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公开(公告)号：CN1210571C
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN01109772.8
申请日：2001-04-12
申请人： 株式会社鼎新
发明人： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/3191 , G01R31/31937
摘要： 一种基于事件的半导体测试系统，包括：多个插接板，每个插接板有多个插接单元；非易失性存储器，设置在每个插接板内，用来存储插接板上所有插接单元的有关误差因素的校准数据；以及微处理器，设置在每个插接板内，用于管理所有插接单元的校准数据以及执行校准过程；其中，每个插接单元均被配置成一个基于事件的测试器。这种测试系统能够对所有插接板的校准数据实现效费比高、无差错、简单可靠的管理。
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公开(公告)号：CN1576876A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410071689.3
申请日：2004-07-21
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
IPC分类号： G01R35/00
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/31905
摘要： 本发明关于校准装置用以校准测试装置之测试频道，使一衬底晶片上之集成组件可为了以电子信号测试而被接触连接，该校准装置具有一连接装置以及具有一第一接触区域及与该第一接触区域隔离之一第二接触区域之一平面接触载体，其可经由该连接装置被电连接，该连接装置适用于连接该第一及第二接触区域至该测试装置，该第一接触区域实质上由该第二接触区域包围，因此，当连接至该测试装置之一针卡被放置于该校准装置之该接触载体之上时，该针卡之连接至将被校准之测试频道之一接触连接针被设置于该第一接触区域之上，且实质上复数或所有该针卡之位于未被校准之测试频道之其它接触针被放置于该第二接触区域。
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公开(公告)号：CN1320824A
公开(公告)日：2001-11-07
申请号：CN01110514.3
申请日：2001-04-05
申请人： 株式会社鼎新
发明人： 菅森茂
CPC分类号： G01R31/31921 , G01R31/3004 , G01R31/3191
摘要： 一种用于半导体测试系统中的电源电流测量单元,包括:D/A转换器,基于接受的数字信号,产生供给被测器件的电源电压;运算放大器,用于形成负反馈回路并把电源电压供给被测器件,由此通过电阻器,把电源电流提供给电源引线;电压放大器,用于放大代表电源电流量的电压;积分电路,用于在预定积分时间内对电压放大器的输出信号进行积分;A/D转换器,用于在积分时间之后,转换积分电路的输出信号。该单元能对被测器件的电源电流进行高速、准确地测试。
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公开(公告)号：CN1192275A
公开(公告)日：1998-09-02
申请号：CN96196023.X
申请日：1996-03-25
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 小格拉尔德·F·米廷 , 乔治·W·康纳
IPC分类号： G01R31/316
CPC分类号： G01R31/2882 , G01R31/3191 , G01R31/31922
摘要： 用低成本CMOS元件实现的自动测试设备,使用了一个延迟锁定环以补偿由过程变化和工作温度的慢变化所引起的定时差异。本设计还减少了在处理随被编程频率变化的信号的主要定时通路中的电路元件数量。
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公开(公告)号：CN108333469A
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：CN201810044309.9
申请日：2018-01-17
申请人： 弗兰克公司
CPC分类号： G01R27/28 , G01R27/02 , G01R27/2605 , G01R27/32 , G01R31/3191 , G01R35/00 , G01R35/005 , G01R31/086 , G01R1/30
摘要： 本发明涉及一种网络分析仪，所述网络分析仪包括主单元和物理地分离的远程单元。在至少一种配置中，所述主单元生成测试信号并穿过待测装置向所述远程单元发射测试信号。所述主单元中的参考电路使用来自本地振荡器和模拟-数字ADC采样时钟的信号来产生代表如发射到所述待测装置的所述测试信号的参考信号数据。所述远程单元中的接收电路使用如所述参考电路为了产生所述参考信号数据而使用的来自所述本地振荡器和ADC采样时钟的相同信号来产生代表如从所述待测装置接收的所述测试信号的所接收的信号数据。将所接收的信号数据与所述参考信号数据进行比较，指示所述待测装置的参数，包括如由所述待测装置引起的所述测试信号的衰减和相移。
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公开(公告)号：CN108291929A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201680068809.5
