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公开(公告)号：CN118565339A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410655313.4
申请日：2024-05-24
申请人： 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号： G01B11/00
摘要： 本发明公开基于机器视觉的杯身焊缝定位装置、自动化系统及方法。所述杯身焊缝定位装置包括：线扫相机。所述线扫相机在所述杯体杯身的扫描线平行于所述杯体杯身的所述杯身焊缝。所述线扫相机用于线扫作自转动作的所述杯体杯身，以得到关于所述杯体杯身的杯身线扫图像。本发明的有益效果在于：利用所述杯身焊缝定位装置，视觉定位所述杯身焊缝，无需人工参与，实现所述杯身焊缝的定位自动化。
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公开(公告)号：CN118299283A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410327216.2
申请日：2024-03-21
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开光伏晶硅电池片SE工艺全画幅高精度检测系统及方法。所述检测系统包括：工业相机组。所述工业相机组与所述光伏晶硅电池片沿着MD方向相对运动。所述工业相机组具有沿着TD方向布置的工业相机。所述工业相机组的相机组视野被配置成：当所述光伏晶硅电池片经过所述工业相机组，所述工业相机组的相机组视野对应于所述光伏晶硅电池片并且在TD方向上完整覆盖所述光伏晶硅电池片，以此获取关于所述光伏晶硅电池片MD方向的电池片拍摄图像序列。本发明的有益效果在于：所述检测系统及方法适用于光伏晶硅电池片SE工艺流程，具备检测精度高、检测范围全面的特点。
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公开(公告)号：CN108447798B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201810397603.8
申请日：2018-04-28
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种硅晶电池蓝膜数据采集装置，包括用于遮蔽外界光线且下端开口的箱体组件，所述箱体组件的下方设有位于被测硅晶电池片下方的背景板，所述箱体组件内设有位于所述被测硅晶电池片上方并照射所述被测硅晶电池片的光源组件，且所述箱体组件内还设有用于对所述被测硅晶电池片拍照的相机。本发明的还公开了一种硅晶电池蓝膜检测系统。本发明的硅晶电池蓝膜检测系统及其图像采集装置，能够实现对硅晶电池蓝膜缺陷的检测，并提高生产效率，降低工人劳动强度和成本。
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公开(公告)号：CN116879316A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202311126103.8
申请日：2023-09-04
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统及方法。基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统包括：机器视觉相机和机器视觉光源。所述机器视觉光源是光纤光源。所述光纤光源包括：光纤阵列。所述光纤阵列具有第一光纤行和相邻于所述第一光纤行的第二光纤行。所述第一光纤行与所述第二光纤行在行方向上呈夹角设置，使得两者照明重叠区域内具有交叉打光的特性。本发明的有益效果在于：基于所述光纤光源具有高指向性、高照度性及交叉打光的结构特性，以此提高所述机器视觉相机对所述膜材表面的缺陷检测精度，特别是针对于MD划伤缺陷、凹凸点缺陷等缺陷类型。
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公开(公告)号：CN116878378A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310761296.8
申请日：2023-06-27
申请人： 浙江大学 , 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种机械臂操纵下的大口径球面光学元件定心和定域方法，采用自动定心和定域装置，包括样品台、机械臂、安装在机械臂上的带有光谱共焦传感器和相机的探头、与光谱共焦传感器电连接的数据采集单元、与数据采集单元电连接的数据分析处理单元，以及用于接收数据分析处理单元的反馈并控制机械臂运动的控制单元；对于大口径球面光学元件来说，通过采集球面上某一同心圆的三个点来自动定心，然后通过采集边缘点来自动定域。本发明简单易行，无需对传感器进行定标，仅需要通过工业机械臂承载光学精密探头进行三维移动，降低机械设计与装配难度，实现光学元件的非接触式、快速、自动定心和定域，适合流水化生产和检测大口径光学元件。
