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公开(公告)号：CN106783504B
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201611220290.6
申请日：2016-12-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种离子迁移谱仪。该离子迁移谱仪包括：电源电路，用于提供电源电压；电晕放电结构，其输入端连接到所述电源电路，用于通过电晕放电产生待测离子；离子迁移电路，连接到所述电源电路，用于控制离子迁移；迁移区结构，连接到所述离子迁移电路，用于在所述离子迁移电路的控制下实现对从所述迁移区结构中经过的待测离子的迁移谱的测量；多余电荷引出电极，布置在所述电晕放电结构与所述迁移区结构之间，使得所述电晕放电结构产生的待测离子能够从其中经过，从而到达所述迁移区结构；多余电荷引出电路，连接到所述电源电路、所述电晕放电结构的输入端、所述迁移区结构和所述多余电荷引出电极，其中，所述多余电荷引出电极通过所述多余电荷引出电路接地。
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公开(公告)号：CN105798466B
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201410831981.4
申请日：2014-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： B23K26/38 , B23K26/402 , B28D1/24
CPC分类号： G01T1/2018
摘要： 本发明的陶瓷闪烁体阵列的加工方法具备如下步骤：（a）利用激光在闪烁体基片上在第一方向形成彼此平行并且间隔预定距离的预定数量的平直的第一方向通透切缝；（b）使用粘合剂充分填充所述第一方向通透切缝并使所述粘合剂固化；（c）利用激光在所述闪烁体基片上在与第一方向垂直的第二方向上以预定间隔形成预定数目的彼此平行的第二方向通透切缝；以及（d）使用粘合剂充分填充所述第二方向通透切缝并使所述粘合剂固化。
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公开(公告)号：CN108445111A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201810437372.9
申请日：2018-05-09
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本申请公开一种用于样品检测的闸机系统及样品检验方法。涉及检测分析领域，该闸机系统，包括：容纳装置，用于容纳插入的待测票证；擦拭采样装置，包括擦拭采样带，所述擦拭采样带带动所述待测票证在所述容乃装置内移动，并且对所述待测票证进行擦拭采样；吸气采样装置，用于收集从所述擦拭采样装置上掉落的样品；以及检测装置，用于对所述样品进行检测，输出检测结果。本申请公开的用于样品检测的闸机系统及样品检验方法，适用范围广，能够对难挥发物质进行快速的取样检测。
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公开(公告)号：CN108181326A
公开(公告)日：2018-06-19
申请号：CN201611159090.4
申请日：2016-12-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；计算所述透明度相关向量与所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量之间的距离；以及将所述待测物品识别为与最小距离相对应的物品。本发明基于多能谱X射线成像系统，通过对多能谱物质识别问题的分析，提出了一种物质识别的方法。相对传统双能X射线系统，多能谱成像理论上可以显著提高系统的物质识别能力，特别是在安检应用领域，物质识别能力的提升对于毒品爆炸物等违禁品的查验具有重要意义。
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公开(公告)号：CN108169256A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201611121287.9
申请日：2016-12-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： A61B6/482 , A61B6/02 , A61B6/06 , A61B6/4014 , A61B6/4241 , G01V5/0041
摘要： 本发明提供了一种用于利用多能谱X射线成像系统识别物品的方法和一种用于识别物品的多能谱X射线成像系统，所述方法包括：识别所述物品的应用场景和/或先验信息；根据所识别的应用场景和/或先验信息从所述多能谱X射线成像系统中存储的多个参数模式中选择适合于所述物品的参数模式；以及利用所选择的参数模式来识别所述物品；其中，所述多个参数模式是通过针对各种物品使用训练样本库在特定条件下对所述多能谱X射线成像系统的系统参数进行优化而获得的。本发明提出的多能谱X射线成像系统使得多能谱成像系统能够适应各种不同的应用场景并且实现系统性能与开销之间的平衡。
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公开(公告)号：CN107958435A
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201610901778.9
申请日：2016-10-17
申请人： 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： G06F17/30 , G06K9/00 , G06K9/62 , G06Q50/26 , G07C9/00 , G06Q50/265 , G06F17/30247 , G06K9/00221 , G06K9/00335 , G06K9/00711 , G06K9/00744 , G06K9/6256 , G06K9/6269 , G06K9/6286 , G06K2009/00738 , G06K2209/09
摘要： 公开了一种安检系统及配置安检设备的方法。在实施例中，安检系统可以包括：身份信息录入设备，用于录入受检人的身份标识；参数确定设备，用于基于根据与受检人的身份标识相对应的用户数据而确定的受检人的安全系数，确定针对受检人进行安检的参数；以及安检设备，用于基于所确定的参数，对受检人进行安检。根据本公开的实施例，通过分析和挖掘用户全方位的数据，可以准确地预测用户行为及评估用户的危险性或潜在的危险性，提供更准确的安检方案。
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公开(公告)号：CN107884072A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201610871957.2
申请日：2016-09-30
申请人： 北京固鸿科技有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 西安航天化学动力厂
IPC分类号： G01J5/00
CPC分类号： G01J5/0037
摘要： 本发明公开了一种搅拌釜辐射测温装置和方法。通过将测温装置设在搅拌釜内部，对搅拌混合物发出的毫米波段电磁辐射进行非接触式探测，从而测量搅拌釜混合物内部温度。本方案通过利用混合物自身辐射特性，非接触式测温不干扰搅拌过程，受搅拌釜内尘埃、雾气的影响小，可精确测量混合物内部温度。
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公开(公告)号：CN104515781B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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公开(公告)号：CN104345334B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201310341234.8
申请日：2013-08-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01T3/00
摘要： 本发明涉及阳极丝对中性能改善的中子探测管和中子探测设备。具体地，提供了一种中子探测管，其包括：阴极管，所述阴极管内限定有轴向延伸的管腔，且管腔内壁具有中子敏感材料；阳极丝，所述阳极丝在所述阴极管的管腔中轴向延伸；绝缘套，所述绝缘套的一部分气密密封地沿轴向插入所述阴极管中的一端，而且所述绝缘套内限定有通向所述阴极管的管腔的第一中央内孔；以及同心装置，其被置于所述绝缘套的第一中央内孔中，且被配置成使得所述阳极丝至少在轴向向内穿过所述同心装置后被居中于所述阴极管的中心轴线。本发明还提供了一种中子探测设备，其包括至少一只所述中子探测管；以及用于组合所述中子探测管的阵列组合装置。
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