半导体器件的封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN117766470B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410190217.7

    申请日:2024-02-20

    摘要: 本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。

    半导体器件的封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN117766470A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202410190217.7

    申请日:2024-02-20

    摘要: 本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。

    含气泡硅凝胶样品的制备方法、气泡含量检测方法及系统

    公开(公告)号:CN115877153A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202211545915.1

    申请日:2022-12-05

    IPC分类号: G01R31/20

    摘要: 本发明提供一种含气泡硅凝胶样品的制备方法、气泡含量检测方法及系统,属于高压绝缘领域,制备方法包括:将硅凝胶样品分为三份;将第一份硅凝胶样品灌封进容器中,并进行脱气处理;对第二份硅凝胶样品进行搅拌,以使第二份硅凝胶样品中引入气泡,并将搅拌后的第二份硅凝胶样品倒入容器中;对第三份硅凝胶样品进行脱气处理,并将脱气处理后的第三硅凝胶样品倒入容器中,以得到含气泡硅凝胶样品;能够在不破坏硅凝胶完整性的前提下,制备目标位置处含气泡的硅凝胶样品。通过采集含气泡硅凝胶样品的图像,并对图像的RGB值进行加权求和,结合无气泡硅凝胶样品图像中像素的灰度平均值,准确计算出含气泡硅凝胶样品的气泡含量。

    一种利用有机硅凝胶灌封IGBT器件的系统

    公开(公告)号:CN116646258A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310592212.2

    申请日:2023-05-24

    摘要: 本发明公开一种利用有机硅凝胶灌封IGBT器件的系统,涉及材料灌封技术领域,腔体上开设第一通孔、第二通孔和第三通孔,抽气泵的一端通过第一通孔与腔体的内部连通,抽气泵的另一端与第一三通阀的第一端连接,第一三通阀的第二端与废气处理装置连接,第一三通阀的第三端与第一绝缘气体存储容器连接;第二绝缘气体存储容器与第二三通阀的第一端连接,第二三通阀的第二端通过第二通孔与腔体的内部连通,第二三通阀的第三端与外界环境连接;硅凝胶注入装置通过第三通孔伸入至腔体的内部,实现对放置在腔体的内部的IGBT器件的灌封,本发明增设了两个绝缘气体存储容器和废气处理装置,提高了利用有机硅凝胶灌封得到的IGBT器件的耐压水平。

    一种传输线阻抗匹配的Rogowski电流传感器

    公开(公告)号:CN117825781A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410018645.1

    申请日:2024-01-05

    IPC分类号: G01R19/00

    摘要: 本发明提供了一种传输线阻抗匹配的Rogowski电流传感器,属于电流测量领域,电流传感器包括Rogowski线圈、无源积分器、传输线驱动器、同轴传输线、驱动器电源连接线、阻抗匹配电阻及有源积分器;Rogowski线圈与无源积分器的输入端口连接,无源积分器的输出端口与传输线驱动器的输入端口连接,传输线驱动器的输出端口与同轴传输线连接,传输线驱动器的电源端与驱动器电源连接线连接;同轴传输线与有源积分器的信号输入端口连接;驱动器电源连接线与有源积分器的电源网络连接;阻抗匹配电阻并联连接于有源积分器的信号输入端口。本发明能够准确测量高频率的电流。

    一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置

    公开(公告)号:CN117096094B

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311362406.X

    申请日:2023-10-20

    IPC分类号: H01L21/687 H01L21/67

    摘要: 本发明涉及一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置,其包括安装底板,用于作为基板承载机构,所述安装底板内设有至少一个底板凹槽;AMB基板,用于对芯片提供支撑、散热以及保护,每个底板凹槽内均安设有一块所述AMB基板;金属罩,用于保护AMB基板边缘,所述金属罩覆盖于安装底板上层,且所述金属罩正对每个底板凹槽位置分别设有金属罩窗口;薄膜,用于封闭底板凹槽内的AMB基板及芯片,所述薄膜覆盖于金属罩上层;锁紧环,用于夹紧并固定薄膜,所述锁紧环位于薄膜上层,且所述锁紧环紧贴薄膜边缘,所述锁紧环通过紧固件将薄膜与金属罩压至安装底板;该装置实现多规格AMB基板同时烧结,提高了夹具通用性,提高烧结效率。

    一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置

    公开(公告)号:CN117096094A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311362406.X

    申请日:2023-10-20

    IPC分类号: H01L21/687 H01L21/67

    摘要: 本发明涉及一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置,其包括安装底板,用于作为基板承载机构,所述安装底板内设有至少一个底板凹槽;AMB基板,用于对芯片提供支撑、散热以及保护,每个底板凹槽内均安设有一块所述AMB基板;金属罩,用于保护AMB基板边缘,所述金属罩覆盖于安装底板上层,且所述金属罩正对每个底板凹槽位置分别设有金属罩窗口;薄膜,用于封闭底板凹槽内的AMB基板及芯片,所述薄膜覆盖于金属罩上层;锁紧环,用于夹紧并固定薄膜,所述锁紧环位于薄膜上层,且所述锁紧环紧贴薄膜边缘,所述锁紧环通过紧固件将薄膜与金属罩压至安装底板;该装置实现多规格AMB基板同时烧结,提高了夹具通用性,提高烧结效率。

    抑制碳化硅MOSFET电压过冲的栅极电感匹配方法

    公开(公告)号:CN113541461B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202110971757.5

    申请日:2021-08-23

    IPC分类号: H02M1/32 H02M1/08

    摘要: 抑制碳化硅MOSFET电压过冲的栅极电感匹配方法,包括:搭建基于碳化硅MOSFET的双脉冲测试平台;获取电感匹配计算所需的电路参数,包括碳化硅MOSFET器件漏源极电容CDS、栅漏极电容CGD以及功率回路共源极电感LS;计算栅极电感匹配值#imgabs0#;提取栅极回路设计所引入的寄生电感;计算栅极电感附加电感值,并将相应电感值的电感元器件串联接入栅极回路;进行双脉冲测试。通过调整碳化硅MOSFET栅极回路的寄生电感、附加电感值,对器件关断漏源极电压过冲实现有效抑制,对提高碳化硅MOSFET在应用中的经济性和可靠性具有重要意义,有利于保证电力系统的可靠运行。

    一种MMC子模块短路测试系统
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118275936A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202410449284.6

    申请日:2024-04-15

    IPC分类号: G01R31/52 G01R31/26 G01R1/04

    摘要: 本发明公开一种MMC子模块短路测试系统,涉及半导体器件测试领域,防爆柜体的柜本体的侧壁为防爆板,绝缘板将柜本体分隔为第一腔体、第二腔体;试验阀组设于第一腔体,第一供能回路组件、第二供能回路组件、桥臂回路组件、短路保护开关和隔离开关设于第二腔体内;第一供能回路组件、短路保护开关、试验阀组的第一待测IGBT器件以及第二待测IGBT器件串联;第二供能回路组件、桥臂回路组件的负载保护开关、负载电感以及第二待测IGBT器件串联;桥臂回路组件的上电感续流开关与下电感续流开关反串联后与负载电感并联;隔离开关与第二待测IGBT器件并联。本发明提高了拆装的便捷性和试验的安全性。