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公开(公告)号：CN117970068A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410359012.7
申请日：2024-03-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种体二极管的脉冲电流试验条件确定方法、装置和设备。所述方法包括：根据体二极管的器件特性参数，确定参数信息中的目标电流幅值；基于目标电流幅值，确定体二极管在不同结温下的电压和体二级管在不同脉冲宽度下的电压信息；根据体二极管在不同结温下的电压和体二级管在不同脉冲宽度下的电压信息，确定参数信息中的目标脉冲宽度；基于目标电流幅值和目标脉冲宽度，确定体二极管在不同占空比下的电压变化信息；根据体二极管在不同结温下的电压和体二极管在不同占空比下的电压变化信息，确定参数信息中的目标占空比。采用本方法能够为体二极管的脉冲电流试验提供明确的试验条件。
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公开(公告)号：CN117491814B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：#imgabs0#该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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公开(公告)号：CN113132521B
公开(公告)日：2024-04-23
申请号：CN202110238546.0
申请日：2021-03-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H04M1/24
Abstract: 本发明涉及辐射效应评估技术领域，公开了一种移动终端软故障测试方法和系统，包括使得待测移动终端处于测试模式之下；使用中子束流对所述待测移动终端进行辐照测试；控制所述待测移动终端运行不同的应用功能；对所述待测移动终端进行监测，观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况；根据所述错误情况区分不同的软故障类型。使用中子束流模拟真实环境中大气中子对待测移动终端的辐照。观察并统计待测移动终端在不同运行模式下的错误情况，并基于待测移动终端的错误情况区分不同的软故障类型。通过高通量的中子源对待测移动终端进行辐照试验，快速激发待测移动终端中可能存在的软故障类型，向产品研发人员提供有效数据支撑。
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公开(公告)号：CN111680392B
公开(公告)日：2024-04-23
申请号：CN202010328159.1
申请日：2020-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备。本方法包括：计算机设备通过根据预设的紧缩系统确定规则，构建全系统对应的紧缩系统；根据紧缩系统的设备参数和全系统的设备参数，确定紧缩系统的试验方案；根据紧缩系统的试验方案对紧缩系统进行可靠性试验，并根据可靠性试验的试验结果计算得到紧缩系统的量化值，以表征紧缩系统对应的全系统的可靠性。在本方法中，由于计算机设备根据紧缩系统的确定规则构建全系统的紧缩系统，得到的紧缩系统保留了全系统中进行可靠性量化试验必要的组成结构，从而使得紧缩系统的可靠性试验结果更加贴合全系统的可靠性试验结果，提高了可靠性试验结果的准确性。
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公开(公告)号：CN117392242B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311689964.7
申请日：2023-12-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/80
Abstract: 本申请涉及一种成像系统标定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过根据扫描电子显微镜SEM的样品台运动前，SEM的成像系统采集的第一SEM图像，确定施加至样品台在世界坐标系下的第一运动量，然后根据第一SEM图像和基于第一运动量控制样品台运动后成像系统采集的第二SEM图像，确定在图像坐标系下的第二运动量，最后根据第一运动量、第二运动量和成像模型，对成像系统进行标定。由于本申请实施例中无需针对成像系统不同的放大倍数更换不同的定制化高精度标定模板，而是根据第一运动量、第二运动量和成像模型确定参数，从而对成像系统进行标定，因此简化了标定操作，提高了操作的灵活性，省时省力，节约了成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115097277B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202210697645.X
申请日：2022-06-20
Abstract: 本发明公开了柔性直流换流阀功率单元的大气中子加速辐照试验方法，包括：在预设的第一数量的试验温度下，对多个待测功率单元注入中子束流并施加预设的第二数量的试验电压，对多个待测功率单元进行试验，功率单元为功率器件或功率器件内的芯片；监测并记录试验过程中的中子注量和各待测功率单元的泄漏电流，根据预设的失效条件判断各待测功率单元是否失效，预设的失效条件与泄漏电流相关；当满足预设的结束条件时，停止注入中子束流并结束试验，预设的结束条件与中子注量、柔性直流换流阀使用地的海拔高度相关。本发明针对高海拔地区的工作环境，测试效率高，能准确评估功率单元因大气中子引起的失效率，获得功率单元的安全工作电压边界。
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公开(公告)号：CN112506933B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202011499196.5
申请日：2020-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F16/22 , G06F16/2458
Abstract: 本发明公开了一种高速率多通道时间序列数据存储方法，包括：当数据采集达到第三时间片段长度时，对数据进行暂时存储；判断数据采集是否达到设定的数据采集总时长或数据总存储量；如果为是，则停止数据采集；如果为否，则每间隔第四时间片段长度进行异常检测；如果结果为正常，则将暂时存储的数据更新为最近的第三时间片段长度的数据，继续进行数据采集并重复是否停止数据采集的判断和异常检测，并且每当采集的数据量达到第一时间片段长度时，存储第二时间片段长度的数据，并计算数据的指标特征并存储；如果结果为异常，则继续采集和存储第五时间片段长度的数据，进行告警提示并停止数据采集。本发明能够有效减少数据存储空间，提高数据采集质量。
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公开(公告)号：CN117828873A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311873586.8
申请日：2023-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G05B23/02 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种装备任务可靠性定量验证方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：计算能够有效验证装备任务可靠性指标的抽样次数，对目标装备的故障模式进行抽样，得到任务执行时间区间内目标装备可能发生的初始故障模式组合；对目标装备进行故障注入试验，根据故障注入试验结果从初始故障模式组合中确定目标故障模式组合，目标故障模式组合为会导致目标装备任务执行失败的故障模式组合；根据目标故障模式组合和抽样次数，验证目标装备的任务可靠性指标是否满足。通过上述方法可以增加任务可靠性验证的准确性。
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公开(公告)号：CN117828576A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311846040.3
申请日：2023-12-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种集成验证板卡系统及集成验证方法，该系统包括验证装置、信号中心和控制器；验证装置连接控制器和信号中心；验证装置还用于连接多个待验证器件；控制器还用于连接上位机；各待验证器件包括至少两种器件类型；控制器接收上位机发送的验证指令，基于验证指令确定验证信号，并将验证信号发送给验证装置；验证装置将验证信号施加至各待验证器件中的目标器件；目标器件的器件类型与验证信号的信号类型匹配；信号中心通过验证装置获取目标器件基于验证信号输出的反馈信号，将反馈信号发送至控制器；控制器基于验证信号和反馈信号进行信号分析，确定并向上位机反馈目标器件的验证结果。采用上述系统能够提高验证效率。
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公开(公告)号：CN117827559A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311668058.9
申请日：2023-12-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/22 , G06F11/273
Abstract: 本申请涉及一种验证板卡和芯片验证系统，包括验证子板和验证母板，验证子板连接验证母板和被测芯片，验证子板用于接入被测芯片，并与验证母板匹配连接，验证母板用于对接入的被测芯片进行测试，并分析得到测试结果。通过将验证板卡拆分为验证母板和验证子板，设置能够与验证母板匹配连接的验证子板与被测芯片进行连接，将常用的测试功能设置于验证母板，由验证母板通过验证子板对被测芯片进行测试。在试验过程中，只需将对应的验证子板和验证母板连接就可以对被测芯片进行测试，不再需要为不同的被测芯片分别设置完整的验证板卡，减少了验证板卡的设计量，减少验证板卡的研发周期，缩短被测芯片的验证周期，提高验证效率。
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