清洁方法和成膜装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119876909A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202411442779.2

    申请日:2024-10-16

    Inventor: 加藤寿

    Abstract: 本发明提供一种技术,在成膜中可将基板支撑部等上形成的膜稳定地除去。清洁方法具有,(A)工序,从处理容器的内部将实施成膜处理的基板搬出,(B)工序,在(A)工序后,在处理容器的内部清洁支撑基板的基板支撑部和/或该基板支撑部的周边部。(B)工序中,在使基板支撑部旋转的同时,以喷嘴机构部的排出口通过基板支撑部的中心的方式,使基板支撑部或喷嘴机构部进行相对移动,且从喷嘴机构部的排出口向基板支撑部和/或该基板支撑部的周边部排出清洁气体,由此,部分清洁基板支撑部和/或基板支撑部的周边部的成膜区域。

    氮化硅膜的成膜方法和成膜装置

    公开(公告)号:CN109385626B

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN201810903937.8

    申请日:2018-08-09

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够形成按照基板的表面形状保形的氮化硅膜的氮化硅膜的成膜方法和成膜装置。一种氮化硅膜的成膜方法,其是在基板的表面上成膜氮化硅膜的氮化硅膜的成膜方法,其具有如下工序:使氯自由基吸附于基板的表面、形成供含有氯的气体保形地吸附于所述基板的表面那样的吸附阻碍区域的工序;使含有硅和氯的原料气体吸附于形成有所述吸附阻碍区域的所述基板的表面的工序;以及向吸附有所述原料气体的所述基板的表面供给被等离子体活性化后的氮化气体而使氮化硅膜堆积的工序。

    成膜装置、成膜方法以及存储介质

    公开(公告)号:CN107686984B

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN201710646572.0

    申请日:2017-08-01

    Inventor: 加藤寿

    Abstract: 本发明涉及成膜装置、成膜方法以及存储介质,在对半导体晶圆例如交替地供给原料气体和反应气体并将反应生成物依次层叠来进行成膜处理时提高生产率的技术。在处理容器(5)内的旋转台(1)上沿周向等间隔地配置能够进行自转的载置台(2)。利用沿周向等间隔地设置的分离部(4)将旋转台的上方区域划分为四个处理区域(S1)~(S4),向隔一个区域配置的处理区域(S1)、(S3)供给原料气体。另外,向处理区域(S2)、(S4)供给反应气体并且产生等离子体。将晶圆(W)载置于各载置台,使旋转台间歇性地进行旋转以使晶圆在各处理区域中依次停止,并且在晶圆位于各处理区域时使载置台进行自转来对各晶圆同时进行所谓的ALD处理。

    基板处理装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107022754B

    公开(公告)日:2020-06-02

    申请号:CN201710060663.6

    申请日:2017-01-25

    Abstract: 一种基板处理装置,其设置在处理容器内,一边于在旋转台的一个面侧载置有基板的状态下使其旋转而使基板公转、一边向该基板供给处理气体而进行处理,其中,该基板处理装置包括:载置台,用于载置所述基板;以及磁力齿轮机构,其具有经由在沿着所述旋转台的旋转轴的方向上延伸的自转轴连结于所述载置台并用于使所述载置台自转的从动齿轮部和用于驱动该从动齿轮部的驱动齿轮部,所述驱动齿轮部以使驱动面和所述从动齿轮的从动面相对的方式配置,为了使形成于所述驱动面和所述从动面之间的磁力线移动而使所述从动齿轮旋转,所述驱动齿轮部连接于使所述驱动面移动的驱动部。

    氮化硅膜的成膜方法和成膜装置

    公开(公告)号:CN109385626A

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201810903937.8

    申请日:2018-08-09

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够形成按照基板的表面形状保形的氮化硅膜的氮化硅膜的成膜方法和成膜装置。一种氮化硅膜的成膜方法,其是在基板的表面上成膜氮化硅膜的氮化硅膜的成膜方法,其具有如下工序:使氯自由基吸附于基板的表面、形成供含有氯的气体保形地吸附于所述基板的表面那样的吸附阻碍区域的工序;使含有硅和氯的原料气体吸附于形成有所述吸附阻碍区域的所述基板的表面的工序;以及向吸附有所述原料气体的所述基板的表面供给被等离子体活性化后的氮化气体而使氮化硅膜堆积的工序。

