一种基于多孔半导体沟道的垂直OECT及其制备方法

    公开(公告)号:CN115656296A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211309188.9

    申请日:2022-10-25

    IPC分类号: G01N27/414

    摘要: 本发明公开了一种基于多孔半导体沟道的OECT及其制备方法,主要包括衬底、源极、多孔半导体层、漏极、封装层、电解质层以及栅极;在制备过程中,采用垂直结构的方式先制备衬底,并对衬底进行清洗并干燥;接着依次在衬底上制备源极,在源极上制备多孔半导体层,在多孔半导体层上制备漏极,在衬底上制备封装层,并暴露出位于漏极与源极重叠部分,在漏极上方制备电解质层,最后制备与电解质层相连的栅极。

    一种光扫描式涡流磁光成像无损检测装置

    公开(公告)号:CN115541702A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211100583.6

    申请日:2022-09-09

    IPC分类号: G01N27/90 G01N21/88

    摘要: 本发明公开了一种光扫描式涡流磁光成像无损检测装置,在磁光成像系统中用偏振分光棱镜进行检偏,设置检偏角为对磁场响应最灵敏的45度,用增透膜消除反射光的影响,被测试件表面磁场变化会影响入射到偏振分光棱镜的线偏振光的偏振角度,从而影响偏振分光棱镜的两路输出线偏振光的光强差,通过自平衡光电探测器进行光电转换,锁定放大器进行放大,然后将信号的幅值和相位通过成像及信号处理系统中进行扫描成像,最后通过成像的亮度变化来反应。

    一种具有分数阶微积分运算和显示功能的数字示波器

    公开(公告)号:CN113377340B

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202110514250.7

    申请日:2021-05-12

    IPC分类号: G06F7/64 G06F7/523 G06F7/498

    摘要: 本发明公开了一种具有分数阶微积分运算和显示功能的数字示波器,在现有技术基础上,增加分数阶运算模块,其根据数字示波器参数和设置计算出的固定系数存储在固定系数存储器中,并将固定系数通过N‑1个D触发器延时单元移位输出到N个分数阶运算单元与采集数据相乘,并累加,得到N个分数阶运算结果,这样进行L/N次分数阶运算,得到L个分数阶运算结果,送入信号处理显示模块,通过绘图线程转为显示数据并送入LCD进行显示,实现了数字示波器对于输入信号的分数阶微积分运算和显示。同时,N个分数阶运算单元使用乘累加器模块设计,采用并行运算模式,以提高了实时运算效率,大幅减少数字示波器的数据处理时间。

    基于复合压电薄膜体声波谐振的材料弹性模量测量方法

    公开(公告)号:CN114778698B

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210688060.1

    申请日:2022-06-17

    IPC分类号: G01N29/12 G01N29/44

    摘要: 本发明公开了基于复合压电薄膜体声波谐振的材料弹性模量测量方法,属于薄膜材料的弹性模量测量技术领域,先构建复合压电薄膜结构,根据其中压电薄膜层的压电方程获得上下表面作用力表达式,及下电极层、上电极层和待测薄膜层的上下表面作用力表达式,类比得到复合压电薄膜结构的等效电路模型,进而求得总阻抗表达式,获得待测薄膜层的测量谐振频率和弹性模量取值区间内的理论谐振频率,采用二分法迭代更新弹性模量取值区间,直至测量谐振频率与理论谐振频率的差值在最小误差范围内,对应弹性模量为待测薄膜层的最终弹性模量。本发明采用间接测量法,仅更换待测薄膜层即可计算不同材料的弹性模量,具有结构简单、低成本、可在线重复测试的优点。

    一种无线传感器网络链路故障检测方法

    公开(公告)号:CN115119241A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210703611.7

    申请日:2022-06-21

    IPC分类号: H04W24/04 H04W24/06 H04W84/18

    摘要: 本发明公开了一种无线传感器网络链路故障检测方法,首先将各传感器之间的信息交互建模为拓扑图;然后基于图分解技术,将无线传感器网络的拓扑图完全分解为只包含环或树的子图;再利用几类分布式迭代算法对每个子图进行链路故障检测,其中,通过观察子图中节点在几类算法中的状态解,可以实现子图上故障链路的精准检测与定位;最后,将故障检测方法遍历全部子图,即实现对待检测无线传感器网络所有故障链路的全部检测及定位。

