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公开(公告)号：CN1769834B
公开(公告)日：2010-12-22
申请号：CN200510116432.X
申请日：2005-10-20
申请人： 株式会社米姿托约
发明人： 马克·L·德兰尼
CPC分类号： G01N21/8806 , H04N5/2354
摘要： 一种用于产生工件图像采集/检查程序的机器视觉检查系统和方法，该程序可以被有不同硬件能力的不同机器视觉系统分享。每个系统包含用于扫描和测量选取工件特征的可运动载物台，并最好包含控制工件图像有效曝光时间的选通照明。基于与图像模糊有关的功能限制，该程序可以确定各种图像采集参数，例如，载物台速度，选通光功率，选通曝光时间等。因此，基于功能限制，可以确定该系统的最佳图像采集参数，使该程序自动适应任何特定的系统。所以，相同的程序可用在不同的系统上，它一致地提供所需精确度，以及最佳或准最佳处理能力，而与使用哪种视觉系统无关。
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公开(公告)号：CN1841011B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN200610071679.9
申请日：2006-03-28
申请人： 株式会社米姿托约
CPC分类号： H04N5/23293 , G01B11/024 , H04N5/2251
摘要： 本发明提供了手持量测成像系统和方法。在一个实施例中，设备可以包括成像部分、显示部分、信号处理和控制部分、图像捕获激活构件和用户接口。用户接口可以包括可相对于显示部分上的图像配置的用户可调节视频测量工具和视频工具调节构件。测量功能被提供，其操作以基于视频测量工具的配置提供尺寸测量结果。手持设备不仅可以被用于测量传统上已经用例如卡尺或千分尺的传统手持工具测量的通常部件，而且还可以被用于测量难以用传统工具测量的非常小或平的部件。
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公开(公告)号：CN100429483C
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200510083757.2
申请日：2005-03-25
申请人： 株式会社米姿托约
发明人： 约瑟夫·D.·托比亚森 , 米歇尔·M.·米尔维奇 , 迈克尔·M.·纳姆 , 维德亚·文卡塔彻拉姆
CPC分类号： G01D5/34723 , G01D5/268
摘要： 一种使用新颖的光路阵列(OPA)元件，角度选择空间滤光器和图像阵列的位置传感器，其可用于测量同时相对于靶构件在X，Y，Z上的侧转，前倾和转动(6D)的平移和定向，并具有高精确度。靶构件包括由对比性表面环绕的靶点阵列。该位置传感器利用在靶点成像装置中与角选择空间滤光器相结合的OPA元件，以使位置控测器的成像阵列只接收根据可操作锥角α进入OPA元件的光线。因此，每个靶点通常在成像阵列上产生具有一尺寸的环状图像，该尺寸随着每个靶点的Z位置而变化。在成像阵列上的每个靶点图像的X-Y位置随着每个靶点的X-Y位置而变化。因此，在同一图像中分析的三个或更多个点图像可用于确定相对于靶构件的6D测量。可通过已知的方法估算靶构件的X和Y位移，并且其它6D测量组件是在任何位置的绝对测量值。
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公开(公告)号：CN1805542A
公开(公告)日：2006-07-19
申请号：CN200510127288.X
申请日：2005-12-01
申请人： 株式会社米姿托约
发明人： 马克·L.·德兰尼
CPC分类号： G06T7/0004 , G06T2207/30164
摘要： 提供了用于机器视觉检查系统的部分编程的方法和系统，它允许用户很容易地定义学习模式操作过程中的交叉有相关图像的分析和/或检查操作的多个图像获取操作，并且在得到的部分程序图像获取操作中，至少一些图像被安排在以“非交叉”方式获取图像并存储图像的连续运动图像获取序列中，以增加机器视觉检查系统的吞吐量。与存储的图像相关的图像分析/检查操作随后通过再调用存储的图像而被执行。在此披露的编程系统和方法可以自动操作以便利相对不熟练用户对各种工件的快速编程，其中得到程序包括连续运动图像获取序列。
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公开(公告)号：CN1782661A
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN200510118784.9
申请日：2005-10-28
申请人： 株式会社米姿托约
CPC分类号： G06T7/0004 , G06K9/34 , G06K9/4638 , G06K9/6253 , G06K2209/19 , G06T2207/30164
