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公开(公告)号：CN108445111A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201810437372.9
申请日：2018-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请公开一种用于样品检测的闸机系统及样品检验方法。涉及检测分析领域，该闸机系统，包括：容纳装置，用于容纳插入的待测票证；擦拭采样装置，包括擦拭采样带，所述擦拭采样带带动所述待测票证在所述容乃装置内移动，并且对所述待测票证进行擦拭采样；吸气采样装置，用于收集从所述擦拭采样装置上掉落的样品；以及检测装置，用于对所述样品进行检测，输出检测结果。本申请公开的用于样品检测的闸机系统及样品检验方法，适用范围广，能够对难挥发物质进行快速的取样检测。
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公开(公告)号：CN104515781B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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公开(公告)号：CN104345334B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201310341234.8
申请日：2013-08-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明涉及阳极丝对中性能改善的中子探测管和中子探测设备。具体地，提供了一种中子探测管，其包括：阴极管，所述阴极管内限定有轴向延伸的管腔，且管腔内壁具有中子敏感材料；阳极丝，所述阳极丝在所述阴极管的管腔中轴向延伸；绝缘套，所述绝缘套的一部分气密密封地沿轴向插入所述阴极管中的一端，而且所述绝缘套内限定有通向所述阴极管的管腔的第一中央内孔；以及同心装置，其被置于所述绝缘套的第一中央内孔中，且被配置成使得所述阳极丝至少在轴向向内穿过所述同心装置后被居中于所述阴极管的中心轴线。本发明还提供了一种中子探测设备，其包括至少一只所述中子探测管；以及用于组合所述中子探测管的阵列组合装置。
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公开(公告)号：CN106374224A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201510437014.4
申请日：2015-07-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法。在一示例中，电磁波成像系统可以包括：天线阵列，用于接收来自目标物体的电磁波，并将电磁波转换为电信号；信号处理单元，用于对电信号进行处理，以获得目标物体的图像；以及距离测量装置，用于测量目标物体到天线阵列的距离，其中，信号处理单元至少部分地基于所测量的距离来对电信号进行校正。
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公开(公告)号：CN103584877B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201310546294.3
申请日：2009-05-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种对被检测对象的感兴趣区域进行CT成像的方法，包括步骤：获取所述感兴趣区域的CT投影数据；获取B区域的CT投影数据；选择一组覆盖所述感兴趣区域的PI线段，并且为所述PI线段组中的每条PI线段计算其上的重建图像值；然后组合所述PI线段组中的所有PI线段上的重建图像值而得到所述感兴趣区域的图像。本发明还公开了采用该方法的CT成像设备及其中的数据处理单元。由于只需要X射线束覆盖感兴趣区域和B区域即能够精确重建获得该感兴趣区域的二维/三维断层图像，因此可以使用较小尺寸的探测器实现大尺寸物体任意位置感兴趣区域的CT成像，这能够大大降低CT扫描过程中的X射线辐射剂量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103646845B
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201310690394.3
申请日：2010-06-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 一种用于离子迁移谱仪的迁移管模块，包括：迁移管本体模块；高压电源和门控电路模块；以及前端放大电路模块，其中所述高压电源和门控电路模块和所述前端放大电路模块与所述迁移管本体模块通过电缆形成电连接；所述迁移管模块还包括连接机构，其中高压电源和门控电路模块以及前端放大电路模块通过所述连接机构与迁移管本体模块形成物理以成为一体结构。
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公开(公告)号：CN105629291A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201511001225.X
申请日：2015-12-28
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/38
CPC classification number: G01T1/38
Abstract: 本发明公开了对溴化镧γ谱仪的输出信号进行甄别处理的方法及其应用，其中，输出信号为γ射线和α粒子的辐射信号。对溴化镧γ谱仪的输出信号进行甄别处理的方法包括：利用溴化镧γ谱仪探测待测物的辐射，以便得到输出信号；对输出信号进行分析，以便得到γ射线的特征量和α粒子的特征量；基于γ射线的特征量和α粒子的特征量，以便得到γ射线的特征量和α粒子的特征量随能量的分布图；以及基于分布图，对输出信号中的γ射线和α粒子的辐射信号进行区分，并得到γ射线的能谱测量值γ测和α粒子的能谱测量值α测。该方法可以简单、高效地区分输出信号中的γ射线和α粒子的辐射信号。
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公开(公告)号：CN104749604A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310746145.1
申请日：2013-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T1/202
CPC classification number: G01T1/2002 , G01T1/2008
Abstract: 本发明公开了一种背散射闪烁探测器装置，包括：闪烁晶体探测器；设置在闪烁晶体探测器前端的X射线增感屏，来自被探测对象的背散射X射线与X射线增感屏作用之后，至少部分入射到闪烁晶体探测器上；以及设置在闪烁晶体探测器后端的光电倍增管，其用于收集来自闪烁晶体探测器的光信号，并将其转化成电信号。通过采用上述优选实施方式，其将X射线增感屏、闪烁晶体探测器、光导、移波等技术融合在一体组成新颖的闪烁探测器，使X射线背散射探测器等更加有效探测射线、使光信号更加有效传导和转换成电信号输出，从而简化了设备的结构和成本，同时极大提高了设备的探测效率和检测精度。
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公开(公告)号：CN104634796A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201410767544.0
申请日：2014-12-11
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0016 , G01V5/0008 , G21K1/02
Abstract: 本发明公开了一种用于集装箱或车辆检查系统的对准系统、检查系统和对准方法。检查系统包括射线源、准直器以及安装在探测器臂上的探测器模块，射线源、准直器以及探测器模块布置成形成检查通道，射线源发射的射线束经过准直器入射到被检查物体，由探测器模块收集被衰减的射线束以完成检查。对准系统包括测量模块，所述测量模块布置成接收从准直器发出的射线束并通过测量射线束确定射线源和准直器的位置和方向。该对准方法可以更加准确地测量射线源中心点、探测器笔端中心线及准直器中心线的对准程度。
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公开(公告)号：CN102565110B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201010624252.3
申请日：2010-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203 , G01N2223/3301 , G01V5/0025 , G21K1/043
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像用射线束的扫描装置，包括：辐射源；固定屏蔽板和旋转屏蔽体，固定屏蔽板上设置有允许来自辐射源的射线束穿过固定屏蔽板的射线通过区域，旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域，固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙，旋转屏蔽体为圆柱体，射线入射区域和射线出射区域分别为沿螺旋线设置的一系列离散小孔，其中：旋转屏蔽体的旋转轴线位于辐射源和固定屏蔽板上的直线缝隙共同限定的平面上，其特征在于：通过控制旋转屏蔽体上的一系列离散小孔的不同位置的形状和大小，可以控制扫描准直孔在不同位置的形状和大小，以控制穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的形状和大小。
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