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公开(公告)号：CN115236369A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210859753.2
申请日：2018-05-24
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
IPC: G01R1/067
Abstract: 本发明提供一种当在高温环境下收缩、解放弹簧部时，也提升弹簧部的耐热性的接触探针。本发明的接触探针具有Ni‑P层，且P的浓度根据Ni‑P层的厚度方向的位置而不同。优选在Ni‑P层的厚度方向上，从Ni‑P层的内侧起依次具有第1部分及第2部分，且第2部分的P的浓度比第1部分低。
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公开(公告)号：CN114930175A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202080092179.1
申请日：2020-12-22
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
Abstract: 提供一种容易制造的接触器、使用其的检查治具、检查装置及所述接触器的制造方法。接触器Pr包括在筒状体F形成有狭缝SL的螺旋弹簧CS以及第一导体P1、第二导体P2，底壁部F4、第一侧壁部F1、第二侧壁部F2及顶壁部F3以筒状体F的轴方向观察的剖面形状变成矩形的方式构成，狭缝SL包含第一狭缝SL1、第二狭缝SL2、第三狭缝SL3及第四狭缝SL4，第三狭缝SL3与第一狭缝SL1及第二狭缝SL2连接，第四狭缝SL4与第二狭缝SL2连接，在筒状体F的侧视中，第一狭缝SL1及第二狭缝SL2为矩形状，第一导体P1与筒状体F的一端部Fx1连结，第二导体P2与筒状体F的另一端部Fx2连结。
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公开(公告)号：CN113287023A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201980088423.4
申请日：2019-12-19
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 本发明的探针Pr包括：筒状体Pa，具有导电性且具有筒状形状；以及第一中心导体Pc，具有导电性且具有棒状形状；筒状体Pa的与轴方向垂直的剖面的形状为矩形或六边形，第一中心导体Pc中，第一中心导体Pc的与轴方向垂直的剖面的形状和筒状体Pa的剖面的形状相同，且包含：第一插入部，插入筒状体Pa的一端部侧；以及第一突出部Pc4，自筒状体Pa的一端部突出。
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公开(公告)号：CN112601965A
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201980055060.4
申请日：2019-08-08
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 当对筒状体23沿其轴向施加检查所需的负荷时，第一棒状本体21A的端部21D及第二棒状本体22A的端部22D位于主体部23B的内周侧，第一棒状本体21A的端部21D位于，相较于支撑主体部23B的支撑构件31中的支撑部32B的一端，更靠筒状体23的另一端侧，第二棒状本体22A的端部22D位于，相较于支撑部32B的另一端，更靠筒状体23的一端侧，主体部23B位于支撑部32B所处的整个部分，第一弹簧部23S1及第二弹簧部23S2中的至少一者的轴向中央部的外周面与支撑构件31之间的径向距离大于主体部23B与支撑部32B之间的距离。
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公开(公告)号：CN111448678A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201880079165.9
申请日：2018-11-26
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: MI元件1的制造方法包括：绝缘步骤，在非晶线2的外周形成绝缘体层3；无电解镀敷步骤，在绝缘体层3的外周面形成无电解镀敷层4；电解镀敷步骤，在无电解镀敷层4的外周面形成电解镀敷层5；抗蚀剂步骤，在电解镀敷层5的外周面形成抗蚀剂层R；曝光步骤，以激光对抗蚀剂层R进行曝光，而在抗蚀剂层R的外周面形成螺旋状的沟道部GR；以及蚀刻步骤，将抗蚀剂层R作为遮盖材而进行蚀刻，去除沟道部GR中的无电解镀敷层4及电解镀敷层5，从而由残存的无电解镀敷层4及电解镀敷层5形成线圈6。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115349166A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202180020742.9
申请日：2021-03-11
