形成半导体器件的方法
    72.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1078068A

    公开(公告)日:1993-11-03

    申请号:CN93105438.9

    申请日:1993-04-07

    IPC分类号: H01L21/336 H01L29/784

    摘要: 本发明公开了一种改进了的制造绝缘栅场效应晶体管的方法。该方法包括下列步骤:在绝缘衬底上形成半导体薄膜,在所说半导体薄膜上形成栅绝缘薄膜,在所说的栅绝缘薄膜上形成栅电极,阳极氧化所说栅电极,以形成覆盖栅电极的外表面的氧化物薄膜,按相应的半导体薄膜给栅电极加负电压或正电压。加负电压能有效地消除在正电压进行阳极氧化过程中产生的晶格缺陷和界面态。