摘要： 我们描述在精密机器视觉检查系统中用于自动恢复失效视频检查工具的方法和系统。一组恢复指令可以与视频工具相联系或合并，从而允许视频工具自动恢复并着手提供初始失效之后的检查结果。恢复指令包含用于评估和改变特征检查参数的操作，这些参数控制工件特征图像的获取并检查工件特征。该组恢复指令可以包含用于调整图像采集参数的初始阶段恢复。若调整图像采集参数不能导致合适的工具操作，则可以调整其他的特征检查参数，例如，工具位置。可以预先确定用于研究多个特征检查参数及其相关特性的顺序，为的是最有效地完成自动工具恢复过程。
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公开(公告)号：CN1769834A
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN200510116432.X
申请日：2005-10-20
申请人： 株式会社米姿托约
发明人： 马克·L·德兰尼
CPC分类号： G01N21/8806 , H04N5/2354
摘要： 一种用于产生工件图像采集/检查程序的机器视觉检查系统和方法，该程序可以被有不同硬件能力的不同机器视觉系统分享。每个系统包含用于扫描和测量选取工件特征的可运动载物台，并最好包含控制工件图像有效曝光时间的选通照明。基于与图像模糊有关的功能限制，该程序可以确定各种图像采集参数，例如，载物台速度，选通光功率，选通曝光时间等。因此，基于功能限制，可以确定该系统的最佳图像采集参数，使该程序自动适应任何特定的系统。所以，相同的程序可用在不同的系统上，它一致地提供所需精确度，以及最佳或准最佳处理能力，而与使用哪种视觉系统无关。
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公开(公告)号：CN1769838B
公开(公告)日：2010-12-22
申请号：CN200510116022.5
申请日：2005-10-25
申请人： 株式会社米姿托约
发明人： 维德亚·文卡塔查拉姆
CPC分类号： G06T5/30 , G06T5/005 , G06T2200/24 , G06T2207/30141 , G06T2207/30164
摘要： 本发明公开一种利用高精确机器视觉计量术过滤图像的结构形态过滤方法，它利用专门确定的结构单元精确地保存过滤图像中具体特征的位置。选取的结构单元形状通常有与过滤图像中被保存的至少部分特征几何相似性。结构单元的取向对应于被检查特征的取向。例如，对于被检查的直线特征，最佳结构单元是相同取向的直线或狭窄矩形，而对于被检查的圆形图像，最佳结构单元是圆形。基于自动确定被检查特征的取向，在一组自动检查操作期间可以自动确定或调整结构单元的取向。
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公开(公告)号：CN1782661B
公开(公告)日：2010-04-14
申请号：CN200510118784.9
申请日：2005-10-28
申请人： 株式会社米姿托约
CPC分类号： G06T7/0004 , G06K9/34 , G06K9/4638 , G06K9/6253 , G06K2209/19 , G06T2207/30164
摘要： 描述在精密机器视觉检查系统中用于自动恢复失效视频检查工具的方法和系统。一组恢复指令可以与视频工具相联系或合并，从而允许视频工具自动恢复并着手提供初始失效之后的检查结暴。恢复指令包含用于评估和改变特征检查参数的操作，这些参数控制工件特征图像的获取并检查工件特征。该组恢复指令可以包含用于调整图像采集参数的初始阶段恢复。若调整图像采集参数不能导致合适的工具操作，则可以调整其他的特征检查参数，例如，工具位置。可以预先确定用于研究多个特征检查参数及其相关特性的顺序，为的是最有效地完成自动工具恢复过程。
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公开(公告)号：CN100595535C
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200510060053.3
申请日：2005-03-31
申请人： 株式会社米姿托约
发明人： 马克·费尔德曼
IPC分类号： G01J9/00
CPC分类号： G01J9/00
摘要： 提供一种辐射测量装置，用于确定来自辐射源的辐射的波长相关的特性。所述辐射测量装置包括波长相关的光学元件(例如带通滤光器)，以及光学功率测量检测器(例如光检测器)。至少一个光束入射到沿着所述装置的光路设置的偏振敏感的反射与/或透射表面上，被所述波长相关的光学元件透射，并被沿着所述光路的光学功率测量检测器接收。所述辐射测量装置还包括沿着所述光路在所述光学功率测量检测器之前设置的线性偏振器。在操作时，所述线性偏振器确保由所述偏振敏感的反射与/或透射表面接收的光束具有基本上固定的偏振状态，而和原始的入射光束的偏振状态无关，借以减少或消除在所述辐射测量装置中的不受控制的偏振相关误差。
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