一种功率半导体器件封装结构

    公开(公告)号:CN209045530U

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201821598528.3

    申请日:2018-09-28

    Abstract: 本实用新型公开了一种功率半导体器件封装结构,该封装结构包括:至少一个封装子模组,包括:依次层叠设置的上垫片、功率芯片、芯片定位框架和下垫片,其中,上垫片的尺寸不小于下垫片的尺寸,且上垫片的尺寸与下垫片的尺寸的差异小于预设差值;芯片定位框架具有与芯片终端区接触的接触部,接触部和芯片终端区之间设置有粘接层,以使接触部和芯片终端区粘接,通过实施本实用新型,有效地减小了功率半导体器件封装时芯片的弯曲,避免了芯片因产生裂纹甚至发生脆断而失效,提高了功率半导体器件的可靠性;另一方面减小甚至消除了芯片终端和定位框架之间的间隙,显著增加了芯片的耐压等级,满足电力系统对器件电压等级的要求。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种功率半导体器件封装结构

    公开(公告)号:CN209045529U

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201821595515.0

    申请日:2018-09-28

    Abstract: 本实用新型公开了一种功率半导体器件封装结构,该封装结构包括:至少一个封装子模组,该封装子模组包括:上垫片、功率芯片、下垫片、下框架和栅极探针,功率芯片设置于下垫片上;上垫片设置于功率芯片上;上垫片的尺寸不小于下垫片的尺寸,且上垫片的尺寸与下垫片的尺寸的差异小于预设差值;下框架设置于功率芯片和下垫片之间,下框架与功率芯片的终端区粘接,通过实施本实用新型,有效地减小了功率半导体器件封装时芯片的弯曲,避免了芯片因产生裂纹甚至发生脆断而失效;另一方面减小甚至消除了芯片终端和下框架之间的间隙,显著增加了芯片的耐压等级,满足电力系统对器件电压等级的要求,提高了功率半导体器件的可靠性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种高压功率半导体芯片的封装结构

    公开(公告)号:CN212517200U

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202021586937.9

    申请日:2020-08-03

    Inventor: 王亮 石浩 杜玉杰

    Abstract: 一种高压功率半导体芯片的封装结构,包括:基板;位于所述基板上的高压功率半导体芯片,所述高压功率半导体芯片与所述基板相背的一面具有栅极;覆盖所述高压功率半导体芯片的第一封装框盖,所述第一封装框盖具有第一顶板,所述第一顶板中具有栅极预留口;栅极引出部,所述栅极引出部的一端位于所述栅极预留口中且与所述栅极电学连接。所述高压功率半导体芯片的封装结构的寄生电感降低。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种采用Janus型润湿的燃料电池催化层内两相流数值模拟方法

    公开(公告)号:CN117612611A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311428102.9

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 一种采用Janus型润湿的燃料电池催化层内两相流动数值模拟方法,包括两个步骤:步骤1:采用四参数随机生成方法,将催化层内填充骨架统一简化为球状固相,按照统计特征参数生成符合实际情况的催化层多孔模型;步骤2:基于格子Boltzmann(LB)方法的伪势模型对PEM燃料电池催化层内的两相传输过程进行数值模拟,并考查Janus型润湿特性的影响。本发明建立了贴近实际情况的随机多孔燃料电池催化层模型,并基于格子Boltzmann方法对Janus型润湿的催化层内部含水量进行预测计算。与传统单一润湿驱水效率较高者相比,本发明的模拟结果能进一步提高12.3%的驱水量,大幅降低燃料电池内“水淹”风险,仿真模拟效果优秀;该方法为数值模拟,有效节省了实验所需的人力、物力及时间成本。

    含气泡硅凝胶样品的制备方法、气泡含量检测方法及系统

    公开(公告)号:CN115877153A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202211545915.1

    申请日:2022-12-05

    Abstract: 本发明提供一种含气泡硅凝胶样品的制备方法、气泡含量检测方法及系统,属于高压绝缘领域,制备方法包括:将硅凝胶样品分为三份;将第一份硅凝胶样品灌封进容器中,并进行脱气处理;对第二份硅凝胶样品进行搅拌,以使第二份硅凝胶样品中引入气泡,并将搅拌后的第二份硅凝胶样品倒入容器中;对第三份硅凝胶样品进行脱气处理,并将脱气处理后的第三硅凝胶样品倒入容器中,以得到含气泡硅凝胶样品;能够在不破坏硅凝胶完整性的前提下,制备目标位置处含气泡的硅凝胶样品。通过采集含气泡硅凝胶样品的图像,并对图像的RGB值进行加权求和,结合无气泡硅凝胶样品图像中像素的灰度平均值,准确计算出含气泡硅凝胶样品的气泡含量。

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