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公开(公告)号：CN114062740A
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202111189327.4
申请日：2021-10-12
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G01R1/18
摘要： 本发明实施例提供一种用于多信号单线进入暗室的滤波装置，属于滤波技术领域。所述装置包括：金属外壳；暗室屏蔽体；所述金属外壳与所述暗室屏蔽体围合构成具有密封腔的箱体结构，所述密封腔内封装有金属沙；所述暗室屏蔽体用于接入包覆有金属屏蔽层的单芯导线并容许剥离金属屏蔽层的所述单芯导线穿过所述密封腔后进入暗室，所述单芯导线的金属屏蔽层断面与所述暗室屏蔽体接触，以通过所述暗室屏蔽体、所述金属外壳及所述金属沙构成的导电平面消耗干扰信号。本发明方案既保证了单芯导线上的各种有用信号顺利进入电波暗室，又防止了其它干扰信号进入电波暗室，满足了同一线路上多种信号进入暗室的相关要求。
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公开(公告)号：CN113945773A
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN202110283041.6
申请日：2021-03-16
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司
IPC分类号： G01R29/12
摘要： 本发明实施例提供一种用于静电测试的监测装置及静电测试系统，属于CDM测试技术领域。所述监测装置包括：采集模块，与用于静电测试的静电泄放弹性针连接，用于在对所述静电泄放弹性针进行测试位置调试的过程中，采集所述静电泄放弹性针与被测试物体的接触压力，并生成对应的压力信号；控制模块，与所述采集模块连接，用于接收所述压力信号，并根据所述压力信号确定所述静电泄放弹性针与所述被测试物体的接触状态，以及生成对应于不同接触状态的不同控制指令；以及告警模块，与所述控制模块连接，用于响应于不同的所述控制指令而进行告警提示。通过该技术方案可以精确定位静电泄放弹性针的测试位置，提高测试的效率性和准确性。
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公开(公告)号：CN216902809U
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202122967390.8
申请日：2021-11-29
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本实用新型实施例提供一种芯片局部涂覆装置，属于芯片分析处理设备技术领域，所述装置包括：机箱、涂覆装置、载物台和显微镜，所述机箱的一侧开设有涂覆作业口，所述涂覆装置包括涂覆探针，所述涂覆装置安装在所述机箱内部，且所述涂覆探针从所述涂覆作业口伸出至所述机箱外部，所述显微镜和所述载物台固定安装在所述涂覆作业口上下两侧的机箱上，且所述载物台位于所述涂覆作业口的下方，所述显微镜位于所述涂覆作业口的上方。通过涂覆装置在芯片坑洼或层数较少的部位涂覆覆盖材料，利用覆盖材料的遮挡性和粘附性对芯片坑洼或层数较少的部位形成保护膜，以实现在干法刻蚀和湿法刻蚀去层过程中仅将层数多的部位进行去层，使芯片处于同一层次。
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公开(公告)号：CN217156734U
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202221594855.8
申请日：2022-06-24
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本公开涉及硬件测试技术领域，具体涉及公开了一种HAST测试板及测试设备，该HAST测试板包括：至少一个测试座，每个测试座用于放置一个待测芯片，所述测试座包括多个插口，各测试座中的同一个插口相连至同一端口，针对用于插入信号类管脚的任一信号类插口，所述信号类插口连接至对应的信号类端口，所述信号类端口通过可拆卸连接件连接第一电源端口或接地端口；所述可拆卸连接件连接所述信号类端口和所述第一电源端口时，所述信号类端口连接第一电源端口；所述可拆卸连接件连接所述信号类端口和所述接地端口时，所述信号类端口连接接地端口。该技术方案可以提高测试的灵活性，主要用于对芯片进行HAST测试。
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公开(公告)号：CN215493850U
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202120545645.9
申请日：2021-03-16
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司
IPC分类号： G01R29/12
摘要： 本实用新型实施例提供一种用于静电测试的监测装置及静电测试系统，属于CDM测试技术领域。所述监测装置包括：采集模块，与用于静电测试的静电泄放弹性针连接，用于在对所述静电泄放弹性针进行测试位置调试的过程中，采集所述静电泄放弹性针与被测试物体的接触压力，并生成对应的压力信号；控制模块，与所述采集模块连接，用于接收所述压力信号，并根据所述压力信号确定所述静电泄放弹性针与所述被测试物体的接触状态，以及生成对应于不同接触状态的不同控制指令；以及告警模块，与所述控制模块连接，用于响应于不同的所述控制指令而进行告警提示。通过该技术方案可以精确定位静电泄放弹性针的测试位置，提高测试的效率性和准确性。
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公开(公告)号：CN215493332U
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202121226222.7
申请日：2021-06-02
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本实用新型提供一种超声波无损检测设备，属于元器件缺陷检测技术领域。所述无损检测设备包括超声波头、移动装置、夹持装置、底板和样品池；所述超声波头位于所述移动装置上，用于产生并且检测超声波信号；所述移动装置用于带动所述超声波头移动；所述夹持装置用于夹持待测样品；所述底板用于支撑所述待测样品；所述样品池用于容纳所述待测样品、底板和所述夹持装置；所述夹持装置包括固定部件和活动部件，所述固定部件固定于所述底板上，所述活动部件与所述固定部件相连接，以形成中空结构。本实用新型提供的无损检测设备，待测样品扫描图像清晰度高，可以自动显示待测样品缺陷的位置及大小。
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公开(公告)号：CN217387104U
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202221014267.2
申请日：2022-04-27
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： H01L21/673 , H01L21/66
摘要： 本实用新型实施例提供一种用于芯片在非工作状态下可靠性测试的装载用具，属于电子元器件测试领域。所述装载用具包括基板，所述基板上开设有多个流通孔，所述流通孔均匀分布在所述基板上，所述流通孔用于流通空气；所述基板的其中三条侧边上设置有板边，三条侧边上的板边围合形成门字形，所述板边的外边沿与所述基板的外边沿齐平。该基板上开设多个流通孔，便于测试箱内部气体与放置在基板上的芯片充分接触，门字形板边能够在移动过程中防止芯片从侧边滑落；门字形板边的开口侧便于倒出芯片。
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公开(公告)号：CN214953920U
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202120529480.6
申请日：2021-03-12
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本实用新型实施例提供一种用于芯片测试的夹具和芯片测试装置，属于芯片测试分析领域。所述夹具包括：第一板和第二板；所述第一板的表面具有用于与芯片的管脚相接触的触点；所述第二板上可伸缩地连接有多个按压件。本实用新型提供的用于芯片测试的夹具，适用于不同管脚数量的BGA封装芯片与测试机的连接，可以使被测芯片在测试过程中稳定接触触点，芯片的安装与拆卸方便。
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公开(公告)号：CN118965818A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411427801.6
申请日：2024-10-14
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网山西省电力公司营销服务中心
IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/04
摘要： 本公开涉及半导体技术领域，具体涉及一种半导体器件寿命预测方法、装置、电子设备及介质，所述方法包括：通过参数预测试获取半导体器件的参数信息；根据半导体器件的参数信息构造测试条件用于对半导体器件进行寿命预测试，以获取半导体器件在不同测试条件下的寿命预测试数据，根据寿命预测试数据确定多个目标参数中的最快退化参数和不同测试条件中的最快退化测试条件；寿命测试数据是使用最快退化参数和最快退化测试条件对半导体器件进行正式寿命测试得到的；基于寿命测试数据，采用插值计算或者数学模型拟合计算半导体器件寿命。本公开可以解决如何准确预测某些退化曲线容易饱和的半导体器件的寿命的问题。
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