申请日：2016-08-25
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 马可·斯皮尔曼
CPC分类号： G01B7/02 , G01D5/24 , G01R1/24 , G01R27/26 , G01R27/2605 , G01R31/31901 , G01R31/3191 , G06K9/0002 , H03K17/955
摘要： 本发明提供了一种用于确定电路径长度的示例方法，所述方法包括：将电流注入具有已知的每单位长度电容的传输线中；确定所述传输线上的响应于所述电流的电压变化的速率；基于所述电压变化来确定所述传输线的电容；以及基于所述传输线所确定的电容和所述已知的每单位长度电容来确定所述传输线的电路径长度。
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公开(公告)号：CN105429715B
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201510594158.0
申请日：2015-09-17
申请人： 安立股份有限公司
CPC分类号： G01R35/00 , G01R31/3191
摘要： 本发明提供一种试验装置以及其校正方法。一种试验装置，其特征在于，具备：信号发生部，发生用于输出至被试验装置的第1信号；输出部，被连接到被试验装置；路径选择部，被设置在信号发生部和输出部之间，且对多个路径的其中一个进行选择；输入部，输入来自被试验装置的第2信号；信号接收部，接收第2信号；修正值计算部，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值；输出侧回送部，被设置在路径选择部和输出部之间，且被连接到将第1信号回送至信号接收部侧的回送路径或者输出部的其中一个；以及输入侧回送部，被设置在信号接收部和输入部之间，且被连接到回送路径以及输入部的其中一个。
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公开(公告)号：CN103328994B
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201080070917.9
申请日：2010-12-22
申请人： 爱德万测试公司
发明人： 马丁·穆克 , 桑德拉-克里斯汀·佛瑞克 , 乔纳斯·豪斯特
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/3191
摘要： 一种用于测试被测器件的测试器的校准模块，该校准模块包括一对RF通道端子、校准装置、一对测量端子和模式选择器。该对RF通道端子被配置为向测试器的RF通道发送或从测试器的RF通道接收测量信号。校准装置被配置为基于发送到RF通道或从RF通道接收的测量信号来执行RF通道的校准。该对测量端子被配置为向被测器件发送或从被测器件接收测量信号。模式选择器用于在校准阶段中将该对RF通道端子连接到校准装置以便校准RF通道，并且在测量阶段中将该对RF通道端子连接到该对测量端子以便将测量信号从RF通道引导至被测器件或将测量信号从被测器件引导至RF通道。
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公开(公告)号：CN105429715A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510594158.0
申请日：2015-09-17
申请人： 安立股份有限公司
CPC分类号： G01R35/00 , G01R31/3191
摘要： 本发明提供一种试验装置以及其校正方法。一种试验装置，其特征在于，具备：信号发生部，发生用于输出至被试验装置的第1信号；输出部，被连接到被试验装置；路径选择部，被设置在信号发生部和输出部之间，且对多个路径的其中一个进行选择；输入部，输入来自被试验装置的第2信号；信号接收部，接收第2信号；修正值计算部，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值；输出侧回送部，被设置在路径选择部和输出部之间，且被连接到将第1信号回送至信号接收部侧的回送路径或者输出部的其中一个；以及输入侧回送部，被设置在信号接收部和输入部之间，且被连接到回送路径以及输入部的其中一个。
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公开(公告)号：CN103608690A
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201280028282.5
申请日：2012-06-05
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 布雷德利·A·菲利普斯
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3191
摘要： 校准测试设备可包括：使所述测试设备中的第一通道组的时序调准；使所述测试设备中的第二通道组的时序调准，所述第二通道组不同于所述第一通道组；确定第一通道与第二通道之间的时序未调准，所述第一通道来自所述第一通道组，所述第二通道来自所述第二通道组；针对所述未调准，补偿所述第一组或所述第二组至少一个中的通道。
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