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公开(公告)号：CN116812554A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310712088.9
申请日：2023-06-15
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开一种偏光片整叠分料机及分料方法。所述偏光片整叠分料机包括：分料单元、称重单元、补片单元。所述分料单元用于在分料工位在偏光片整叠中分出偏光片分叠。所述称重单元用于在称重工位确定偏光片分叠的实际重量。所述补片单元用于在补片工位对偏光片分叠进行补片或减片。本发明的有益效果在于：完成自动分料，自动补片的动作，能够精准控制分料数量。通过节约人工的方式，降低成本。通过避免人工接触，减少机损，提高产能。
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公开(公告)号：CN116379974B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310177455.X
申请日：2023-02-28
申请人： 浙江大学 , 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种多波长光源检测光学元件表面特性装置及方法，包括多波长光源模块、高精度运动平台、安装在高精度运动平台上的用于夹持待测光学元件的样品台、散射探测模块、与散射探测模块连接的数据分析处理模块以及用于控制高精度运动平台运动的控制模块；多波长光源模块由多台激光器和对应的多台光功率计组成；光功率计用于实时检测激光器的出射功率，激光器出射的激光光线透射经过分光镜后，再通过对应的二向色镜后同轴照射在待测光学元件表面形成散射光，散射光经散射探测模块收集并通过数据分析处理模块进行分析。利用本发明，可实现光学元件表面散射信号检测，建立与光学元件表面粗糙度检测、损伤阈值的关系。
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公开(公告)号：CN116040955B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310074481.X
申请日：2023-02-07
申请人： 浙江大学 , 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号： C03C15/00
摘要： 本发明公开了一种用于检测系统标定的熔石英表面微纳结构加工方法，包括以下步骤：S1：准备熔石英玻璃基片，依次经过超声机、等离子机清洗后，吹干备用；S2：依次涂覆六甲基二硅氮甲烷、电子束光刻胶、导电胶；S3：采用电子束曝光的方式，将待加工纳米级图形结构转移至表面的电子束光刻胶上；S4：对熔石英玻璃基片进行刻蚀后，洗净熔石英玻璃基片；S5：依次涂覆六甲基二硅氮甲烷、光刻胶；S6：采用激光直写曝光的方式，将待加工微米级图形结构以套刻的形式转移至表面的光刻胶上；S7：对玻璃基片进行刻蚀，洗净玻璃基片，形成最终的玻璃器件结构。利用本发明，可以解决现有标定板中线宽过大、长度无法充满整个幅宽的问题。
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公开(公告)号：CN116718106A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310490736.0
申请日：2023-05-04
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开基于红外光透射的平板显示器偏贴精度检测装置及方法。所述检测装置用于对所述平板显示器的偏贴步骤进行偏贴精度检测。所述偏贴步骤是将偏光片贴附在玻璃面板。所述玻璃面板具有工作区域和围绕在所述工作区域外围的非工作区域。所述检测装置对位于所述玻璃面板的边角区域。所述检测装置包括：红外光面光源、红色低角度光源和视觉相机。所述红外光面光源用于对所述玻璃面板的工作区域打光。所述红色低角度光源用于对所述偏光片的边角轮廓打光。所述视觉相机用于拍摄所述玻璃面板的边角区域，所拍摄到的图像包括：所述玻璃面板的工作区域的边角轮廓和所述偏光片的边角轮廓。本发明的有益效果在于：精确确定所述偏贴步骤的偏贴精度。
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公开(公告)号：CN116119253A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310090387.3
申请日：2023-02-09
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开一种片料机用偏光片真空吸附检测系统及方法。所述检测系统包括：检测段AOI检测组件、检测段输送组件和检测段真空吸附组件。待检偏光片在所述检测段AOI检测组件的AOI检测过程是由所述检测段输送组件进行输送，且输送期间由所述检测段真空吸附组件对所述待检偏光片进行吸附平整。本发明的有益效果在于：由检测段真空吸附组件对待检偏光片进行吸附平整，平整效果佳，进而提高待检偏光片的AOI检测精度。
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