-
公开(公告)号：CN115808192B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202211474849.3
申请日：2022-11-23
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本申请涉及一种极微弱近红外信号探测装置，包括：信号探测单元、信号处理单元、温控单元和电磁屏蔽单元；信号探测单元包括光电倍增管，光电倍增管用于采集入射光信号，并将入射光信号发送至信号处理单元；温控单元用于控制光电倍增管的温度；电磁屏蔽单元用于对信号探测单元进行电磁屏蔽；信号处理单元用于生成参考信号，并基于参考信号对入射光信号进行处理，输出目标信号。本申请的极微弱近红外信号探测装置，为了避免外部条件的影响，设计电磁屏蔽单元，同时采用TEC温控单元，调节光电倍增管维持在低温环境中，以避免光阴极面发热所射出的热电子产生的暗电流噪声，能够进一步提高光电倍增管的探测精度，同时可以让光电倍增管更稳定的工作。
-
公开(公告)号：CN117629588A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311567805.X
申请日：2023-11-22
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明涉及散射信号探测装置及方法，具体涉及一种光学元件近红外波段散射信号探测装置及方法，用于解决现有光学元件散射信号探测装置在近红外波段散射信号探测时，系统响应率直线下降，灵敏度急速降低，探测精度大幅下降，探测难度很大的不足之处。该光学元件近红外波段散射信号探测装置包括激光器、组合透镜组、斩波器、分光镜、第一探测组件和第二探测组件；由分光镜得到相同的光线I和光线II，第二探测组件用采集待测光学元件的散射光提取待测光学元件的散射特征，第一探测组件用于为第二探测组件提供实时参考信号，以提高检测结果的准确性。
-
公开(公告)号：CN117111296A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202311091050.0
申请日：2023-08-28
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及光学系统及其设计方法，具体涉及一种特定输出功率的光谱均匀目标模拟系统及其设计方法，用于解决现有宽谱段模拟光源重点考虑不同波段内的辐照度比例需达到标准要求，而忽略光源辐亮度随不同波长的变化影响，导致无法实现复杂环境下空间光谱均匀目标模拟的不足之处。该特定输出功率的光谱均匀目标模拟系统及其设计方法包括光源模块、光谱匀化模块、衰减模块和目标模拟模块，可在面临不同复杂程度的空间环境背景影响时对特定输出范围的功率进行精确模拟，并且可减小由于目标的光谱均匀性差异造成的结果分析误差。
-
公开(公告)号：CN115575354A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211165880.9
申请日：2022-09-23
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01N21/49
摘要： 本发明公开了一种超光滑表面元件的散射特性测量装置及方法，解决了超光滑表面元件散射特性的检测效率低、系统复杂、易造成元件表面损伤的问题。具体包括光源组件、移频调制单元、积分球、平移台、图像采集单元及数据处理单元；光源组件发射入射光线；移频调制单元将入射光线分成具有固定频率差的第一光束和第二光束；积分球上设有与第一光束对应的第一入射口、与第二光束对应的第二入射口、用于设置待测元件的采样口，以及第一出射口和第二出射口；采样口分别与第一入射口和第一出射口对应；平移台设在积分球的采样口处，用于匀速平移采样口处的待测元件；图像采集单元设置在积分球第二出射口外；数据处理单元与图像采集单元电连接。
-
公开(公告)号：CN108226941B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201711342447.7
申请日：2017-12-14
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及一种可视化调光装置与方法。包括沿光路依次设置的光源、准直物镜、成像物镜、成像面、分划板及图像采集及处理装置，还包括二自由度微动台；待测目标位于准直物镜与成像物镜之间；成像面位于成像物镜的焦点位置处；分划板紧靠成像面并与实际接收器的靶面同轴，且实际接收器靶面中心轴的延长线经过分划板的十字刻划线的中心；光源通过支架安装在二自由度微动台上；光源出射光束通过准直物镜准直后照射待测目标表面，待测目标表面将光束反射后，通过成像物镜成像在成像面上，所呈光斑与分划板的十字刻划线叠加后进入图像采集及处理装置。解决了现有调光方法调节效率低、精度差的问题。
-
公开(公告)号：CN107888231A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201711021596.3