    基于图像配准及融合的激光剪切散斑干涉缺陷检测系统

    公开(公告)号:CN108280824B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN201810049057.9

    申请日:2018-01-18

    摘要: 本发明公开了一种基于图像配准及融合的激光剪切散斑干涉缺陷检测系统,包括:激光光源、扩束镜、分束镜、剪切器、相移器、图像采集器和集成图像处理算法和相移器控制算法的PC机;先利用双摄像头的图像采集器同时记录了被测物体在热加载前后的激光剪切散班干涉条纹图和原始图像,再通过图像处理算法和相移器控制算法对热加载前后的激光剪切散班干涉条纹图进行处理,得到相位差图像,最后将相位差图像与原始图像进行融合和配准,实现缺陷位置检测的快速精确定位。

    一种长度伸缩谐振型磁传感器

    公开(公告)号:CN114609554A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210506574.0

    申请日:2022-05-11

    IPC分类号: G01R33/02 G01R33/00

    摘要: 本发明公开一种长度伸缩谐振型磁传感器,属于磁传感器技术领域,包括第一引出电极,第二引出电极,以及自下而上依次设置的基座、下磁敏薄膜、下电极层、压电薄膜层、上电极层和上磁敏薄膜;压电薄膜层包括中间镂空的绝缘结构,位于绝缘结构镂空区域的长度伸缩型压电薄膜结构,以及两个用于固定的支撑梁;基座上表面设有空腔,下磁敏薄膜和下电极层位于空腔内部对应压电薄膜结构位置;上电极层与第一引出电极相连,下电极层贯穿绝缘结构与第二引出电极相连。本发明中下磁敏薄膜和上磁敏薄膜均可与待测磁场充分接触,同时利用压电薄膜结构的长度伸缩特性,保证ΔE效应的充分转换,提高磁传感器的相对灵敏度。

    基于HOG、LBP和GLCM特征融合的吸波涂层散斑缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN111798418B

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202010572723.4

    申请日:2020-06-22

    摘要: 本发明公开了一种基于HOG、LBP和GLCM特征融合的吸波涂层散斑缺陷检测方法,收集若干吸波涂层散斑图像样本并对是否存在脱粘缺陷进行标注,对于每幅散斑图像样本分别提取其HOG特征向量并降维,对于每幅散斑图像样本获取对应的LBP图像,然后对LBP图像提取对应的GLCM特征向量,将每幅散斑图像样本降维后的HOG特征向量和GLCM特征向量进行串行特征融合,得到融合特征向量并进行降维,将降维后的融合特征向量及对应标签对分类模型进行训练,在缺陷检测时,从需要进行缺陷检测的吸波涂层散斑图像中提取出降维后的融合特征向量,输入训练好的分类模型得到缺陷检测结果。本发明融合了HOG、LBP和GLCM进行纹理特征提取,对于散斑图像的脱粘缺陷检测可以取得更好的检测效果。

    一种顾及观测值系统误差的部分模糊度固定算法

    公开(公告)号:CN113466903B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202110936487.4

    申请日:2021-08-16

    摘要: 本发明公开了一种顾及观测值系统误差的部分模糊度固定算法,获取卫星集合对应的载波相位观测值和伪距观测值,初步解算得到整周模糊度参数,然后通过LAMBDA算法搜索得到最优模糊度组和次优模糊度组,对最优模糊度组进行可靠性检验,如果检验通过,则根据最优模糊度组计算得到其他待估参数固定解,如果检验不通过,当最优固定解和次优解固定解的三维分量差值小于阈值时,进行卫星集合筛选并能过位置精度衰减因子判断筛选出的卫星集合是否满足部分模糊度固定要求:满足由进行部分模糊度固定,否则本历元模糊度固定失败。本发明同时考虑模糊度浮点受到的系统误差影响及其方差信息,提高模糊度固定的成功率,缩短收敛时间。