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公开(公告)号：CN109357687B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN201811044220.9
申请日：2018-09-07
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： G01C25/00
摘要： 本发明公开了一种CMOS图像传感器的缺陷检测方法，包括：利用一含有CMOS图像传感器的工业相机采集一张灰卡图像；对灰卡图像进行预处理，获得灰度图；对灰度图中的各像素值进行数据移位处理，获得低位图像；对低位图像中的各像素值进行平均，获得图像均值；将低位图像中的各像素值分别与图像均值进行绝对值计算，获得差异图像；对差异图像中的各像素值进行标准差计算；当获得的标准差大于预设的标准差阈值时，判断CMOS图像传感器芯片存在低位图像底噪超标的缺陷。本发明能很好地解决对高精度图像传感器的测试需求。
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公开(公告)号：CN110336963B
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN201910491736.6
申请日：2019-06-06
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
摘要： 本发明公开的一种动态图像处理系统及图像处理方法，包括相互连接的图像传感器和FPGA，图像传感器包括寄存器模块和图像产生模块，图像产生模块用于产生图像，寄存器模块中存储M种寄存器模式；FPGA包括时钟模块、配置模块和接收处理模块，接收处理模块用于接收图像产生模块发送的图像并对其进行处理，时钟模块中存储M种时钟模式，配置模块中存储M种配置模式；其中，M种寄存器模式、M种时钟模式以及M种配置模式一一对应。本发明提供的一种动态图像处理系统及图像处理方法，通过对FPGA和图像传感器进行动态配置，通过FPGA中配置模块的作用在极短时间内先后改变图像传感器的传输帧率和FPGA的处理速率，从而提升FPGA对图像传感器的处理能力。
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公开(公告)号：CN110460758B
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN201910800440.8
申请日：2019-08-28
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于激光测距点标识的成像装置，包括图像传感器、滤可见光玻璃、激光测距仪、反射镜和镜头，所述镜头和反射镜位于图像传感器和被测物体之间，且所述镜头与被测物体的距离小于反射镜与被测物体的距离；所述滤可见光玻璃闭合时位于图像传感器和镜头之间；所述激光测距仪用于测量被测物体与所述成像装置的距离，所述激光测距仪发射的激光经过反射镜之后与传输至图像传感器的可见光信号保持同一轴心，且被反射到被测物体上。本发明提供的一种基于激光测距点标识的成像装置及成像方法，可以确保激光测距仪测量的对象与图像传感器成像的对象为同一对象，对激光测距仪所测量的对象进行有效校准，且本发明装置结构简单，操作方便。
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公开(公告)号：CN109672879A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811531948.4
申请日：2018-12-14
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明公开了一种调试图像传感器的装置，包括图像传感器、存储模块、外接接口和调试中心；所述图像传感器包括摄像头和FPGA处理中心，所述FPGA处理中心包括读写控制器，所述FPGA处理中心同时连接所述摄像头和外界接口，所述FPGA处理中心中的读写控制器连接所述存储模块，所述外接接口的另一端连接所述调试中心。本发明提供的一种调试图像传感器的装置和方法，能够记录下FPGA运行过程中的信号，在FPGA下电时及在正常的环境下能够追溯FPGA的debug信息，从而对系统进行修改完善，保证项目及系统的正常运行。
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公开(公告)号：CN109246373A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201811283181.8
申请日：2018-10-31
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： H04N5/374
CPC分类号： H04N5/374
摘要： 本发明提供一种调整图像传感器像素排列的方法及装置，所述图像传感器包括像素阵列，所述像素阵列包括沿行方向和列方向重复排列的多个像素组，每个像素组包括多个像素，每个像素组包括n种不同颜色的像素，n为大于等于3的整数，方法包括：依次利用与所述像素组中n种不同颜色的像素相对应的n种不同颜色的光照射所述图像传感器；根据经所述n种不同颜色的光照射所述图像传感器后，所述图像传感器像素阵列中各像素的像素值，确定所述n种不同颜色的像素在各所述像素组中的位置；根据预设像素组中各像素的排列，调整所述图像传感器输出的像素阵列中各像素的位置。本发明提供的方法及装置，可按预设像素组的像素排列调整图像传感器的像素排列。
