一种半导体镀膜设备的磁铁组件调节治具

    公开(公告)号:CN117626204A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311701114.4

    申请日:2023-12-12

    发明人: 潘学勤 周云

    IPC分类号: C23C14/35 H01J37/34

    摘要: 本发明公开了一种半导体镀膜设备的磁铁组件调节治具,包括配重组件调节模块、蜗轮模块和磁铁位置调节模块;半导体镀膜设备包括上盖板和下盖板,磁铁位于下盖板上,所述配重组件调节模块包括配重块、第一滑杆和第一蜗杆,所述配重块通过第一蜗杆在第一滑杆上滑动;磁铁位置调节模块包括连接块和第二蜗杆,所述连接块与第二蜗杆螺纹配合;所述蜗轮模块带动第一蜗杆、第二蜗杆转动从而分别调节配重块和下盖板的位置;所述连接块位于上盖板上并穿过下盖板与第二蜗杆连接,所述第一蜗杆、第二蜗杆分别设置有一第一支撑架,本发明的磁铁组件调节治具,可以实现方便的对配重组件调节和磁铁位置调节,从而适应不同的工艺磁场,调节方便快捷。

    电磁控制的物理气相沉积设备

    公开(公告)号:CN115181954B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211109429.5

    申请日:2022-09-13

    IPC分类号: C23C14/35 C23C14/54

    摘要: 本发明涉及电磁控制的物理气相沉积设备,包括腔体、靶材、基座、磁控组件,磁控组件的固定板上安装有多个永磁体,永磁体围成的空间内设置有多个电磁线圈,多个所述电磁线圈串联连接,并通过导电引脚与电源功率控制器串联;线圈组件靠近腔体的腔壁设置,包括至少两组上下设置的次级线圈,各组次级线圈分别与不同的高度调整部相连,高度调整部安装在腔体上磁控组件。本发明产生多个相互配合的辅助磁场,提高靶材中心的磁场强度及分布,改善溅射腔体内部的颗粒污染问题,提高产品的良率,保证稳定的溅射速率和膜层均匀性。

    电阻温度系数趋于零的钴锗合金薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN113481484B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202110745661.7

    申请日:2021-07-01

    发明人: 高政宁 宋维聪

    摘要: 本发明提供一种电阻温度系数趋于零的钴锗合金薄膜的制备方法,该钴锗合金薄膜中,锗的原子百分比含量为15%‑20%,钴锗合金薄膜的电阻温度系数小于200ppm/℃,制备方法包括将生长基底放置于沉积腔室内,依次或者先后向沉积腔室内通入含钴气体和含锗气体,以于生长基底上制备电阻温度系数趋于零的钴锗合金薄膜的步骤。该钴锗合金薄膜电阻温度系数小,此外还具有抗氧化性好,稳定性高等优点,在用于制备诸如接触孔等互连结构时,可以显著提高器件本身的抗温度性能,从而实现在不改变器件设计的情况下,减小器件发热和提高器件性能的效果。且可以采用PECVD和PEALD工艺制备,可以与现有的半导体制备工艺完美融合,有助于降低其制备成本,提高其适用性。

    可调节薄膜应力的溅射设备和方法

    公开(公告)号:CN113416938B

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110978336.5

    申请日:2021-08-25

    IPC分类号: C23C14/35 C23C14/54 C23C14/06

    摘要: 本发明提供一种可调节薄膜应力的溅射设备和方法。设备包括腔体、磁控溅射装置、挡板、晶圆压环、基座及电磁线圈模块;晶圆压环一端与挡板相邻,另一端延伸到基座边缘的上方;基座与偏压电源相连接;电磁线圈模块位于基座内和/或晶圆压环与基座之间,包括多个电磁线圈组,其中,各电磁线圈组包括N极电磁铁和S极电磁铁,单个电磁线圈组中的N极电磁铁相邻设置于S极电磁铁的左侧,且N极电磁铁的N极磁极面和S极电磁铁的S极磁极面同时朝上或朝下;溅射过程中,将多个电磁线圈组分为多个通电单元,沿顺时针或逆时针方向对多个通电单元依次交替进行通断电,以于基底表面沉积薄膜并调节薄膜应力。本发明有助于提高薄膜厚度和应力分布均匀性。

    一种便于位置校准的堆叠结构腔体设备

    公开(公告)号:CN113257718B

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202110634714.8

    申请日:2021-06-08

    IPC分类号: H01L21/67 C23C14/56 C23C16/54

    摘要: 本发明提供一种便于位置校准的堆叠结构腔体设备,涉及半导体高端设备制造技术领域。包括上下堆叠结构腔体、隔层台盘、台盘密封块、底层台盘、校准治具块和校准杆销,台盘密封块可拆卸地安装在台盘通孔内,台盘密封块上开设有密封块校准孔,底层台盘上开设有台盘校准孔,校准治具块可替换台盘密封块安装在台盘通孔内,校准治具块上开设有治具块校准孔,校准杆销用于插入第一校准孔和密封块校准孔、以校准第一机械抓手的位置,还用于插入治具块校准孔、第二校准孔和台盘校准孔、以校准第二机械抓手的位置。这样,利用校准杆销贯穿隔层台盘,且对腔室的性能不产生影响,再结合校准治具块实现对非顶层腔中的机械抓手直接校准,操作方便、且精度高。

