-
公开(公告)号：CN106249009A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610390737.8
申请日：2016-06-03
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
CPC classification number: G01R1/07378 , G01R31/2889 , G01R31/31716 , G01R31/31905 , G01R1/06772 , G01R1/07328
Abstract: 一种具有反馈测试功能的探针模块，设于一印刷电路板及一待测电子装置间，包括一转接件、二探针、二电感性元件及一电容。该转接件具有两连接线路；各该探针一端与各该连接线路连接，另一端点接触该待测电子装置；各该电感性元件设置于该转接件上，各该电感性元件其中一端电性连接一该连接线路，另一端通过一导电件电性连接该印刷电路板；该电容性元件设置于该转接件上，该电容性元件其中一端电性连接其中一该连接线路，另一端电性连接另一该连接线路。藉此，通过信号频率的差异即可进行信号传输路径的切换，有效地缩短高频传输时的传输路径。
-
公开(公告)号：CN106053896A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610230004.8
申请日：2016-04-14
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R31/31924 , G01R1/07314
Abstract: 一种探针卡，用于将一检测机的电源信号传输给二个待测电子物件，藉以通过该电源信号供应电源给该二待测电子物件进行电性检测；该探针卡包含有二根信号针、二电源线路以及至少一匹配件。该二信号针以导电材料制成，且其一端分别用于点触该二待测电子物件；该二电源线路一端与该检测机电连接，另一端分别与该二信号针电连接，用于传输电源信号至该二待测电子物件；该至少一匹配件与该二电源线路的至少其中之一并联，用于使该二电源线路的阻抗值小于一预定值之下；或者使该二电源线路的阻抗值的误差百分比小于一预定误差百分比。
-
公开(公告)号：CN102236035B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201010170894.0
申请日：2010-04-30
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明是一种可更换电子元件阻抗匹配结构的探针卡，包括有一可受操作而于一压制位置与一未压制位置之间移动的压板，该压板具有一压贴面在压板位于该压制位置时与电子元件的顶端接触，并造成电子元件与设置在一支撑单元上的导电接点电性连接，支撑单元为一电路板或一空间转换器。是以，通过改变压板的位置，即可达到产生压制作用力与否，在压制作用力被移除时，可进行电子元件的更换。
-
公开(公告)号：CN102466739B
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201010534218.7
申请日：2010-11-02
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明是提供一种探针卡，包括一印刷电路板，其具有一第一接点与一第二接点；一空间转换器，其具有一孔板与顺应性的一第一导线、一第二导线、一第三导线及一第四导线，该孔板具有多个孔洞，在该孔板的下表面上包括一第一导电层、一第二导电层、一第一接触垫及一第二接触垫，该第一导线的两端分别电性连接该第一接点及该第一导电层，该第二导线的两端分别电性连接该第二接点及该第二导电层，该第三导线分别连接该第一导电层及该第一接触垫，该第四导线分别连接该第二导电层及该第二接触垫，该第三导线及该第四导线是藉由穿设于所述孔洞分别连接该第一接触垫及该第二接触垫；以及一电子元件，其位于该孔板的下表面，并电性连接该第一导电层及该第二导电层。
-
公开(公告)号：CN102401845A
公开(公告)日：2012-04-04
申请号：CN201010283776.0
申请日：2010-09-14
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种高频悬臂式探针卡，包括一电路板、一绝缘针座、多个信号针与至少一接地针，其中，信号针与接地针固接于绝缘针座且各别与电路板的信号电路及接地电路电性连接，又信号针具有一探针本体及一导电膜，导电膜是以电性绝缘方式沿着探针本体的轴向被覆其上而设置，据以降低电容耦合面积，及减少探针本体与导电膜之间的绝缘材料厚度，使得信号针的径向截面积获得减缩，以便有助于信号针更为紧密地排列。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101738509B
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN200810182183.8
申请日：2008-11-24
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种垂直式探针装置，是用以传递高频测试信号及其伴随的接地电位至一待测晶片的电子元件，具有一转接板接收高频测试信号及接地电位，输出后分别由一信号针及至少一补偿针所接收，接地电位传递至补偿针后，通过将补偿针与上、下相互导通的二接地层稳定并有效的电性接触，使接地回路经接地层导通至一接地针以至电子元件所设置的接地电位，使电子元件所接收的高频测试信号维持其特性阻抗。
-
公开(公告)号：CN102236035A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201010170894.0
申请日：2010-04-30
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明是一种可更换电子元件阻抗匹配结构的探针卡，包括有一可受操作而于一压制位置与一未压制位置之间移动的压板，该压板具有一压贴面在压板位于该压制位置时与电子元件的顶端接触，并造成电子元件与设置在一支撑单元上的导电接点电性连接，支撑单元为一电路板或一空间转换器。是以，通过改变压板的位置，即可达到产生压制作用力与否，在压制作用力被移除时，可进行电子元件的更换。
-
公开(公告)号：CN101266262B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200710005669.X
申请日：2007-03-13
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种高速测试卡，包括有一第一及一第二电路板，第一电路板上跳设有多个信号线，可传输中、低频段的测试信号至多个第一探针以对待测集成电路元件中运作于中、低频段的电子元件做电性测试，第二电路板设于第一电路板上且邻近第一电路板的中心，其上布设有电子电路以及与其电性连接的多个转接部，转接部可直接供测试机台电性连接，电子电路可传输高频测试信号至多个第二探针，以对待测集成电路中高速元件做高频电性测试。
-
公开(公告)号：CN100535668C
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200610099301.X
申请日：2006-07-13
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明一种高频探针卡，包括有一电路板、多数条传输线及多数个信号探针，电路板上设有多数个信号线路及接地线路，传输线为双导线的结构，其中一导线用以传递高频信号，另一导线则电性连接于接地线路，电测机台提供高频电测信号至各信号线路后则透过一导线传递高频信号至信号探针，信号传输过程中邻近配合有接地线路及另一导线的设置，可因此有效传递高频信号以维持阻抗匹配的特性，且各传输线可维持仅约一毫米甚至更小的线径，使在电路板上可有多数且低空间密度分布的传输线设置结构，以供作大量电子元件的高频电测。
-
公开(公告)号：CN101221194A
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：CN200710001250.7
申请日：2007-01-09
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种高频探针，具有一金属针及至少一金属线，金属线是布设于金属针上并与之相互电性绝缘，至少一金属线为电性连接至接地电位，可维持信号探针传递高频信号的特性阻抗，并可使高频探针的最大径长维持近似或小于两倍的金属针的径长，可供探针卡上大量设置高频探针以供大量电子元件的探测，有效并快速的对电子元件进行晶圆级电性测试。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
68
records
(took 0.026 seconds)