    等离子体处理装置以及等离子体处理方法

    公开(公告)号:CN104630748B

    公开(公告)日:2018-04-27

    申请号:CN201410646179.8

    申请日:2014-11-14

    CPC classification number: H01J37/3211 H01J37/321 H01J37/32651

    Abstract: 本发明提供一种等离子体处理装置以及等离子体处理方法。该等离子体处理装置配置有连接于高频电源的主天线和相对于该主天线电绝缘的(浮置状态的)辅助天线。另外,在俯视观察主天线以及辅助天线时的各自的投影区域彼此不重合。具体而言,相对于主天线而言将辅助天线配置于旋转台的旋转方向下游侧。而且,借助流通于主天线的感应电流使辅助天线产生电磁场,并且使辅助天线谐振,从而不仅在主天线的下方侧的区域产生感应等离子体,在辅助天线的下方侧的区域也产生感应等离子体。

    基板处理装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107022754A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201710060663.6

    申请日:2017-01-25

    Abstract: 一种基板处理装置,其设置在处理容器内,一边于在旋转台的一个面侧载置有基板的状态下使其旋转而使基板公转、一边向该基板供给处理气体而进行处理,其中,该基板处理装置包括:载置台,用于载置所述基板;以及磁力齿轮机构,其具有经由在沿着所述旋转台的旋转轴的方向上延伸的自转轴连结于所述载置台并用于使所述载置台自转的从动齿轮部和用于驱动该从动齿轮部的驱动齿轮部,所述驱动齿轮部以使驱动面和所述从动齿轮的从动面相对的方式配置,为了使形成于所述驱动面和所述从动面之间的磁力线移动而使所述从动齿轮旋转,所述驱动齿轮部连接于使所述驱动面移动的驱动部。

    成膜装置和成膜方法
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102433547B

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201110303041.4

    申请日:2011-09-29

    Inventor: 加藤寿 竹内靖

    CPC classification number: C23C16/45551 Y02T50/67

    Abstract: 本发明提供成膜装置和成膜方法。成膜装置包括:载置基板的旋转台;第一反应气体供给部,配置在容器内的第一区域,供给第一反应气体;第二反应气体供给部,配置在沿旋转台旋转方向与第一区域分开的第二区域,供给第二反应气体;与第一区域及第二区域相连通地设置的第一排气口及第二排气口;分离气体供给部,配置在第一区域与第二区域之间,供给用于将第一反应气体和第二反应气体分离的分离气体;凸状部,形成用于在分离气体供给部两侧较高地维持与旋转台之间的空间的压力而能分离第一区域和第二区域的包括顶面在内的分离区域;块构件,在分离区域配置在旋转台与容器内侧面之间,在分离区域的旋转方向上游侧在旋转台与容器内侧面之间形成空间。

    成膜装置和成膜方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102776491B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201210147817.2

    申请日:2012-05-11

    Abstract: 本发明提供成膜装置和成膜方法。该成膜装置包括:真空容器,按顺序向其内部多次供给第一处理气体和第二处理气体;旋转台,其具有包括基板载置区域在内的一个表面,使基板载置区域在真空容器内旋转;第一处理气体供给部,向第一区域供给第一处理气体;第二处理气体供给部,向在上述旋转台的周向上隔着分离区域与第一区域分开的第二区域供给第二处理气体;等离子体产生气体供给部,向上述真空容器内供给等离子体产生用气体;天线,其与上述旋转台的上述一个表面相对,利用电感耦合使上述等离子体产生用气体在等离子体空间内产生等离子体;法拉第屏蔽件,其接地,设在上述天线与上述等离子体空间之间,具有在与上述天线正交的方向上排列的多个狭缝。

    成膜方法和成膜装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102787304B

    公开(公告)日:2015-07-29

    申请号:CN201210155103.6

    申请日:2012-05-17

    Abstract: 本发明提供成膜方法和成膜装置。成膜方法包括以下步骤:将基板输入到真空容器内,将基板载置在能旋转地设在真空容器内的旋转台上;使旋转台旋转;吸附步骤,自第1反应气体供给部向基板供给第1反应气体,使第1反应气体吸附于基板;形成步骤,自第2反应气体供给部向基板供给与第1反应气体反应的第2反应气体,使第2反应气体与吸附于基板的第1反应气体反应,在基板上形成反应生成物;向等离子体产生部供给含氢气体,在旋转台的上方生成等离子体,该等离子体产生部在旋转台的周向上与第1反应气体供给部及第2反应气体供给部分开地设置。

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