薄膜晶体管及其制造方法
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100550426C

    公开(公告)日:2009-10-14

    申请号:CN200580000956.0

    申请日:2005-04-25

    CPC classification number: H01L29/66757 H01L29/4908

    Abstract: 本发明提供一种在确保良好的生产性同时又具有优良特性和高可靠性的栅绝缘层的薄膜晶体管及其制造方法。本发明提供的薄膜晶体管,包括:在基板9上含有源区17、沟道区18、漏区19的有源层11,栅电极层16,以及在有源层11和栅电极层16之间所形成的栅绝缘层15的薄膜晶体管,栅绝缘层15由在有源层11一侧形成的第1氧化硅膜12、在栅电极层16一侧形成的第2氧化硅膜14,和在第1氧化硅膜12与第2氧化硅膜14之间形成的氮化硅膜13而形成。

    薄膜晶体管
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101567392A

    公开(公告)日:2009-10-28

    申请号:CN200910141769.4

    申请日:2005-04-25

    CPC classification number: H01L29/66757 H01L29/4908

    Abstract: 本发明提供一种在确保良好的生产性同时又具有优良特性和高可靠性的栅绝缘层的薄膜晶体管。本发明提供的薄膜晶体管,包括:在基板(9)上含有源区(17)、沟道区(18)、漏区(19)的有源层(11),栅电极层(16),以及在有源层(11)和栅电极层(16)之间所形成的栅绝缘层(15)的薄膜晶体管,栅绝缘层(15)由在有源层(11)一侧形成的第1氧化硅膜(12)、在栅电极层(16)一侧形成的第2氧化硅膜(14),和在第1氧化硅膜(12)与第2氧化硅膜(14)之间形成的氮化硅膜(13)而形成。

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