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公开(公告)号：CN118294976A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410321492.8
申请日：2024-03-20
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及一种信号探测装置，具体涉及一种复杂环境下星体极微弱信号探测装置。解决了现有星体信号探测方法探测灵敏度降低、探测分辨率受限的技术问题。本发明装置包括光学调制系统、选通开关、选通控制系统、望远镜系统；光学调制系统用于接收指定星空区域内各星体发射的光信号，并对各光信号进行优化处理；选通开关用于对光学调制系统的输出光进行选通处理，过滤掉背景噪声和干扰信号，输出目标星体的光信号；选通控制系统用于根据各入射光信号的特征和输出待测目标星体光信号的要求控制选通开关的选通处理；望远镜系统用于对选通后的光信号进行成像。
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公开(公告)号：CN117470091A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311420263.3
申请日：2023-10-30
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明公开了一种基于Wollaston棱镜的大口径干涉相移测量装置，以解决现有技术难以测量大口径测量面的全局特性，导致无法得到精准的干涉相移信息反馈和精细的全局分辨能力的问题。具体包括激光器和分光棱镜等；激光器发射入射激光；分光棱镜将入射激光分光形成第一反射光和第一透射光；第一透射光所在光路上设置待测镜，第一透射光依次经待测镜和分光棱镜反射形成测量光；第一大口径反射镜设置在第一反射光所在光路上形成参考光；Wollaston棱镜设置在测量光与参考光所在光路上；一维透射光栅设置在o光和e光所在光路上；第一CCD相机设置、第二CCD相机、第三CCD相机和第四CCD相机分别设置在一维透射光栅远离Wollaston棱镜一侧的光路上，以获取各个干涉信息。
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公开(公告)号：CN108200201B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN201810118841.0
申请日：2018-02-06
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： H04L67/141 , H04L67/06 , H04L67/01
摘要： 本发明属于仪器密封设备数据传输技术，具体涉及一种水下设备密封舱数据导出方法及传输系统。包括拦截器、整合器、控制器及建立在水下设备端的服务器；服务器按需求分组存储水下设备采集的目标数据；不同目标数据组具有不同的编号；控制器根据数据接收端的数据导出请求中的信息，找出服务器数据库系统中对应的目标数据组，并生成与目标数据组编号信息对应的返回信息，将目标数据组及返回信息发送至数据接收端；拦截器过滤进入数据接收端的目标数据组；整合器将过滤后的目标数据组进行整合为相应的文件。解决了因频繁开舱，损坏设备密封性以及对SD卡直接引出导线导出数据的由于干扰等因素所导致的数据混乱、性能不稳定的问题。
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公开(公告)号：CN108200201A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201810118841.0
申请日：2018-02-06
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明属于仪器密封设备数据传输技术，具体涉及一种水下设备密封舱数据导出方法及传输系统。包括拦截器、整合器、控制器及建立在水下设备端的服务器；服务器按需求分组存储水下设备采集的目标数据；不同目标数据组具有不同的编号；控制器根据数据接收端的数据导出请求中的信息，找出服务器数据库系统中对应的目标数据组，并生成与目标数据组编号信息对应的返回信息，将目标数据组及返回信息发送至数据接收端；拦截器过滤进入数据接收端的目标数据组；整合器将过滤后的目标数据组进行整合为相应的文件。解决了因频繁开舱，损坏设备密封性以及对SD卡直接引出导线导出数据的由于干扰等因素所导致的数据混乱、性能不稳定的问题。
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公开(公告)号：CN117805114A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311871521.X
申请日：2023-12-29
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明公开了一种航空发动机叶片表面缺陷检测方法及系统，解决了了现有检测方法的检测效率低、可信度低且检测精度低的技术问题，具体包括：步骤1、获取相机参数；步骤2、搭建检测系统；步骤3、红外条纹图拍摄；步骤4、条纹中心坐标提取；步骤5、表面点云数据获取；步骤6、表面重建；步骤7、表面检测；本发明测量速度快，能够有效缩短整个测量周期。
