对应的电输出信号和与参考输入信号对应的参考输出信号，参考输入信号具有在多个周期中的每个周期上重复的基本上分段恒定的形式。电气测量设备(10)还包括处理设备(26)，处理设备(26)操作用于：确定至少一个累积表示，累积表示的确定包括对输出信号的多个接收的部分求和，所述多个接收的部分中的每个部分对应于参考输入信号的周期的至少一部分并且是相同部分；以及根据所述至少一个累积表示和参考输入信号，确定用于测量装置的传递函数、用于测量装置的传递函数的变化和电信号中的至少一个。
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公开(公告)号：CN107132417A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710350342.X
申请日：2017-05-18
申请人： 西安工业大学
摘要： 本发明涉及一种抗电路参数漂移的高精度电阻测量方法，在电桥电路中，给待测电阻所在的支路上分别接入三个精确标定阻值已知的低温飘精密电阻，对接入三个低温飘精密电阻的电桥电路输出值分别进行测量，根据三组测量值和三个低温飘精密的电阻值计算电桥电路的参数，最后接入待测电阻，通过电路参数和待测电阻的测量数据计算出待测电阻的实际阻值。本发明的电阻测量方法在实际解算过程中无需关心测量电路的参数，最终解算结果仅与三个低温飘精密电阻在当前环境和电路元件参数下的测量值有关，因而测量电路的测量精度仅与三个低温飘精密电阻的稳定性有关；通过精心筛选和精密标定这三个低温飘精密电阻，即可获得待测电阻的高精度低温飘电阻值。
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公开(公告)号：CN107478957A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710797397.5
申请日：2017-09-06
申请人： 特变电工新疆新能源股份有限公司
CPC分类号： G01R31/085 , G01R17/00 , G01R31/003
摘要： 本发明公开了一种用于直流输电故障电流试验的全桥模块拓扑及试验方法，该拓扑包括由四个开关管组成的全桥电路，隔离单元、反压单元、旁路单元、直流电容模块和旁路开关K；所述全桥电路中第一开关管T1和第三开关管T3串联连接构成全桥电路的第一桥臂，全桥电路中第二开关管T2和第四开关管T4串联连接构成全桥电路的第二桥臂；所述隔离单元与直流电容串联连接后与全桥电路的两个桥臂并联连接；所述反压单元和旁路单元也是与全桥电路的两个桥臂并联连接；所述全桥电路的输出端并联一旁路开关K；应用该拓扑电路进行故障电流试验，提供了故障电流和施加反向电压相互独立的两种回路，有效评估设备的瞬态承受能力及器件寿命，减少系统工程故障率，提升了系统效率及可靠性。
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公开(公告)号：CN105759889A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201610003964.0
申请日：2016-01-04
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号： G05F1/565
摘要： 本发明提供输出电压的范围较大的恒流电路。第1晶体管(M1)和第2晶体管(M2)构成电流镜电路，通过电流控制电路(20)来使流过第2晶体管(M2)的第2电流(I2)保持恒定。因此，输出到负载(RL)的第1晶体管(M1)的第1电流(I1)被保持为与第2晶体管(M2)的第2电流(I2)相应的恒定的值。此外，由于第2晶体管(M2)的漏极电压(Vd2)被控制为与第1晶体管(M1)的漏极电压(Vd1)相等，因此即使输出端子(To)的电压(Vo)根据负载(RL)的阻抗的变化而发生变化，第1电流(I1)与第2电流(I2)之比也大致等于第1晶体管(M1)与第2晶体管(M2)的尺寸比“K”。即，第1晶体管(M1)和第2晶体管(M2)作为电流镜电路而高精度地进行动作。
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公开(公告)号：CN104567974A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410555070.3
申请日：2014-10-17
申请人： 英飞凌科技股份有限公司
IPC分类号： G01D18/00
CPC分类号： G01R33/091 , G01D5/145 , G01R17/00 , G01R33/0023 , G01R33/09 , G01R35/00
摘要： 实施例涉及包括第一测量桥电路的装置。第一测量桥电路包括用于响应要测量的量提供第一半桥信号的第一半桥和响应该量提供第二半桥信号的第二半桥。该装置进一步包括第二测量桥电路。第二测量桥电路包括用于响应该量提供第三半桥信号的第三半桥和响应该量提供第四半桥信号的第四半桥。该装置还包括误差检测器。误差检测器被配置为基于第一半桥信号、第二半桥信号、第三半桥信号和第四半桥信号的组合来确定指示量测量中的误差的误差信号。
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公开(公告)号：CN104350680B
公开(公告)日：2017-12-22
申请号：CN201380030787.X
申请日：2013-04-15
申请人： 罗伯特·博世有限公司
IPC分类号： H03K17/00
