一种透过散射介质宽场的三维成像方法

    公开(公告)号:CN111141706B

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN201911369942.6

    申请日:2019-12-26

    IPC分类号: G01N21/47 G01N21/41

    摘要: 本发明公开了一种透过散射介质宽场的三维成像方法,包括:搭建透过散射介质的目标3D成像系统;根据所述目标3D成像系统得到第一散斑图像和第二散斑图像;根据所述第一散斑图像得到第一目标光场,并根据所述第二散斑图像得到第一背景光场;根据所述第一目标光场和所述第一背景光场得到第二目标光场;根据所述第二目标光场得到重构的三维光场。本发明提供的透过散射介质宽场的三维成像方法可以高效的重构出散射介质前表面三维光场,且不受光学记忆效应限制,能够实现宏观复杂多目标宽场三维成像,同时具有很高的鲁棒性、灵活性和精度。

    一种基于动态场景的双曝光图像融合方法

    公开(公告)号:CN110599433A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910693162.0

    申请日:2019-07-30

    IPC分类号: G06T5/50 G06T7/136

    摘要: 本发明公开了一种基于动态场景的双曝光图像融合方法,包括获取第一曝光图像和第二曝光图像;根据自适应阈值对第一曝光图像和第二曝光图像进行处理得到二值图像,二值图像包括第一曝光图像和第二曝光图像的运动区域;根据Retinex理论对第一曝光图像和第二曝光图像进行亮度平衡处理对应得到第一亮度平衡图像和第二亮度平衡图像;将第一曝光图像和第二曝光图像分别与运动区域进行结合对应得到第一基础权重图像和第二基础权重图像;根据自适应细节增强的金字塔图像融合算法得到融合后的图像。本发明能够通过自适应阈值准确检测图像的运动区域,并通过亮度平衡算法平衡两帧图像的亮度,同时基于金字塔的自适应增强方法使得图像中欠曝光与过曝光区域信息得以清晰显现。

    一种基于条纹投影原理的物体三维面形测量系统及方法

    公开(公告)号:CN107726996A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201710903975.9

    申请日:2017-09-29

    IPC分类号: G01B11/24

    CPC分类号: G01B11/2433

    摘要: 一种基于条纹投影原理的物体三维面形测量系统及方法,属于物体三维测量技术领域。本发明通过在手机闪光灯罩上固定微型光学投影元件,使得开启闪光灯时光学投影元件内置的正弦条纹光栅投影于待测物体表面,同时智能手机采集经待测物体表面调制后得到的变形条纹,并通过数据处理模块处理即可在智能手机显示屏上显示物体的三维面形信息。这一测量系统与现有基于条纹投影的三维面形测量系统相比,具有经济、便携的优势,并且测量方法还具有操作简单、测量速度快的优势,有利于三维面形测量系统在日常生活中的应用。

    一种电子显示屏玻璃盖板表面缺陷检测系统及方法

    公开(公告)号:CN106841237A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710254710.0

    申请日:2017-04-18

    IPC分类号: G01N21/958

    CPC分类号: G01N21/958

    摘要: 本发明公开了一种电子显示屏玻璃盖板表面缺陷的检测系统及方法,本发明新型检测系统包括结构光照明设备,透镜,图像采集设备和处理设备,在结构光照明设备与待测表面之间增加透镜使待测表面成像的调制度最高,提高了检测结果的准确性,通过相移方式获取的调度分布来直接反映待测表面的缺陷信息,进一步通过对调制度分布图进行图像处理,可以得到检测表面的二值化缺陷信息。本发明检测方法对环境光不敏感,简单实用,能够快速地得玻璃盖板表面缺陷分布,尤其适用于电子显示屏领域,也可用于检测其余平面镜面、平面类镜面物件的缺陷。

    曲面电子显示屏用弧形玻璃面板缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN106705897A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201611207618.0

    申请日:2016-12-23

    IPC分类号: G01B11/30

    CPC分类号: G01B11/30

    摘要: 本发明提出曲面电子显示屏用弧形玻璃面板缺陷检测方法,属于光学三维测量技术领域。本发明所述方法将结构光照明技术用于电子显示屏玻璃面板缺陷检测领域,克服了传统检测方法无法对带弧边的玻璃面板曲率较大的弧边进行高精度检测的缺点,对于带弧边的玻璃面板可以同时高精度检测双侧弧边和中间平面部分的缺陷,具有快速、高精度、非接触、高灵敏度等优点。

    一种用于文字压痕的三维显现方法

    公开(公告)号:CN104101310A

    公开(公告)日:2014-10-15

    申请号:CN201410349840.9

    申请日:2014-07-22

    IPC分类号: G01B11/25

    摘要: 本发明提供了一种用于文字压痕的三维显现方法,该方法将相位测量轮廓术用于文件隐藏印压痕迹的显现测量中。基于相位测量轮廓术的物体表面三维面形测量方法是一种高精度、快速、非接触、非相干的光学全场测量技术,并且实验装置简单,主要包括计算机、数码相机和投影仪。将相位测量轮廓术用于文字压痕显现测量中可以直接得到待测表面的高度分布,从而定量的获得待测表面的文字痕迹,利用得到的高度数据可以识别待测表面的潜在文字,同时也可以根据字体的形状以及字体不同位置的深浅进行字迹比对检测,从而判定文字的写作者,在司法鉴定上有重要应用。本发明的主要增益:提供了一种高精度、快速、全场的文字压痕的测量方法。

    一种用于液晶空间光相位调制器相位检测的方法

    公开(公告)号:CN103105236B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201310018900.4

    申请日:2013-01-18

    IPC分类号: G01J9/02 G02F1/13

    摘要: 本发明提供了一种用于液晶空间光相位调制器相位检测的新方法,该方法以激光干涉系统为主要检测光路,包括激光器、起偏器、滤波器、激光干涉系统及数码相机。所述激光器发出的激光经过偏振片后变为线偏振光,再通过滤波器将激光出射光变得更加均匀,之后将激光分为两路,用待测液晶空间光相位调制器对其中一路光进行调制,用数码相机采集多帧相移干涉图像。计算干涉条纹图像的帧间强度相关(IIC)矩阵,通过最小二乘迭代得到每帧干涉图样的相位变化。该方法具有测量系统简单、对相移和干涉图样要求低、高精度等优点。