光谱检测设备
    131.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1296684C

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:CN01813502.1

    申请日:2001-07-05

    Inventor: 稻本直树

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0262 G01J3/2803

    Abstract: 按照本发明的光谱检测设备,包括光电检测器(13)和覆盖该光电检测器(13)光接收表面(13a)的透光板(13b),又在该设备中,透光板(13b)的前表面(S)是倾斜的,且在入射光中,一旦被透光板(13b)后表面(T)反射的任何光,此后的传播都被透光板(13b)的前表面(S)和后表面(T)全反射,射向透光板(13b)的侧表面(13d)。任何杂散光都能够被阻止进入光电检测器(13)。

    光谱检测设备
    133.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1444722A

    公开(公告)日:2003-09-24

    申请号:CN01813502.1

    申请日:2001-07-05

    Inventor: 稻本直树

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0262 G01J3/2803

    Abstract: 按照本发明的光谱检测设备,包括光电检测器(13)和覆盖该光电检测器(13)光接收表面(13a)的透光板(13b),又在该设备中,透光板13b的前表面S是倾斜的,且在入射光中,一旦被透光板(13b)后表面T反射的任何光,此后的传播都被透光板(13b)的前表面S和后表面T全反射,射向透光板(13b)的侧表面13d。任何杂散光都能够被阻止进入光电检测器(13)。

    光栅光度计
    136.
    实用新型

    公开(公告)号:CN200955979Y

    公开(公告)日:2007-10-03

    申请号:CN200620014767.0

    申请日:2006-09-15

    Inventor: 邱金宏 曾超 曹靖

    CPC classification number: G01J3/18 G01J3/02 G01J3/0262 G01J3/04

    Abstract: 本实用新型公告了一种光栅光度计,它包括分光盒、前放盒、光学组件及光电检测器阵列,该分光盒具有分光室,该前放盒安装于该分光室的侧壁上,该光学组件安装于该分光盒上该光电检测器阵列安装于该前放盒内,该分光室的侧壁和该前放盒上对应零级光谱光线的位置分别设有第一、第二消光孔,该第一消光孔为通孔,该第二消光孔为盲孔。通过第一、第二消光孔的设置,使零级光谱光线进入前放盒的第二消光孔中,进入该第二消光孔的零级光线散射回分光室内造成的杂散光非常小,从而使零级光线造成的杂散光被有效抑制,进而提高了光度计的信噪比。

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