    一种半导体镀膜设备的磁铁组件调节治具

    公开(公告)号:CN117626204B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202311701114.4

    申请日:2023-12-12

    发明人: 潘学勤 周云

    IPC分类号: C23C14/35 H01J37/34

    摘要: 本发明公开了一种半导体镀膜设备的磁铁组件调节治具,包括配重组件调节模块、蜗轮模块和磁铁位置调节模块;半导体镀膜设备包括上盖板和下盖板,磁铁位于下盖板上,所述配重组件调节模块包括配重块、第一滑杆和第一蜗杆,所述配重块通过第一蜗杆在第一滑杆上滑动;磁铁位置调节模块包括连接块和第二蜗杆,所述连接块与第二蜗杆螺纹配合;所述蜗轮模块带动第一蜗杆、第二蜗杆转动从而分别调节配重块和下盖板的位置;所述连接块位于上盖板上并穿过下盖板与第二蜗杆连接,所述第一蜗杆、第二蜗杆分别设置有一第一支撑架,本发明的磁铁组件调节治具,可以实现方便的对配重组件调节和磁铁位置调节,从而适应不同的工艺磁场,调节方便快捷。

    气相沉积设备
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115613002A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202211601478.0

    申请日:2022-12-14

    发明人: 马保群 陈涛

    IPC分类号: C23C14/50

    摘要: 本发明涉及气相沉积设备,包括:腔体,基台包括台面和基轴,台面位于腔体内,基轴连接台面下表面,基轴穿过腔体连接有调节板;行星组件包括旋转架,旋转架内周设置有内齿圈,旋转架底面中心与旋转轴心转动连接,旋转轴心安装在支撑板上,旋转轴心位于旋转架内的一端连接有行星架,行星架中心转动连有中心齿轮,行星架的多个端部分别转动连接有行星轮,行星轮分别与内齿圈和中心齿轮啮合;多个旋转升降组件通过固定板相连,旋转升降组件与调节板相接,旋转升降组件通过行星轮的旋转驱动升降;支撑板和固定板通过安装板固定连接于腔体下方。本发明操作简便,实现多点同步调节,提高了基台升降便捷性。

    一种可旋转电连接的插头组件及半导体设备

    公开(公告)号:CN115579701A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211575895.2

    申请日:2022-12-09

    发明人: 马保群 宋维聪

    IPC分类号: H01R39/08 H01R39/34 H01L21/67

    摘要: 本发明提供一种可旋转电连接的插头组件及半导体设备,包括固定部、壳体、定子、第一与第二接线端、转子、第一与第二转动导电杆、第一与第二触点结构、第三与第四接线端,其中,壳体装设于固定部上并设有中心通孔、第一与第二环形凹腔;定子包括第一、第二环形导电组件,第一、第二接线端分别连接第一、第二环形导电组件;第一、第二转动导电杆横向贯穿转子且分别伸入第一、第二环形凹腔内;第一、第二触点结构分别固定连接于第一、第二转动导电杆并分别与第一、第二环形导电组件滑动连接;第三、第四接线端分别与第一、第二转动导电杆连接。采用本发明的可旋转电连接的插头组件可有效避免供电导线破损、断裂导致的漏电、触电、火灾等安全隐患。

    一种PVD镀膜设备
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113430492A

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN202110985070.7

    申请日:2021-08-26

    发明人: 方合 周云 宋维聪

    IPC分类号: C23C14/35 C23C14/50 C23C14/54

    摘要: 本发明提供一种PVD镀膜设备,包括:腔体、溅射单元、基座、承载装置、形变传感器和边缘顶针装置;溅射单元位于腔体上部;基座、承载装置位于腔体内部,承载装置包括承载件和升降机构,承载件位于基座的外围,升降机构与承载件相连接;形变传感器位于腔体内壁,一端电性连接有控制单元;边缘顶针装置有两个,分别与控制单元电性连接,根据控制单元接收到的晶圆形变的信号将镀膜后的晶圆顶起。本发明中的设备保证晶圆只在边缘处接触边缘凸环,减少了晶圆正面的划伤和晶圆碎片,提升良率且有效防止晶圆正面产品被镀;且兼顾镀膜后不同的晶圆翘曲形变,大幅降低晶圆滑落及碎片的几率。