自动分析装置
    94.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104508489B

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201380038988.4

    申请日:2013-07-08

    Abstract: 本发明提供一种能够减少检测极限/定量极限性能试验的实施、试验结果的管理所需的工夫的自动分析装置。具备:用于进行每个测定项目的检测极限和定量极限的至少一方的评价试验的实施条件设定单元;设定所述评价试验的判定条件的判定条件设定单元;以及运算部,其基于所设定的所述实施条件,控制所述试样分注机构、所述试剂分注机构、所述测定部,由此求取稀释浓度不同的稀释系列的测定结果,并基于所设定的所述判定条件,根据所述稀释系列的测定结果来计算所述评价试验的试验结果。

    飞行器的远程连接系统
    95.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105339260A

    公开(公告)日:2016-02-17

    申请号:CN201480036939.1

    申请日:2014-06-20

    Applicant: 斯奈克玛

    Abstract: 本公开涉及一种能够被结合到飞行器(1A、1B、1C)中的远程连接系统,该飞行器包括至少一个发动机螺旋桨(50A、50B、50C),该发动机螺旋桨具有多个适于相对于该飞行器的固定模块(10A、10B、10C)绕驱动轴(X)旋转的多个叶片(52A、52B、52C)。该系统包括:光发射器装置,该光发射器装置被构造,使得当该系统被结合到该飞行器(1A、1B、1C)内时,它传输一个从所述螺旋桨(50A、50B、50C)的至少一个传输表面(54A、54B、54C)出现到该螺旋桨(50A、50B、50C)外侧的光束;以及用于检测该光束的光探测器装置,包括对该光束敏感的至少一个检测表面(14A、14B、14C),并且其能够以这种方式被结合在该固定模块(10A、10B、10C)中,使得当该螺旋桨(50A、50B、50C)相对于该固定模块(10A、10B、10C)旋转时,所述至少一个传输表面(54A、54B、54C)和所述至少一个检测表面(14A、14B、14C)在彼此相距一定距离处重复地彼此远程地面对。本发明也涉及一种包括该螺旋桨、该静止模块和该连接系统的系统。

    荧光观察装置以及荧光观察方法

    公开(公告)号:CN105074433A

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201380075257.7

    申请日:2013-12-18

    Abstract: 在荧光观察装置(1A)中,通过取得从摄像装置(12)输出的第1帧图像以及第2帧图像中的一方与被存储在图像存储单元的第1帧图像以及第2帧图像中的另一方的差分,从而能够取得除去了背景光的影响的鲜明的观测图像。另外,在荧光观察装置(1A)中,荧光图像取得期间的曝光时间与背景图像取得期间的曝光时间互相不同。这样,通过使荧光图像取得期间的曝光时间与背景图像取得期间的曝光时间为非对称从而观测图像的流畅性变得良好。另外,因为激发光的开启/断开的时间对应于曝光时间的非对称性也变成非对称,所以能够减少由激发光的忽亮忽灭引起的对使用者的不协调感。

    自动多通道类流式图像荧光分析系统

    公开(公告)号:CN104990907A

    公开(公告)日:2015-10-21

    申请号:CN201510452591.0

    申请日:2015-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种自动多通道类流式图像荧光分析系统,包括:集成式荧光激发光源装置、样品台装置、显微成像装置、自动控制系统和分析处理系统;其中:自动控制系统分别与集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置相连,分别对集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置进行控制;集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置构成显微光学系统;分析处理系统与显微成像装置相连,对显微成像装置采集的图像进行分析处理。本发明能够以显微成像技术为基础、快速采集和分析大量样品的成像信息,并采用密度函数的算法进行分析,以同时获得每个细胞的形态影像学分析结果和基于大样本量的密度函数的类流式数据分析结果。

    用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统

    公开(公告)号:CN104949921A

    公开(公告)日:2015-09-30

    申请号:CN201510134746.6

    申请日:2015-03-26

    Abstract: 本发明记载了一种用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统(100-600,800),其具有:(a)光源(130),该光源用于沿着光学测量系统(100-600,800)的分析光路(130a)的光学轴发出测量光(130a),(b)偏振状态发生器(PSG),该发生器在光源(130)下游布置于分析光路(130a)中并且被配置为测量光(130a)提供限定的偏振状态,(c)试样容器(150),该试样容器在偏振状态发生器(PSG)下游布置在分析光路(130a)中并且为接纳待测试样而形成,(d)偏振状态分析器(PSA),该分析器在试样容器(PSA)下游布置在分析光路(130a)中并被配置为测量穿过试样后测量光(130a)的偏振状态,以及(e)机械支架结构(120,220,520a-c,620a-b,820),在该支架结构上至少直接安置偏振状态发生器(PSG)、试样容器(150)以及偏振状态分析器(PSA)。还记载了用于制造这种光学测量系统(100-600,800)的方法。

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