申请日：2017-10-27
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
CPC分类号： H04B3/06 , H04B3/544 , H04L7/0008
摘要： 本发明属于信号传输技术领域，具体涉及一种基于差分信号的多路同步脉冲信号传输系统及传输方法。该传输系统包括与发送端通信设备相连的脉冲信号转差分信号芯片以及与接收端通信设备相连的差分信号转脉冲信号芯片，脉冲信号转差分信号芯片与差分信号转脉冲信号芯片之间通过有线传输介质连通。本发明将同步脉冲信号转换成差分信号进行传输，在接收端又将差分信号转换为同步脉冲信号输出，利用了差分信号的优点，最终使同步脉冲信号在传输过程中有效抵抗电磁干扰和噪声干扰，并且具有传输距离远、传输精度高的优点。
-
公开(公告)号：CN118129902A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410061336.2
申请日：2024-01-16
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明涉及一种近红外探测技术，尤其涉及一种极微弱近红外信号探测装置及方法。解决了现有极微弱信号探测存在响应率低、灵敏度低、探测困难、检测精度差、可探测信号频带窄以及获得的信号质量低的技术问题。本发明装置包括门控开关、探测器、数模转换系统、微处理系统、增益控制电路、采样电路、滤波系统、神经网络和数据处理系统和选通控制系统。选通控制系统控制门控开关对进入的近红外信号进行选通筛选；探测器采集筛选后的信号，经数模转换系统转换为数字信号并输入到微处理系统中进行信号补偿；再依次经增益控制电路、采样电路、滤波系统后进入神经网络进行训练和学习；最后经数据处理系统输出得到所探测的近红外信号。
-
公开(公告)号：CN117491317A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311353516.X
申请日：2023-10-18
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及超光滑表面元件表面测量装置及方法，具体涉及一种超光滑表面元件散射特性测量装置及方法，用于解决现有针对超光滑表面元件的检测方法效率较低，无法有效识别元件表面散射特性的缺陷，以及极易造成元件表面损伤的不足之处。该超光滑表面元件散射特性测量装置通过对待测元件表面散射光线进行表征，得到待测元件表面散射特性中的偏振分布，以及与不同形式偏振特性入射光线之间的关系，相较于通过强度信息反映待测元件的光学特性，本发明实现了对待测元件光学特性更加全面、准确的描述。
-
公开(公告)号：CN115808192A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211474849.3
申请日：2022-11-23
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本申请涉及一种极微弱近红外信号探测装置，包括：信号探测单元、信号处理单元、温控单元和电磁屏蔽单元；信号探测单元包括光电倍增管，光电倍增管用于采集入射光信号，并将入射光信号发送至信号处理单元；温控单元用于控制光电倍增管的温度；电磁屏蔽单元用于对信号探测单元进行电磁屏蔽；信号处理单元用于生成参考信号，并基于参考信号对入射光信号进行处理，输出目标信号。本申请的极微弱近红外信号探测装置，为了避免外部条件的影响，设计电磁屏蔽单元，同时采用TEC温控单元，调节光电倍增管维持在低温环境中，以避免光阴极面发热所射出的热电子产生的暗电流噪声，能够进一步提高光电倍增管的探测精度，同时可以让光电倍增管更稳定的工作。
-
公开(公告)号：CN115753690A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211166332.8
申请日：2022-09-23
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01N21/49
摘要： 本发明公开了一种用于元件表面的散射特性测量装置及方法，以解决现有的显微镜检测方法检测效率低，检测成本高且容易伤害元件表面的问题。具体包括积分球A、积分球B、衰减模块、光源组件、第一探测器、第二探测器和数据处理单元；积分球A上设有入射口、第一出射口、采样口和第二出射口；光源组件对应设置在积分球A的入射口外，第一探测器对应设置在积分球A的第一出射口外；采样口分别与积分球A的入射口及第一出射口对应，采样口用于设置待测元件；积分球B上设有入射口和出射口；第二探测器设置对应在积分球B的出射口处；衰减模块设置在积分球A的第二出射口与积分球B的入射口之间；数据处理单元分别与第一探测器和第二探测器电连接。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
23 条记录 (耗时 0.05 秒)