公开(公告)号：CN102540804B

公开(公告)日：2014-12-31

申请号：CN201110332405.1

申请日：2011-10-28

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 小林久伦 ,  古森慎 ,  尾原光裕

IPC: G03G15/01 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01J3/502 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/04 ,  G01J3/20 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/50 ,  G01J2003/2866

Abstract: 本发明涉及分光比色设备以及包括该分光比色设备的图像形成设备。该分光比色设备包括外壳，该外壳包括侧壁。侧壁的外表面是能够在将所述线性传感器附接到调整表面的同时通过移动调整所述线性传感器的位置的调整表面。线性传感器在邻接调整表面的同时被外壳的侧壁支撑并且接收由凹面反射型衍射元件色散并且通过开口部分的光束。调整表面平行于所述凹面反射型衍射元件的罗兰圆的由所述线性传感器接收的光束通过的部分处的切线。

公开(公告)号：CN102483323B

公开(公告)日：2014-10-22

申请号：CN201080032638.3

申请日：2010-05-21

Applicant: 立那工业股份有限公司

Inventor： 穆尼布·沃贝尔

IPC: G01B11/14

CPC classification number: H01L22/20 ,  G01B11/08 ,  G01J3/28 ,  G01J3/465 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  H01L27/14607 ,  H01L27/14645 ,  H01L27/14683

Abstract: 本发明揭示优化纳米线光电二极管光传感器的直径的方法。该方法包含：比较具有预定直径的纳米线光电二极管像素的回应与标准光谱回应曲线；及决定光电二极管像素的光谱回应与标准光谱回应曲线之间的差异。亦包含具有优化纳米线直径的纳米线光电二极管光传感器及场景重建的方法。

公开(公告)号：CN103221802A

公开(公告)日：2013-07-24

申请号：CN201180054895.1

申请日：2011-11-14

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 松井繁 ,  山村周平 ,  秋山秀之 ,  江畠佳定

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/02 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/2866 ,  G01N21/05 ,  G01N21/3151

Abstract: 在单光束方式的分光光度计，即使光源的光量随时间变动，也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。分光光度计具备：光源；试样池；多色仪，其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池内的试样的光分光为多个波长成分，来生成上述试样的透过光谱；图像传感器，其检测上述试样的透过光谱；光源监视用光检测器，其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及运算部，其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱。

公开(公告)号：CN103217396A

公开(公告)日：2013-07-24

申请号：CN201310009169.9

申请日：2013-01-10

Applicant: 瓦克化学股份公司

Inventor： 汉斯·沃赫纳 ,  罗伯特·鲍曼

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/63

CPC classification number: G01J3/28 ,  C01B33/02 ,  C01B33/021 ,  C01B33/035 ,  C23C16/24 ,  C30B13/00 ,  G01N21/6489

Abstract: 本发明提供了用于测定多晶硅的表面污染的方法，包括以下步骤：a）在西门子反应器中，通过沉积作用提供两个多晶硅杆；b）在沉积作用之后立即测定所述两个杆中第一个的污染物；c）使第二杆通过一个或多个系统，其中进一步加工多晶硅杆从而给出杆片段或多晶硅片段，可选地进行清洁、存储或包装；d）然后测定第二个杆中的污染物；其中在第一和第二个杆中测定的污染物的差异给出由系统和系统环境产生的多晶硅的表面污染。

公开(公告)号：CN103097874A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201180012532.1

申请日：2011-03-04

Applicant: 芬梅卡尼卡股份有限公司

Inventor： 罗伯托·维奥拉 ,  山德罗·门加利 ,  尼古拉·利贝拉托雷 ,  路易吉·皮耶尔

IPC: G01N21/05 ,  G01N21/35 ,  G08B21/14

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/05 ,  G01N21/3504 ,  G08B21/14

Abstract: 本发明提供一种用于监视人在其中移动的界定区域的系统，其中配置有至少一根形成为延伸穿过所述区域(2)的中空光纤(10)，并在其整个长度上具有使所述光纤的内部通道(11)与光纤本身的外部相连通的多个孔(12)。配置有形成为将光信号提供到所述中空光纤(10)的一端部的光源(20)和用于在所述中空光纤的一端部检测贯穿所述光纤本身的长度传输的所述光信号的传感器(24)。配置有用于检查所述传感器(24)所检测到的光信号的光谱以便检测存在于所述区域并被引入到所述通道(11)内的毒剂的存在的处理单元(30)。

公开(公告)号：CN103052343A

公开(公告)日：2013-04-17

申请号：CN201180033877.5

申请日：2011-06-23

Applicant: ITAB物流扫描公司

Inventor： 马格斯·托恩沃尔 ,  卡尔·冯赛多 ,  约翰·摩勒 ,  埃里克·库欧埃 ,  雨果·博伊特恩

IPC: A47F9/04

CPC classification number: A47F9/047 ,  G01J3/28 ,  G01N21/255 ,  G01N21/84 ,  G06Q20/208 ,  G07G1/0054