摘要： 一种电路装置具有第一电容器、第二电容器和第三电容器。电容器的第一电容器片分别与第一电路节点连接。电路装置被构造为给第一电容器施加依赖于时间的第一电压、给第二电容器施加依赖于时间的第二电压、以及给第三电容器施加依赖于电压的第三电压。第一电压和第二电压被反相地定时。第二电压和第三电压被同相地定时。该电路装置具有放大器、同步解调器和比较器。放大器的输入端与第一电路节点以及与地接触部连接。同步解调器被设置为将放大器的输出信号与第一电压的时钟同步地交替地施加到比较器的两个输入端上。该电路装置被构造为根据比较器的输出值生成调节值。该电路装置还被构造为根据调节值来改变第一电压以及第三电压的幅度数值和/或第二电压的幅度数值。
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公开(公告)号：CN104280700B
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201410508055.3
申请日：2014-09-28
申请人： 江苏多维科技有限公司
摘要： 本发明提出了一种单芯片差分自由层推挽式磁场传感器电桥及制备方法。磁场传感器电桥包括衬底、错列软磁通量集中器阵列、以及位于衬底上具有X向磁敏感方向的GMR自旋阀或者TMR磁电阻传感单元阵列，软磁通量集中器包含平行于X轴和Y轴的边以及四个角，从左上位置顺时针依次标记为A、B、C和D，磁电阻传感单元位于软磁通量集中器之间间隙处，同时对应软磁通量集中器A、C角位置以及B、D角位置的磁电阻传感单元分别定义为推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元，推磁电阻传感单元电连接成一个或多个推臂，挽磁电阻传感单元电连接成一个或多个挽臂，推臂和挽臂电连接成推挽式传感器桥。该发明功耗低，磁场灵敏度高，可以测量Y方向磁场。
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公开(公告)号：CN104428628B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201380033867.0
申请日：2013-06-24
申请人： 斯奈克玛
CPC分类号： G01R17/00 , G01D5/2291 , G01D18/00 , G01R19/0084
摘要： 本发明涉及一种用于监测LVDT传感器的方法，所述传感器包括两个二次电路，其特征在于其包括以下循环步骤：(E1)计算在给定时刻和先前时刻时二次电路中的一个的端子处的电压之间的差；(E1)计算在给定时刻和先前时刻在二次电路中的另一个的端子处的电压之间的差；(E2)计算先前计算的两个差的和；(E3)根据先前计算的和与零相距的距离修改指示器的值，和(E4)比较所述指示器与至少一个预定阈值。
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公开(公告)号：CN105247376A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201480030949.4
申请日：2014-05-30
申请人： 亚德诺半导体集团
CPC分类号： G01R17/00 , G01R1/203 , G01R15/144 , G01R15/146 , G01R17/02 , G01R19/0084 , G01R19/0092 , G01R19/16542 , G01R19/2513 , G01R27/08 , G01R27/14
摘要： 本发明涉及电气测量设备(10)。电气测量设备(10)包括测量装置(20，24)，测量装置(20，24)被构造为关于电路(12，14，16，18)布置，电路(12，14，16，18)产生电信号，测量装置(20，24)在如此布置时操作用于测量电信号。电气测量设备(10)还包括信号源(22)，信号源(22)操作用于将参考输入信号施加于测量装置(20，24)，由此来自测量装置的输出信号包括与电信号对应的电输出信号和与参考输入信号对应的参考输出信号，参考输入信号具有在多个周期中的每个周期上重复的基本上分段恒定的形式。电气测量设备(10)还包括处理设备(26)，处理设备(26)操作用于：确定至少一个累积表示，累积表示的确定包括对输出信号的多个接收的部分求和，所述多个接收的部分中的每个部分对应于参考输入信号的周期的至少一部分并且是相同部分；以及根据所述至少一个累积表示和参考输入信号，确定用于测量装置的传递函数、用于测量装置的传递函数的变化和电信号中的至少一个。
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公开(公告)号：CN106468736A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201610806419.5
申请日：2016-08-19
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC分类号： G01R27/02
CPC分类号： G01N27/06 , G01R17/00 , G01R27/22 , G01R35/005 , G01R27/02
摘要： 本发明涉及用于通过导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法，所述方法包括以下步骤：确定所述电导率传感器的测量值，确定被集成在所述电导率传感器内的参考电路的参考测量值，从所述参考电路的所述参考测量值导出至少一个调整值，通过所述至少一个调整值校正所述电导率传感器的所述测量值。
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