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公开(公告)号：CN105548745A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510891015.6
申请日：2015-12-04
申请人： 青岛励赫化工科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种胎面半部件导电胶条在线检测装置及其使用方法。通过采用两个从动辊轮分别作为作用在带导电胶条的胎面半部件的上下两个面的电压正负极，使胎面压出时实现正负极辊轮跟随胎面半部件转动，始终作用在胎面部件上进行导电胶条的导电性检测，通过检测正负极辊轮的电压和电流变化来判定导电胶条是否连续均匀，并自动对不合格半部件进行报警和标识，并对不合格部件拣出另行处理。本发明可有效控制半成品部件导电胶条连续性的加工质量，防止出现大量不合格半成品从而杜绝批量废次品发生。
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公开(公告)号：CN105467172A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201610008297.5
申请日：2016-01-01
申请人： 广州兴森快捷电路科技有限公司 , 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司 , 广州市兴森电子有限公司
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R31/01
摘要： 本发明公开了一种具备开关电路的CAF测试板，包括测试基板，测试基板上设有正极测试端、负极测试端、至少两组测试孔组、开关电路以及与测试孔组数量相等的定位焊盘组，开关电路位于相邻测试孔组之间，各测试孔组的正极通过开关电路并联后连接至正极测试端，各测试孔组的负极并联后连接至负极测试端；每组测试孔组包括间隔排列的多个测试对孔，每组定位焊盘组包括沿直线间隔排列的多个失效分析定位焊盘，各失效分析定位焊盘位于测试孔组一侧并与测试对孔一一对应连接。本发明能提高CAF性能测试效率及失效分析效率。
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公开(公告)号：CN103207328B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310004911.7
申请日：2013-01-07
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R31/01 , G01R31/02 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。
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公开(公告)号：CN104245248A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201380016717.9
申请日：2013-01-24
申请人： 苹果公司
发明人： P·G·帕纳盖斯
IPC分类号： B25J15/00 , G01R31/28 , H01L21/677 , H01L21/687
CPC分类号： G01R1/0441 , G01R31/01 , G01R31/2893 , G06F3/044 , G06F2203/04103 , H01L21/67727 , H01L2924/0002 , H04M1/24 , H01L2924/00
摘要： 本发明可提供一种测试系统，在所述测试系统中，将待测装置(DUT)加载到测试托盘中。可使用传送带使测试托盘在测试工位之间移动。所述测试系统可包括加载设备以用于以所需的间隔将测试托盘放置在所述传送带上。可使用沿着所述传送带定位的测试工位对每个测试托盘进行测试。第一组测试工位可被配置为测试在其竖直取向中的DUT，而第二组测试工位可被配置为测试在其倒置取向中的DUT。测试托盘翻转设备可介于所述第一组测试工位和所述第二组测试工位之间。所述翻转设备可包括活动臂，所述活动臂被配置为接收传入托盘，抓取所述托盘，将所述托盘从所述传送带提升，旋转所述托盘，以及将所述托盘下降回到所述传送带上。
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公开(公告)号：CN103890828A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201180074336.7
申请日：2011-10-19
申请人： 应用材料公司
发明人： M·布鲁纳
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明描述了一种用以测试柔性基板上的数个电子装置的设备。此设备包括至少两个滚轴（110）、至少一探测器（122）、至少一探测支座（124）及测试装置，此至少两个滚轴用以导引柔性基板沿着传输方向进入测试区及离开测试区，此至少一探测器用以电性接触电子装置中的一或多个，于电性接触探测器时，此至少一探测支座用以支撑柔性基板的一部分，此测试装置用于电子装置中的一或多个的功能测试。
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公开(公告)号：CN103890597A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201280052741.3
申请日：2012-10-05
申请人： 泰拉丁公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2834 , H01L22/20 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 本发明公开了用于配置测试系统的技术，所述技术允许在测试半导体器件的单独功能部分的过程中的并行度的简化指定。对于具有多个子流程的测试流程而言，可标识出与每个子流程有关的被接入引脚以定义流程域。可定义站区，每个站区与某个流程域相关联。可使测试器站与这些流程域专用站区中的每一个相关联，并且可将独立操作资源分配到这些测试器站。还可使所述定义的站区的第二部分与测试器站相关联，但可从多个流程域来接入分配给这些站区的资源。即使并非开发用于并行执行的测试块也可利用所述流程域专用站区中的资源来并行地执行。通过使用所述站区的第二部分来提供灵活性以共享资源。
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公开(公告)号：CN103508185A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310198713.9
申请日：2013-05-24
申请人： 艾希思科技有限公司
发明人： 李亨利
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R31/01 , G01R31/26 , G01R31/2893
摘要： 本发明公开了一种与转塔型测试装置结合的半导体元件传送系统，用于测试半导体元件的完整性和功能性，其中该传送系统提供至少两个可装载为了进行视觉检测、测试和/或包装的半导体元件的输入送料器，该传送系统还提供用于测定的无缺陷半导体元件的多种输出方式，例如管式、编带式、盒式或者该管式、编带式及盒式的组合方式。
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公开(公告)号：CN103339031A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201180066763.0
申请日：2011-02-09
申请人： 上野精机株式会社
IPC分类号： B65B15/04
CPC分类号： B65B15/04 , G01R31/01 , H05K13/021
摘要： 本发明提供一种电子零件搬送装置及一种包带单元，此电子零件搬送装置及包带单元可以容易且更确实地防止运送带收纳电子零件时的翻转。此电子零件搬送装置及包带单元检出收纳电子零件的运送带的袋部位置后，根据此检出结果以检出袋部的位置偏移。然后，先行设置使运送带移动的移动装置，以消除所检出的位置偏移的方式使运送带往短边方向及长边方向移动。
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公开(公告)号：CN102159957B
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN200880131190.3
申请日：2008-11-26
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
发明人： 曾一士
摘要： 本发明是可以太阳能电池组供批次检测诸如发光二极管晶粒、发光二极管元件或具有发光二极管晶粒的光棒等等进行批次发光检测；更能利用一组移动装置驱动发光组件与太阳能电池组，按对应被致能发光组件长度方向相对移动；使太阳能电池组得以依序接收发光组件的发光状态信息，并传送感测讯号。以此对照已知标准发光状态信息，检析发光组件的元件异常，从而获得一种简便、快速的具有太阳能电池组的发光元件检测机台及其检测方法。
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公开(公告)号：CN102928725A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201110228071.3
申请日：2011-08-10
申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
发明人： 陈东
IPC分类号： G01R31/01
CPC分类号： G01R31/01
摘要： 一种测试监控方法，包括以下步骤：将若干被测产品装入一测试机台的若干测试位中，其中每一测试位中分别装入一被测产品；启动所述测试机台，所述测试机台的一测试信息收集模组获取测试位在所述测试机台上的分布信息，并将测试位的分布信息传送给一显示控制模组；所述显示控制模组根据测试位的分布信息在一显示装置上对应显示若干指示区；所述测试信息收集模组获取测试位的被测产品的测试状态信息，并将测试状态信息传送给显示控制模组；所述显示控制模组根据测试状态信息控制所述显示装置的这些指示区进行对应的显示。
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