一种结构表面缺陷识别方法、系统、终端及介质

    公开(公告)号:CN116485764B

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202310465579.8

    申请日:2023-04-26

    IPC分类号: G06T7/00 G06V10/764

    摘要: 本发明公开了一种结构表面缺陷识别方法、系统、终端及介质,涉及缺陷识别技术领域,其技术方案要点是:对工程结构表面图像进行灰度处理,得到灰度图像;从灰度图像中提取背景灰度图和灰度特征,并依据背景灰度图和灰度特征确定各个像素点的灰度差异区间;从灰度图像中提取形态特征,并采用分类器对形态特征进行分类识别,得到初始的缺陷识别结果;确定形态特征所对应像素区域中的灰度差异区间与相应缺陷类别中灰度差异区间的重合度;从缺陷识别结果中筛选出重合度不小于标准阈值的缺陷类别,得到最终的缺陷识别结果。本发明即可以增强结构表面缺陷识别的适应性,又可以减少误缺陷识别的样本数据,还可以有效提高结构表面缺陷误识别的准确性。