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    用于校准颜色测量仪器的方法和设备
    1.
    发明公开
    用于校准颜色测量仪器的方法和设备 有权

    公开(公告)号：CN108731811A

    公开(公告)日：2018-11-02

    申请号：CN201810353379.2

    申请日：2018-04-19

    申请人： 德塔颜色公司

    发明人： Z·徐 ,  M·H·布里尔

    IPC分类号： G01J3/46

    CPC分类号： G01J3/524 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/46 ,  G01J3/462 ,  G01J3/465 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G01N21/25

    摘要： 在一个示例中，从包括多个颜色通道的目标颜色测量仪器接收电子信号。从信号中提取目标颜色测量仪器对由目标发光设备发射的光的响应。响应被校准以最小化响应和标准观测仪的颜色匹配函数的输出之间的差异。校准包括将响应乘以校准矩阵。校准矩阵组合来自可调谐光源的第一多个光的测量值和来自目标发光设备的第二多个光的测量值。第一多个和第二多个光的测量值的第一子集由目标颜色测量仪器进行，而第一多个和第二多个光的测量值的第二子集由参考光谱辐射计进行。

    一种适用于机载热红外成像光谱仪大气校正系统和方法
    4.
    发明公开
    一种适用于机载热红外成像光谱仪大气校正系统和方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN107687900A

    公开(公告)日：2018-02-13

    申请号：CN201710778389.6

    申请日：2017-09-01

    申请人： 中国科学院上海技术物理研究所

    发明人： 谢锋 ,  邵红兰 ,  刘成玉 ,  王建宇 ,  舒嵘

    IPC分类号： G01J5/00 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28

    CPC分类号： G01J5/00 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/2823 ,  G01J2005/0055 ,  G01J2005/0077 ,  G01J2005/0081

    摘要： 本发明公开一种适用于机载热红外成像光谱仪大气校正系统和方法。首先利用该系统与机载成像光谱仪同步测量飞机高度上的大气下行热红外辐射。其次利用MODITRAN生成不同大气状况下大气下行热红外辐射、大气程辐射和大气透过率，建立参考数据库。再次从参考数据库中搜索与该系统测量结果最匹配的大气下行热红外辐射光谱，查找对应的大气程辐射、地表大气下行热红外辐射和大气透过率。最后以时间为基准，根据辐射传输方程，从辐射定标后的成像光谱仪获取的热红外高光谱数据中，逐像元计算离地辐射光谱，实现热红外成像光谱仪的大气校正。本发明的大气校正系统和方法可获取实时大气下行热红外辐射信息，可大幅度提高机载热红外高光谱数据大气校正精度。

    一种复合方法校正宽波段Czerny-Turner结构像散的光学系统
    5.
    发明公开
    一种复合方法校正宽波段Czerny-Turner结构像散的光学系统 无效

    公开(公告)号：CN107305144A

    公开(公告)日：2017-10-31

    申请号：CN201610261484.4

    申请日：2016-04-25

    申请人： 长春理工大学

    发明人： 李欣航 ,  安岩 ,  董科研

    IPC分类号： G01J3/02

    CPC分类号： G01J3/021 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0297

    摘要： 本发明涉及一种复合方法校正宽波段Czerny-Turner结构像散的光学系统设计，主要结构包括：狭缝1、准直球面反射镜2、光栅3、聚焦球面反射镜4、柱镜5、探测器6。本发明在聚焦球面反射镜4与探测器6之间放置柱镜5，通过柱镜引入相反像散变化趋势，补偿一阶消像散条件下的剩余像散，达到宽波段像散同时校正的效果。设计了光谱范围为900~1700nm的消像散Czerny-Turner结构，在工作波段内全视场的点列图半径RMS值均小于14μm，各波长的光学传递函数(MTF)均达到0.7以上，光谱分辨率为1.5nm。满足宽波段像散的同时校正的情况下，保证了良好的成像质量和高光谱分辨率，且具有自由度多、结构简单、色散均匀、避免二次和多次衍射等优点，所以本发明可实际使用。

    一种双入射狭缝高分辨率成像光谱系统
    7.
    发明公开
    一种双入射狭缝高分辨率成像光谱系统 无效

    公开(公告)号：CN107144350A

    公开(公告)日：2017-09-08

    申请号：CN201710565845.9

    申请日：2017-07-12

    申请人： 中国科学院上海技术物理研究所

    发明人： 朱雨霁 ,  尹达一 ,  魏传新

    IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01J3/04

    CPC分类号： G01J3/2823 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/04

    摘要： 本发明公开了一种双缝入射高分辨率成像光谱系统,它由双入射缝、分光子系统以及探测子系统构成，其中分光子系统包含主反射镜、凸面光栅、次反射镜以及校正透镜，探测子系统包含滤光片以及面阵探测器。系统具有高分辨率、快速重访时间、较低成本以及空间系统高集成化。双缝结构使系统实现一次观测同时获得两个目标区域的光谱信息，缩短重访时间；通过主反射镜、凸面光栅、次反射镜同心的设计方法，可以减小系统像差，提高系统分辨率。

    用于测试材料的方法和设备
    8.
    发明公开
    用于测试材料的方法和设备 无效

    公开(公告)号：CN105300915A

    公开(公告)日：2016-02-03

    申请号：CN201510434569.3

    申请日：2015-07-22

    申请人： 空中客车营运有限公司

    发明人： 莱德·阿达

    IPC分类号： G01N21/3563

    CPC分类号： G01J3/0297 ,  G01J3/28 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3563 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2021/8472 ,  G01N2201/0221

    摘要： 本公开涉及一种用于测试材料的方法和设备。更具体地但非排他性地，本发明涉及一种利用红外光谱法测试材料的方法和设备。本发明还涉及对在利用红外光谱法测试材料时使用的红外光谱仪进行校正。本发明提供了一种对红外光谱仪进行校正以用于对航空航天工业中的复合材料进行测试的方法，该方法包括下述步骤，选择具有影响在航空航天工业中使用的复合材料的可能性的物理特性的多个变量，为每个变量选择多个值，以及将变量和值输入到实验模型的设计中，由此获得样品测试矩阵。

    分光光度计及其性能测定方法
    9.
    发明授权
    分光光度计及其性能测定方法 有权

    公开(公告)号：CN102753949B

    公开(公告)日：2015-05-20

    申请号：CN201180008932.5

    申请日：2011-02-16

    申请人： 株式会社日立高新技术

    发明人： 户边早人 ,  佐藤洋一 ,  石田浩康 ,  和久井隆行

    IPC分类号： G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01N21/27

    CPC分类号： G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0297

    摘要： 本发明提供一种使用了氙气闪光灯的分光光度计及其性能测定方法，在所述分光光度计中能够与过去的存储数据核对。通常使用来自氙气闪光灯的光束，经由凹面镜后用分光器分光为任意波长，用光检测器检测透过试样的光束，由此进行分光分析。当进行性能测定时，在氙气闪光灯和分光器之间的光束路径中配置低压水银灯，驱动构成光闸机构的遮光板遮光以及使光透过来检测光强度，由此使用低压水银灯的亮线光谱进行“波长准确性”或“分辨率”的测定。由此，可以进行能够与过去的存储数据核对的分光分析。