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公开(公告)号：CN107452762A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710722434.6
申请日：2017-08-22
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/146
摘要： 本发明公开了一种图像传感器感光结构及其制作方法，其特征在于，所述感光结构包括镀膜单元、微型透镜以及感光元件，所述感光元件位于所述微型透镜的正下方，用于接收透过微型透镜的入射光，所述微型透镜的上方覆盖镀膜单元，所述镀膜单元包括至少一种镀膜层；其中，入射光依次经过镀膜单元和微型透镜进入所述感光元件中。本发明提供的一种图像传感器感光结构在微型透镜上沉积镀膜单元，可以增加微型透镜的透射率，增加图像传感器的灵敏度；可以减少微型透镜表面的散射，消除光的散射对相邻像素的影响；可以不借助彩色滤光片和镜头镀膜，利用微型透镜表面镀膜来限制特定入射光波长，增加微型透镜的功能性。
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公开(公告)号：CN109672879B
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201811531948.4
申请日：2018-12-14
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明公开了一种调试图像传感器的装置，包括图像传感器、存储模块、外接接口和调试中心；所述图像传感器包括摄像头和FPGA处理中心，所述FPGA处理中心包括读写控制器，所述FPGA处理中心同时连接所述摄像头和外界接口，所述FPGA处理中心中的读写控制器连接所述存储模块，所述外接接口的另一端连接所述调试中心。本发明提供的一种调试图像传感器的装置和方法，能够记录下FPGA运行过程中的信号，在FPGA下电时及在正常的环境下能够追溯FPGA的debug信息，从而对系统进行修改完善，保证项目及系统的正常运行。
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公开(公告)号：CN110769247A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201911081769.X
申请日：2019-11-07
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种图像传感器测试治具及测试方法，所述治具内部包含圆柱形准直光纤的阵列，所述准直光纤的直径小于图像传感器像素的边长，所述准直光纤阵列中的每个所述准直光纤用于与所述图像传感器中的一个像素对应。本发明只需改变准直光纤阵列的排列方式，就可适用于不同的空间分辨率计算方法，实现不依赖光学镜头即可标定图像传感器分辨率，并能适用于像素尺寸较小的图像传感器的分辨率测试。
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公开(公告)号：CN109357687A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811044220.9
申请日：2018-09-07
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： G01C25/00
摘要： 本发明公开了一种CMOS图像传感器的缺陷检测方法，包括：利用一含有CMOS图像传感器的工业相机采集一张灰卡图像；对灰卡图像进行预处理，获得灰度图；对灰度图中的各像素值进行数据移位处理，获得低位图像；对低位图像中的各像素值进行平均，获得图像均值；将低位图像中的各像素值分别与图像均值进行绝对值计算，获得差异图像；对差异图像中的各像素值进行标准差计算；当获得的标准差大于预设的标准差阈值时，判断CMOS图像传感器芯片存在低位图像底噪超标的缺陷。本发明能很好地解决对高精度图像传感器的测试需求。
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公开(公告)号：CN108961210B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201810509584.3
申请日：2018-05-24
申请人： 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00
摘要： 本发明公开了一种判断图像是否经过算法处理的方法，包括如下步骤：S01：将图像转换为灰度图像，若图像为灰度图像则不做处理，其中，所述图像中不含有规律的几何图形矩阵；S02：计算并得出转换后的灰度图像的三维自相关函数图；S03：根据上述三维自相关函数图的形状判断图像是否经过算法计算。本发明提供的一种判断图像是否经过算法处理的方法，能够简单快速地判断出图像是否经过算法处理。
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