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公开(公告)号：CN117647204A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202311627086.6
申请日：2023-11-30
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明公开了一种基于X射线干涉仪的多重倍频激光读数头测量装置及方法，以解决现有的多重倍频激光测量装置测量范围小、测量速度低、应用范围受限的问题。具体包括X射线干涉仪和多重倍频激光干涉仪；X射线干涉仪包括X射线光源、第一至第三透射光栅、第一光电探测器和第二光电探测器；X射线光源用于发射X射线；第一至第三透射光栅的光栅面及栅线方向一致，且依次沿X射线出射方向设置；第三透射光栅上安装待测基准镜；第一光电探测器和第二光电探测器设置于第三透射光栅远离第二透射光栅一侧的光路上；多重倍频激光干涉仪设置于待测基准镜远离X射线干涉仪一侧，以获取待测基准镜在Y向上的位置及其沿X向和Z向的位移。
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公开(公告)号：CN108226941A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711342447.7
申请日：2017-12-14
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及一种可视化调光装置与方法。包括沿光路依次设置的光源、准直物镜、成像物镜、成像面、分划板及图像采集及处理装置，还包括二自由度微动台；待测目标位于准直物镜与成像物镜之间；成像面位于成像物镜的焦点位置处；分划板紧靠成像面并与实际接收器的靶面同轴，且实际接收器靶面中心轴的延长线经过分划板的十字刻划线的中心；光源通过支架安装在二自由度微动台上；光源出射光束通过准直物镜准直后照射待测目标表面，待测目标表面将光束反射后，通过成像物镜成像在成像面上，所呈光斑与分划板的十字刻划线叠加后进入图像采集及处理装置。解决了现有调光方法调节效率低、精度差的问题。
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公开(公告)号：CN107870445A
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201711021592.5
申请日：2017-10-27
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G02B27/36
CPC分类号： G02B27/36
摘要： 本发明属于光学工程技术领域，具体涉及一种基于相机成像的光轴对准装置及光轴对准方法。该光轴对准装置包括在同一水平面内依次设置的一号导轨、二号导轨和三号导轨以及用于分析相机图像坐标的计算机，二号导轨平行于三号导轨并且垂直于一号导轨；一号导轨上安装相机和一号分划板，二号导轨上安装二号分划板，三号导轨上安装三号分划板；一号分划板的中心与相机镜头中心所在的光轴为固定光轴；二号分划板的中心与三号分划板的中心所在的光轴为可调光轴。本发明在对准过程中采用了成像的方法，与用经纬仪直接观测对准有同样高的精度，并且在工程应用中有通用性。
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公开(公告)号：CN118640791A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410778728.0
申请日：2024-06-17
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/00
摘要： 本发明公开了一种机械臂自动化在线监测定位装置及方法，解决了现有的自动化机械臂监测定位方法的没有考虑机械臂整体运行过程中的误差累积效应，导致其监测定位精度低的问题。本发明采用三个不同角度的测量光栅和测量读数头，实现对待监测机械臂在空间位置运行过程进行精准反馈测量，并通过振动传感器和衍射光栅定位进行空间坐标系建立，以此获取更高的监测精度，来反演出待监测机械臂的实时运行轨迹信息和定位位置信息。
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公开(公告)号：CN117782530A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311702610.1
申请日：2023-12-12
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及一种系统的位姿标定方法，为解决现有标定方法存在的成本高、步骤繁琐和计算量大的问题，而提供一种条纹反射测量系统中各组件的位姿标定方法。本发明包括以下步骤：1)准备激光跟踪仪、相机、显示器、棋盘格靶标板、待测镜、型材架、光学平台、激光靶球和L型工装；2)安装激光跟踪仪至预设位置并调节，安装相机和显示器，将棋盘格靶标板和待测镜安装至光学平台上的预设位置，将激光靶球和L型工装放置在棋盘格靶标板的预设位置；3)建立世界坐标系、相机坐标系、显示器坐标系、镜面坐标系和棋盘格坐标系；4)计算出其他坐标系相对于世界坐标系的坐标变换矩阵，从而得到条纹反射测量系统中各组件的位姿关系。
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