Abstract: 本发明提供了一种自动化收银台中的用于识别物品(3)的分类装置(2)。该分类装置包括能够存储每个对应于物品标识的数字参考信号的存储器单元(5)和连接到存储器单元(5)处理器(6)，其中，分类装置(2)还包括连接到处理器(6)的光谱传感器(7，24)，其中光谱传感器(7，24)被配置为在将物品(3)放置在重量传感器(4)之前、之上或之后时确定物品(3)的测量信号，并且其中处理器(6)被配置为将测量信号与数字参考信号进行比较，以便将物品(3)识别为存储器单元(5)中的现有物品标识。

公开(公告)号：CN102665534A

公开(公告)日：2012-09-12

申请号：CN201080048921.5

申请日：2010-09-30

Applicant: 格鲁科威斯塔有限公司

Inventor： Y·格利茨

IPC: A61B5/00

CPC classification number: A61B5/14532 ,  A61B5/0086 ,  A61B2560/0252 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J2005/068 ,  G01N21/314 ,  G01N21/3581 ,  G01N2021/3188

Abstract: 公开了一种用于无创伤性检测身体内物质(诸如人体血流中的葡萄糖)的浓度的方法和设备。所述设备通过使用结合一组适当的滤波器检测的红外线来检测由身体发射的远红外范围中的辐射而测量物质浓度。为了实现所需的精度，针对系统构件的发射来校正由检测器检测的辐射值。利用附接到各个系统构件的温度传感器确定每个系统构件的温度，包括检测器温度和环境温度。这些温度与一组预定的校准参数相关联，以校正检测器读数。

公开(公告)号：CN102645425A

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201110041184.2

申请日：2011-02-21

Applicant: 中国检验检疫科学研究院

Inventor： 刘峰 ,  邹明强 ,  李勐 ,  张程 ,  尹峰

IPC: G01N21/65 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01J1/4257 ,  G01J3/28 ,  G01N2201/0221

Abstract: 本专利涉及一种用于便携式激光光谱分析仪器的光机结构，包括底板(1)、激光光源(2)、分光镜(5)、聚焦透镜(4)、接收透镜(8)、光谱检测器(9)及光学元件支架等部分组成；各光学部件支架通过在底板(1)上相应的定位槽(3)进行定位，并通过支架定位面保证光学元件精确定位，支架高度使各光学元件光心位于与底板平行的同一平面中；整个光路结构以分光镜为中心构成交叉结构，仅通过微调分光镜(3)俯仰角和水平摆角对光路进行调校，整个光机结构具有简单、紧凑、稳定、易于调节的特点，适用于基于激光光谱分析的便携式检测仪器使用。

公开(公告)号：CN102121850A

公开(公告)日：2011-07-13

申请号：CN201010586752.2

申请日：2010-11-30

Applicant: 通用电气公司

Inventor： H·李 ,  R·G·布朗 ,  S·达斯古普塔 ,  E·R·富尔龙 ,  N·V·尼尔马兰 ,  A·王 ,  G·王 ,  S·T·沃尔斯

IPC: G01J5/58

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36 ,  G01J3/42 ,  G01J3/443 ,  G01J5/0022 ,  G01J5/0044 ,  G01J5/0088 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0815 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0846 ,  G01J5/0862 ,  G01J5/58

Abstract: 一种热测量系统(10)包括光收集装置(22)；和与该光收集装置(22)通信的检测系统(40、140、240、340)。该检测系统(40、140、240、340)配置成检测来自气体(80)的光(94)强度。本发明已经从特定实施例方面描述，并且认识到除那些明确陈述的之外的等同、备选和修改是可能的，并且在附上的权利要求的范围内。

公开(公告)号：CN101308092B

公开(公告)日：2011-05-18

申请号：CN200710196592.9

申请日：2007-12-05

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 军司昌秀

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/02 ,  G01J3/027 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明可补偿光源发光强度的波动。本发明可利用第1分光部(12、13)将光源发出的光进行分光后，将具有特定的波长(λEx)的激发光入射到样品元件15。利用第2分光部(16、17)将来自样品元件部的光进行分光，并利用荧光检测部18来测定荧光强度(IEm)。另一方面，参照光检测部19检测未经第1分光部选择的光的特定的波长(λR)，将由所述参照光检测部检测出的光强度的输出储存于光谱数据储存部21中。根据光谱数据的激发光波长、参照光波长、参照光强度，算出激发光强度(IEx)。依据经测定的荧光强度(IEm)、经算出的激发光强度(IEx)，求得荧光分光光度计的输出。