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 一种接触端子，其中筒状体包括：端部侧切口，在所述筒状体的轴向其中一侧端部，设置成自轴向其中一侧端面朝向轴向另一侧进行切口而成的形状；孔部，在所述轴向其中一侧端部开口；以及一对臂部，由所述端部侧切口与所述孔部夹持，第一导体所具有的第一插入部具有：倾斜部，外径随着朝向所述轴向其中一侧而变大；以及第一直部，连接于所述倾斜部的所述轴向其中一侧且外径沿着所述轴向固定，所述第一直部的外径大于所述筒状体的内径，所述第一直部与所述臂部接触，配置于所述第一直部的轴向其中一侧端的壁面部能够与所述孔部接触。
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公开(公告)号：CN115210581A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202180016870.6
申请日：2021-02-13
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
IPC: G01R1/067
Abstract: 一种筒状体，沿长边方向延伸且具有导电性，所述筒状体包括：第一弹簧部，在所述筒状体的周面上形成螺旋状的切口；第二弹簧部，在所述筒状体的周面上形成螺旋状的切口；以及第一主体部，在长边方向上被所述第一弹簧部与所述第二弹簧部夹持地配置，且筒状体中，所述筒状体的自长边方向中心至所述第一弹簧部的长边方向内侧端为止的距离与自所述长边方向中心至所述第二弹簧部的长边方向内侧端为止的距离相等，所述第一弹簧部的匝数与所述第二弹簧部的匝数相等，所述第一弹簧部包括：第一螺旋弹簧部，卷绕方向为第一方向；以及第二螺旋弹簧部，卷绕方向为与所述第一方向为相反方向的第二方向。
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公开(公告)号：CN109564244B
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN201780046355.6
申请日：2017-07-20
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 本发明的检查辅助具、基板检查装置及检查辅助具的制造方法可通过简单的构成使探针(Pr)的支撑状态稳定。检查辅助具包括：检查侧支撑体，是具有相对向板(51)，所述相对向板(51)是设有与所述基板相对向而配置的相对向面(F)；以及电极侧支撑体(6)，是具有支撑板(61)至支撑板(63)，所述支撑板(61)至支撑板(63)是与位于所述相对向板(51)的与所述相对向面(F)为相反侧处的电极板(9)相对向而配置；支撑板(61)至支撑板(63)是设有插通并支撑探针(Pr)的后端部的探针支撑孔(23)，所述探针支撑孔(23)是相对于与相对向板(51)的相对向面(F)正交的方向的基准线(Z)，沿着以一定角度(θ)倾斜的支撑线(V)而形成，并且具备限制所述探针(Pr)的后端部往与所述支撑线(V)的倾斜方向正交的方向移动的限制面。
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公开(公告)号：CN111352018A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201911298847.1
申请日：2019-12-17
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种检查治具及其制造方法、以及具有检查治具的检查装置。本发明使能够将探针的一端部与检查对象的被检查部正确地对位的检查治具、及具有所述检查治具的基板检查装置的生产性提高。本发明的检查治具包括：棒状的探针(3)，一端部被压接于检查对象；以及板状的第一支撑体(检查侧支撑体(5))，具有支撑所述探针(3)的支撑孔(51)，并且所述支撑孔(51)包括随着从所述第一支撑体(检查侧支撑体(5))的一壁面(相向壁面(5A))侧靠近所述第一支撑体(检查侧支撑体(5))的板厚方向中间部(5C)侧而扩径的第一锥孔部(53)。
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公开(公告)号：CN109564244A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780046355.6
申请日：2017-07-20
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 本发明的检查辅助具是用以使探针Pr接触设于作为检查对象的基板的检查点的检查辅助具，检查辅助具包括：检查侧支撑体，是具有相对向板51，所述相对向板51是设有与所述基板相对向而配置的相对向面F；以及电极侧支撑体6，是具有支撑板61至支撑板63，所述支撑板61至支撑板63是与位于所述相对向板51的与所述相对向面F为相反侧处的电极板9相对向而配置；支撑板61至支撑板63是设有插通并支撑探针Pr的后端部的探针支撑孔23，所述探针支撑孔23是相对于与相对向板51的相对向面F正交的方向的基准线Z，沿着以一定角度θ倾斜的支撑线V而形成，并且具备限制所述探针Pr的后端部往与所述支撑线V的倾斜方向正交的方向移动的限制面。
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